[發明專利]用于低溫時檢驗的裝置和方法

有效

• 申請號: 200980119787.0
• 申請日: 2009-04-29
• 公開（公告）號: CN102047083A
• 公開（公告）日: 2011-05-04
• 發明（設計）人: 唐納德·戴
• 申請（專利權）人: 丹尼爾度量和控制公司
• 主分類號: G01F25/00
• 分類號: G01F25/00
• 代理公司: 中原信達知識產權代理有限責任公司 11219
• 代理人: 鄒璐;樊衛民

1.一種用于低溫流體的流量儀表檢驗儀，包括：

入口，所述入口直接聯接到傳送低溫流體的管道；

出口，所述出口直接聯接到所述傳送低溫流體的管道；

流管，所述流管聯接在所述入口與所述出口之間；以及

置換器，所述置換器能夠在所述流管的流道中移動；

其中所述流管和所述置換器接納低溫流體。

2.根據權利要求1所述的檢驗儀，還包括：

磁性拾波線圈，所述磁性拾波線圈聯接到所述流管；以及

磁性構件，所述磁性構件聯接到所述置換器，所述磁性構件通過磁阻與所述磁性拾波線圈通信。

3.根據權利要求2所述的檢驗儀，其中所述置換器為活塞，且所述磁性構件為圍繞所述活塞的目標環。

4.根據權利要求1所述的檢驗儀，還包括：

磁性拾波線圈，所述磁性拾波線圈聯接到所述流管；以及

無碳目標構件，所述無碳目標構件聯接到所述置換器，所述無碳目標構件與所述磁性拾波線圈通信。

5.根據權利要求4所述的檢驗儀，其中所述無碳目標構件包括高mu(μ)金屬、HYMU金屬和HYMU?80金屬中的至少一種。

6.根據權利要求4所述的檢驗儀，其中所述無碳目標構件包括鎳、鐵、銅和/或鉬的組合。

7.根據權利要求1所述的檢驗儀，還包括：

一對超聲波收發器，所述超聲波收發器聯接到所述流管且跨過所述流管中的流道傳遞信號，并且

其中所述置換器能夠在所述流道中移動，以中斷信號。

8.根據權利要求1所述的檢驗儀，其中所述流道包括具有微精加工部的內表面。

9.根據權利要求8所述的檢驗儀，其中所述微精加工部維持所述流道內表面與所述置換器之間的低溫流體的微細膜，以用于潤滑。

10.根據權利要求8所述的檢驗儀，其中所述微精加工部在32微英寸至16微英寸的范圍內。

11.根據權利要求8所述的檢驗儀，其中所述微精加工部通過珩磨、磨削及研磨所述內表面中的至少一種方式來實現。

12.根據權利要求1所述的檢驗儀，其中所述置換器包括相對于低溫流體的流動方向成一定角度設置的葉片。

13.根據權利要求12所述的檢驗儀，其中所述置換器為活塞，所述活塞包括沿所述活塞的縱向軸線延伸并相對于該軸線成角度設置的一組內葉片。

14.根據權利要求12所述的檢驗儀，其中所述葉片響應于低溫流體的流動而旋轉所述置換器。

15.根據權利要求1所述的檢驗儀，其中所述低溫流體包括低于約-50°F的溫度。

16.根據權利要求1所述的檢驗儀，其中所述低溫流體包括低于約-220°F的溫度。

17.根據權利要求1所述的檢驗儀，其中所述低溫流體包括液態天然氣(LNG)、液氮、液態丁烷、液態丙烷和液化石油氣(LPG)中的至少一種。

18.一種用于低溫流體的流量儀表檢驗儀，包括：

流管，所述流管具有在所述流管內的流道和安裝在所述流管上的磁性拾波線圈；以及

活塞，所述活塞設置在所述流道中并包括無碳磁性構件；

其中所述活塞能移動，以使所述磁性構件移動經過所述磁性拾波線圈并通過磁阻與所述磁性拾波線圈通信。

19.根據權利要求18所述的檢驗儀，其中所述流道的內表面包括用于維持潤滑流體的微膜的微精加工部。

20.根據權利要求18所述的檢驗儀，其中所述活塞包括一組活塞旋轉葉片。

21.根據權利要求18所述的檢驗儀，還包括：

一對超聲波收發器，所述超聲波收發器設置在所述流管上且跨過所述流道通信；并且

其中所述活塞運動中斷所述超聲波收發器通信。