[發明專利]圖像形成設備

有效

• 申請號: 200980111696.2
• 申請日: 2009-04-10
• 公開（公告）號: CN101981517A
• 公開（公告）日: 2011-02-23
• 發明（設計）人: 久保健太;山本毅;原口真奈實;宮澤知明;堀江壽云
• 申請（專利權）人: 佳能株式會社
• 主分類號: G03G15/06
• 分類號: G03G15/06;G03G5/08;G03G9/10;G03G9/113
• 代理公司: 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所 11038
• 代理人: 魏小薇

技術領域

本發明涉及電子照相圖像形成設備，并且具體地講，涉及適合于高靜電電容的圖像承載部件的圖像形成設備。

背景技術

近年來，根據圖像形成設備的技術的進步，電子照相復印機等預期進入打印市場。然而，為了全面進入打印市場，使圖像的質量和穩定性大大高于現有的圖像的質量和穩定性是一個必要的要求。

直到今天，已經積極地進行了改善圖像質量的各種方法，在這些方法中，開始采取一種獲得圖像承載部件的方法。決定圖像質量的一個重要因素是圖像承載部件上的靜電潛像。靜電潛像是通過將已經借助一次充電器充電至暗電位VD的圖像承載部件上的曝光部分通過激光曝光衰減至明電位VL而形成的。

此處，將詳細地說明靜電潛像的一般形成過程。

圖1是作為圖像承載部件的一般有機光電導體(OPC)的層構造。

也就是說，電荷產生層103、電荷運輸層102以及表面層101通過內涂層104在支持部件105上層疊。曝光光在電荷產生層103中被吸收，以產生電荷載流子。這樣產生的電荷載流子被注入電荷運輸層2，從而它們在電荷運輸層2中移動以便中和暗電位VD。其結果是，曝光部分被衰減至明電位VL，由此形成靜電潛像。一般來講，已知當圖像承載部件的膜厚度厚時，其上形成的靜電潛像劣化。如果靜電潛像劣化，則點再現性也變差，從而當然不可能獲得所期望的高質量圖像。

因此，作為獲得高圖像或圖片質量的圖像承載部件的方法之一，執行圖像承載部件的膜厚度的薄化。根據發明人的研究已經發現，為了達到OPC中允許的點再現性，膜厚度應等于或小于20μm(在下文中被稱為薄膜OPC)。

另一方面，開始采取非晶硅感光部件(在下文中被稱為α-Si感光部件)作為獲得高圖片質量的另一種方法。圖2是α-Si感光部件的層構造。該α-Si感光部件包括通過電荷(空穴)阻擋層114層疊在支持部件115上的電荷產生層113、電荷(電子)阻擋層112以及表面層111。如圖2所示，α-Si感光部件可以在表面層111的附近創建電荷產生層113，從而其可以高程度地抑制電荷的擴散。

根據本發明人的研究已經發現，膜厚度應為60μm或更小，以便實現α-Si感光部件中允許的點再現性。此外，已經發現與OPC相比，α-Si感光部件的硬度非常高，因此其具有打印市場中所要求的足夠可允許的級別的持久性。

如上所述，選取圖像承載部件中的電荷運輸層的膜厚度的薄化以及α-Si感光部件的使用，作為在電子照相圖像形成設備中獲得高圖片質量的方法?？梢赃@樣說：在這些方法中，α-Si感光部件能夠輸出可與打印級別相比較的高質量的圖片，并且同時具有打印市場中所要求的優秀的持久性。

此處，請注意，作為使用α-Si感光部件的圖像形成設備，例如在專利文獻1中有描述。

引用列表

[專利文獻1]日本專利申請特開No.2002-258587

發明內容

然而，α-Si感光部件易于遭受顯影未被正常終止的“充電缺陷”。在下文中，將討論“充電缺陷”。

圖3示出了圖像部分中最高濃度部分(下文中稱為純色(solid)部分)中的潛像電位。對純色部分的明電位V_L施加輸出最高濃度所需的顯影偏壓。此時施加的顯影偏壓被稱為Vdc，并且Vdc和V_L之間的差被稱為顯影對比度(development?contrast)(Vcont)。以這樣的方式進行純色部分的顯影：由正被顯影的調色劑產生的電位(在下文中被稱為充電電位(ΔV))可以滿足(fill)顯影對比度(Vcont)。然后，當充電電位已經增大到(fill?out)Vcont的時刻，顯影正常終止(圖4)。在此，V_D表示非圖像部分中的暗電位，并且，暗電位V_D與顯影偏壓Vdc的直流分量之間的差被稱作霧化去除電位。

然而，如果使用α-Si感光部件，則以這樣的狀態完成顯影：如圖5所示，即使在顯影終止時，充電電位也還沒完全增大到Vcont。這樣的現象被稱為“充電缺陷”。

現在，將說明為什么α-Si感光部件易于導致充電缺陷的原因。理論上，由正被調色劑顯影的潛像產生的充電電位由ΔVth表示，如下述等式1所示。

等式1：

ΔVth=ΔVt+ΔVc]]>