[發明專利]偏光薄膜的檢查方法

無效

• 申請號: 200980111518.X
• 申請日: 2009-03-26
• 公開（公告）號: CN101981438A
• 公開（公告）日: 2011-02-23
• 發明（設計）人: 篠塚淳彥;笠井利行;山根尚德
• 申請（專利權）人: 住友化學株式會社
• 主分類號: G01N21/892
• 分類號: G01N21/892
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 李偉;王軼

1.一種偏光薄膜的檢查方法，其特征在于，包括：

用缺陷檢查裝置對帶狀的偏光薄膜進行缺陷的檢出的工序；

基于缺陷的檢出結果制作出表示缺陷的位置的缺陷位置數據并保存到存儲介質中的缺陷位置記錄工序；

在進行了所述缺陷的檢出之后將帶狀的偏光薄膜卷繞到滾筒上的工序；

從所述滾筒拉出帶狀的偏光薄膜的工序；

對已被拉出的帶狀的偏光薄膜層疊其它薄膜的工序；

在層疊了其它薄膜后，讀入保存在存儲介質中的缺陷位置數據，且基于讀入的缺陷位置數據來確定偏光薄膜的缺陷位置，并基于已確定的缺陷位置而在所述其它薄膜上的缺陷的附近位置上形成記號的記號形成工序。

2.如權利要求1所述的偏光薄膜的檢查方法，其特征在于，

在所述缺陷位置記錄工序中，基于缺陷的檢出結果，對多個區域中的含缺陷區域的偏光薄膜寬度方向端部，印刷用于識別含缺陷區域的識別碼，作為所述缺陷位置數據，制作出表示含缺陷區域內的缺陷位置的缺陷位置數據并與各個含缺陷區域建立對應地保存到存儲介質中，所述多個區域是用沿著偏光薄膜的寬度方向形成的分割線將帶狀的偏光薄膜的整個區域進行分割而成，

在所述記號形成工序中，讀出偏光薄膜上的識別碼，并基于與由讀出的識別碼識別的區域建立了對應的缺陷位置數據來確定偏光薄膜的缺陷位置。

3.如權利要求2所述的偏光薄膜的檢查方法，其特征在于，還包括在印刷所述識別碼之前對所述偏光薄膜的寬度方向端部實施電暈放電處理的工序。

4.如權利要求1至3中任一項所述的偏光薄膜的檢查方法，其特征在于，在形成所述記號的工序中，使用以在所述偏光薄膜的寬度方向端部排列多個的方式配置的劃線器來形成記號。