[發(fā)明專利]低漏電流和/或低導(dǎo)通電壓的肖特基二極管有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200980112917.8 | 申請日: | 2009-09-03 |
| 公開(公告)號: | CN101999163A | 公開(公告)日: | 2011-03-30 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 吉揚·永;馬蒂·E·加內(nèi)特 | 申請(專利權(quán))人: | 美國芯源系統(tǒng)股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/336 | 分類號: | H01L21/336 |
| 代理公司: | 中科專利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司 11021 | 代理人: | 王波波 |
| 地址: | 美國加利*** | 國省代碼: | 美國;US |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 漏電 通電 肖特基 二極管 | ||
1.一種肖特基二極管,包括:
電子施主摻雜埋層;
陽極;
陰極;和
N阱或N型外延層,所述N阱或N型外延層包括:
第一區(qū)域,所述第一區(qū)域具有施主電子濃度;
第二區(qū)域,所述第二區(qū)域?qū)嵸|(zhì)上與電子施主摻雜埋層相鄰且具有比第一區(qū)域更高的施主電子濃度,其中第二區(qū)域包括注入的磷施主電子;和
第三區(qū)域,所述第三區(qū)域?qū)嵸|(zhì)上與陽極相鄰且具有比第一區(qū)域更低的施主電子濃度,其中第三區(qū)域包括硼。
2.如權(quán)利要求1中所述的肖特基二極管,其中第二區(qū)域配置為降低肖特基二極管的電阻。
3.如權(quán)利要求1中所述的肖特基二極管,其中第三區(qū)域配置為降低肖特基二極管的反向漏電流。
4.如權(quán)利要求1中所述的肖特基二極管,其中所述陽極和所述陰極分別包括鈦、氮化鈦或者鈷中的至少一種。
5.如權(quán)利要求1中所述的肖特基二極管,其中N阱或者N型外延層進一步包括:
第四區(qū)域,所述第四區(qū)域?qū)嵸|(zhì)上與陰極相鄰,且具有比第一區(qū)域更高的施主電子濃度;
電介質(zhì)場氧化物區(qū)域,所述電介質(zhì)場氧化物區(qū)域形成為圍繞陽極的環(huán)形結(jié)構(gòu);和
P型區(qū)域,所述P型區(qū)域形成為圍繞陽極的環(huán)形結(jié)構(gòu),其中擊穿電壓取決于P型區(qū)域的摻雜。
6.如權(quán)利要求1中所述的肖特基二極管,其中以20KeV到50KeV范圍內(nèi)的能量,以5*1011/cm2到5*1012/cm2范圍內(nèi)的劑量注入硼,且其中以600KeV到2MeV范圍內(nèi)的能量,以5*1011/cm2到5*1012/cm2范圍內(nèi)的劑量注入磷施主電子。
7.如權(quán)利要求1中所述的肖特基二極管,其中第二區(qū)域從至少局部與陽極對準(zhǔn)的區(qū)域延伸到至少局部與陰極對準(zhǔn)的另一區(qū)域。
8.一種肖特基二極管,包括:
電子施主摻雜埋層;
陽極;
陰極;和
N阱或者N型外延層,所述N阱或者N型外延層包括:
第一區(qū)域,所述第一區(qū)域具有第一施主電子濃度,和
以下二者中的至少一個,或二者都包括:
相對較深的區(qū)域,所述相對較深的區(qū)域?qū)嵸|(zhì)上與電子施主摻雜埋層相鄰且具有比第一施主電子濃度更高的施主電子濃度,
相對較淺的區(qū)域,所述相對較淺的區(qū)域?qū)嵸|(zhì)上與陽極相鄰且具有比第一施主電子濃度更低的施主電子濃度。
9.如權(quán)利要求8中所述的肖特基二極管,其中N阱或者N型外延層包括相對較深的區(qū)域,且其中所述相對較深的區(qū)域包括注入的磷施主電子。
10.如權(quán)利要求8中所述的肖特基二極管,其中所述N阱或者N型外延層包括相對較淺的區(qū)域,且其中所述相對較淺的區(qū)域包括注入的硼。
11.如權(quán)利要求8中所述的肖特基二極管,其中N阱或者N型外延層包括相對較深的區(qū)域和相對較淺的區(qū)域,其中所述相對較深的區(qū)域包括注入的磷施主電子,且其中所述相對較淺的區(qū)域包括注入的硼。
12.如權(quán)利要求11中所述的肖特基二極管,其中注入的磷施主電子是以600KeV到2MeV范圍內(nèi)的能量,以5*1011/cm2到5*1012/cm2范圍內(nèi)的劑量被注入的,且其中注入的硼是以20KeV到50KeV范圍內(nèi)的能量,以5*1011/cm2到5*1012/cm2范圍內(nèi)的劑量被注入的。
13.如權(quán)利要求8中所述的肖特基二極管,其中陽極和陰極都是由低勢壘高度金屬形成的。
14.如權(quán)利要求8中所述的肖特基二極管,其中N阱或者N型外延層進一步包括:
第二相對較淺的區(qū)域,所述第二相對較淺的區(qū)域?qū)嵸|(zhì)上與陰極相鄰且具有比第一施主電子濃度更高的施主電子濃度;和
P型區(qū)域,所述P型區(qū)域形成為圍繞陽極的環(huán)形結(jié)構(gòu)。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于美國芯源系統(tǒng)股份有限公司,未經(jīng)美國芯源系統(tǒng)股份有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/200980112917.8/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





