[發明專利]物體位置推定系統、物體位置推定裝置、物體位置推定方法及物體位置推定程序

有效

• 申請號: 200980119101.8
• 申請日: 2009-10-30
• 公開（公告）號: CN102047073A
• 公開（公告）日: 2011-05-04
• 發明（設計）人: 谷川徹
• 申請（專利權）人: 松下電器產業株式會社
• 主分類號: G01B21/00
• 分類號: G01B21/00;G01S5/00;G06F9/48;G06T7/00
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 劉建

1.一種物體位置推定系統，其具備：

觀測機構，其觀測包括存在于環境內的物體在內的所述環境的狀況，取得第一及第二觀測原始數據；

物體識別機構，其根據預先存儲在物體數據庫中的每個所述物體ID的物體識別數據和所述第一及第二的觀測原始數據各自的觀測原始數據，分別取得所述物體ID及所述物體位置備選，并將取得的所述物體ID及所述物體位置備選的信息分別存儲到觀測數據庫中；

物體識別處理結束時間預測機構，其從所述第一及第二觀測原始數據各自的觀測原始數據取得存在于所述環境內的所述物體的個數，并根據分別取得所述物體的個數的時刻、分別取得的所述物體的個數、和預先存儲的每個所述物體分別取得所述物體ID及所述物體位置備選的物體識別處理所需要的時間，分別預測所述物體識別處理的預定結束時刻，并將所述物體識別處理的預定結束時刻分別存儲到所述觀測數據庫中；

物體位置推定機構，其取得存儲到所述觀測數據庫中的所述物體ID和所述物體位置備選，并根據取得的所述物體ID及物體位置備選、所述物體位置備選的離散狀況，推定所述物體的位置；和

參數決定機構，其在所述物體識別機構結束所述第一觀測原始數據的所述物體識別處理而取得所述物體ID及所述物體位置備選的時刻，參照存儲到所述觀測數據庫中的所述第二觀測原始數據的所述物體識別處理的預定結束時刻，判斷從所述參照的時刻起是否存儲有所述第二觀測原始數據的所述物體識別處理的預定結束時刻，在判斷出存儲有所述第二觀測原始數據的所述物體識別處理的預定結束時刻的情況下，參照預先存儲的每個所述物體進行推定所述物體的位置的位置推定處理所需要的時間，決定在從所述參照的時刻到所述第二觀測原始數據的所述物體識別處理的預定結束時刻的時間內進行所述物體識別處理結束了的所述第一觀測原始數據的所述物體的位置推定處理的參數，另一方面，在判斷出未存儲所述第二觀測原始數據的所述物體識別處理的預定結束時刻的情況下，設定預先設定的成為基準的參數為進行所述物體識別處理結束了的所述第一觀測原始數據的所述物體的位置推定處理的參數，

所述物體位置推定機構使用所述參數決定機構決定的所述參數，從所述物體識別處理結束的數據進行該數據所包含的所述物體的位置推定處理，并根據所述物體識別機構取得的所述物體ID和位置備選推定與所述物體ID相關的所述物體的位置。

2.根據權利要求1所述的物體位置推定系統，其中，

所述物體識別數據為所述物體的形狀信息，

所述觀測原始數據是由相機攝像的圖像數據、由測域傳感器取得的區域數據、或由特征閱讀器取得的位置數據。

3.根據權利要求2所述的物體位置推定系統，其中，

所述相機或所述測域傳感器的物體識別處理為模板匹配處理，

而且，所述物體識別機構將在所述模板匹配處理的過程中輸出的匹配分數記錄到所述觀測數據庫中，

所述參數決定機構按照所述匹配分數高的順序決定進行所述位置推定處理的物體。

4.根據權利要求1或2所述的物體位置推定系統，其中，

所述物體位置推定機構在使用粒子過濾時預先準備每一個物體的處理時間與粒子的個數的關系信息，根據從所述參照的時刻到所述第二觀測原始數據的所述物體識別處理的預定結束時刻的時間算出由所述粒子過濾能夠處理的物體的個數，若算出的物體的個數與通過所述物體識別處理識別出的物體的個數相同，則直接使用粒子過濾進行處理，

在所述算出的物體的個數少于通過所述物體識別處理識別出的物體的個數時，增加每一個物體的所述粒子的個數而進行處理，

在所述算出的物體的個數多于通過所述物體識別處理識別出的物體的個數時，減少每一個物體的所述粒子的個數而進行處理。

5.根據權利要求1～4中任一項所述的物體位置推定系統，其中，

還具備顯示所述物體位置推定機構推定的結果的顯示機構，

所述顯示機構參照所述觀測數據庫顯示下一次的物體識別處理的預定結束時刻來作為下一次的所述物體位置推定機構的推定結果的輸出時刻，并且，顯示為了輸出當前的所述物體位置推定機構的推定結果而采用的觀測原始數據被得到的時刻作為得到當前的所述物體位置推定機構的推定結果的時刻。