[發明專利]X射線透視圖像中的云紋去除方法及使用該方法的X射線攝像裝置

有效

• 申請號: 200980103310.3
• 申請日: 2009-01-22
• 公開（公告）號: CN101925332A
• 公開（公告）日: 2010-12-22
• 發明（設計）人: 馬場新悟
• 申請（專利權）人: 株式會社島津制作所
• 主分類號: A61B6/06
• 分類號: A61B6/06;A61B6/00
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 李貴亮

技術領域

本發明涉及一種通過X射線濾線柵(グリツド)和排列圖案與FPD的檢測元件排列圖案發生干涉而寫入到X射線透視圖像的云紋的去除方法及使用該方法的X射線攝像裝置，尤其涉及在含有缺損像素的X射線透視圖像中所寫入的云紋之去除技術。

背景技術

在對被檢體的X射線透視圖像進行攝像的X射線攝像裝置中有以下裝置，該裝置具備照射圓錐形(コ一ン狀)X射線束的X射線源、及對該X射線束進行檢測的平板探測器(略記為FPD)。FPD具有將X射線檢測元件二維地排列的X射線檢測面。

但是，由X射線源所照射出的X射線會被被檢體散射，且FPD所入射的散射X射線會導致X射線透視圖像之對比度(コントラスト)的惡化。為了使這樣的散射X射線不入射到FPD，在X射線攝像裝置中將排列有長條狀(短冊狀)金屬箔的片狀X射線濾線柵按照覆蓋FPD的X射線檢測面的方式設置。

通常，FPD的檢測元件之排列間距(ピツチ)和X射線濾線柵的金屬箔之排列間距不相同。因此，在X射線透視圖像中寫入了兩個間距彼此干涉而產生的云紋。所以在現有的X射線攝像裝置中，為了去除云紋，對圖像的頻率進行分析，將云紋的頻率成分去除，而進行圖像的再構成。

但是，有時在FPD的檢測面上會有由于半導體元件的缺陷等原因而不能檢測X射線的檢測元件產生。這種缺陷有時侯由柵極驅動(ゲ一トドライブ)或讀出晶體管的故障引起，因此在串聯的檢測元件全部中就變得不能檢測，且在X射線透視圖像中表現出白色或黑色的缺損像素并列的直線。若對于具有這種直線的X射線透視圖像進行上述的云紋去除運算則由于缺損像素而云紋條紋(モアレ)的規則性被打亂，因此在運算后的圖像中會呈現由缺損像素排列的直線、和該直線在云紋的排列方向上滲入擴展的重影(ゴ一スト)，從而X射線透視圖像的可見性降低。

作為以解決這種問題為目標的圖像處理方法，具有暫時對缺損像素進行補充的方法。該方法，例如在專利文獻1中被公開。即，就現有的圖像處理方法而言，如圖10(a)中所示，通過參照與缺損區域L所鄰接的像素之像素值，對缺損區域L進行補充。另外，在缺損區域L在云紋的暗部區域D的延伸方向上排列的情況下，由于應當在缺損區域L中呈現的云紋和在與其鄰接的像素中呈現的云紋產生錯位，因此不能使用圖10(a)所示的方法，取而代之，如圖10(b)中所示，采用如下結構：對與成為補充對象的缺損像素a鄰接的區域中的、在云紋的排列方向(x方向)上所串聯的左右的像素E1、E2進行統計處理而推算出最合適的像素值，并將該像素值代入缺損區域。

專利文獻1：JP特開2002-330341號公報

不過，根據現有的方法，在缺損區域L在云紋的延伸方向(y方向)上延伸的情況下[參照圖10(b)]，進行了忽視云紋條紋規則性的缺損區域L之補充。其結果，由于缺損像素的補充而云紋條紋的規則性被打亂。根據現有的結構，對缺損區域L中的在y方向上所串聯的左右像素E1、E2進行統計處理而推算出最合適的像素值。在該統計處理中，對缺損區域L的左右像素E1、E2中的像素值進行檢定，來進行用于推定最適合缺損區域L之補充的像素值的最佳推定。就該最佳推定而言，是簡單地根據像素值偏差(バラツキ)來進行的，所以當然就會忽視像素的順序，且云紋條紋的規則性不會在處理圖像中加入。

在圖11中表示該問題點。為簡單起見，采用以下設定：在X射線透視圖像中不取入被檢體的像而僅寫入云紋；在圖像處理前的X射線透視圖像中，如圖11(a)中所示，在原來云紋的暗部區域D呈現的位置有直線狀的缺損區域L延伸存在(延在)。此時，在補充缺損區域L的像素值中最適當的是暗部區域D的像素值。不過，由現有結構的最佳推定所得的像素值并不一定是暗部區域D的像素值。因此，在圖像處理結束后的圖像中，如圖11(b)中所示，暗部區域D和缺損像素補充后的區域L1之像素值就不同，所以云紋條紋的規則性被打亂。若對該缺損像素補充后的圖像例如進行頻率分析而去除云紋，則云紋條紋的規則性被打亂，因此如圖11(c)中所示，呈現缺損像素的痕跡L2、和該痕跡L2在云紋的排列方向上滲入擴展的重影L3。

發明內容

本發明是鑒于這種情況而提出的，其目的在于提供一種即使是具有缺損像素的X射線透視圖像、也不會打亂云紋條紋之規則性而對缺損像素進行預備補充且確實沒有缺損像素的痕跡和其重影產生的X射線透視圖像中的云紋去除方法，以及采用該去除方法的X射線攝像裝置。

本發明，為了實現這樣目的，采取如下結構。