[發(fā)明專利]半導(dǎo)體元件及其制造方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200980102800.1 | 申請日: | 2009-01-08 |
| 公開(公告)號: | CN101933148A | 公開(公告)日: | 2010-12-29 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 齊藤裕一;守口正生;河野昭彥 | 申請(專利權(quán))人: | 夏普株式會社 |
| 主分類號: | H01L29/786 | 分類號: | H01L29/786;G02F1/1368;H01L21/336;H01L29/417;H01L29/423;H01L29/49 |
| 代理公司: | 北京市隆安律師事務(wù)所 11323 | 代理人: | 權(quán)鮮枝 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 半導(dǎo)體 元件 及其 制造 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及半導(dǎo)體元件及其制造方法。
背景技術(shù)
液晶顯示裝置等所用的有源矩陣基板按每個像素具備薄膜晶體管(Thin?Film?Transistor;以下稱為“TFT”)等開關(guān)元件。作為這樣的開關(guān)元件,以前廣泛采用將非晶硅膜作為活性層的TFT(以下稱為“非晶硅TFT”)、將多晶硅膜作為活性層的TFT(以下稱為“多晶硅TFT”)。
多晶硅膜的電子及空穴的遷移率比非晶硅膜的遷移率高,因而多晶硅TFT具有比非晶硅TFT高的導(dǎo)通電流,可進行高速動作。因此,當(dāng)用多晶硅TFT形成有源矩陣基板時,不僅能使用多晶硅TFT作為開關(guān)元件,而且能將其用于驅(qū)動器等周邊電路。因此,具有能在同一基板上一體形成驅(qū)動器等周邊電路的一部分或全部和顯示部的優(yōu)點。另外,還具有能以較短的開關(guān)時間對液晶顯示裝置等的像素電容進行充電的優(yōu)點。
但是,當(dāng)要制造多晶硅TFT時,除需要進行用于使非晶硅膜晶化的激光晶化工序以外,還需要進行熱退火工序、離子摻雜工序等復(fù)雜的工序,存在基板的每單位面積的制造成本變高的問題。因而,多晶硅TFT主要用于中型和小型的液晶顯示裝置。
另一方面,非晶硅膜比多晶硅膜容易形成,因而利于大面積化。因此,非晶硅TFT適用于需要大面積的裝置的有源矩陣基板。盡管具有比多晶硅TFT低的導(dǎo)通電流,非晶硅TFT仍然用于很多液晶電視的有源矩陣基板。
然而,當(dāng)使用非晶硅TFT時,因為非晶硅膜的遷移率低,所以其高性能化受到限制。特別是近幾年對于液晶電視等液晶顯示裝置除強烈要求大型化之外,還強烈要求高畫質(zhì)化和低功耗化,非晶硅TFT難以充分應(yīng)對這樣的要求。
因此,為了在抑制制造工序數(shù)量、制造成本的情況下實現(xiàn)更高性能的TFT,正在嘗試使用非晶硅、多晶硅以外的材料作為TFT的活性層的材料。專利文獻1、專利文獻2和非專利文獻1中提出用微晶硅(μc-Si)膜形成TFT的活性層。這樣的TFT稱為“微晶硅TFT”。
微晶硅膜是在內(nèi)部具有微晶粒的硅膜,微晶粒的晶界主要是非晶相。即,具有微晶粒和非晶相的混合狀態(tài)。各微晶粒的尺寸比多晶硅膜中包含的晶粒的尺寸小。還有,后面詳述,在微晶硅膜中,各微晶粒具有例如從基板面按柱狀生長的柱狀形狀。
微晶硅膜可只通過采用等離子CVD法等的成膜工序來形成。作為原料氣體,可采用用氫氣稀釋了的硅烷氣體。在形成多晶硅膜時,用CVD裝置等形成非晶硅膜之后,需要利用激光、熱使非晶硅膜晶化的工序(退火工序)。相比之下,在形成微晶硅膜時,可利用CVD裝置等形成包含基本結(jié)晶相的微晶硅膜,因而能省去利用激光、熱的退火工序。這樣,以比多晶硅膜的形成所需的工序數(shù)量少的工序數(shù)量來形成微晶硅膜,因而能以與非晶硅TFT相同程度的生產(chǎn)率,即相同程度的工序數(shù)量和成本來制造微晶硅TFT。還有,也可以利用用于制造非晶硅TFT的裝置來制造微晶硅TFT。
微晶硅膜具有比非晶硅膜高的遷移率,因而用微晶硅膜能獲得比非晶硅TFT高的導(dǎo)通電流。還有,微晶硅膜不用像多晶硅膜那樣進行復(fù)雜的工序就能形成,因而大面積化也容易。
專利文獻1中記載了用微晶硅膜作為TFT的活性層來獲得非晶硅TFT的1.5倍的導(dǎo)通電流的情況。還有,非專利文獻1中記載了用由微晶硅和非晶硅構(gòu)成的半導(dǎo)體膜來獲得導(dǎo)通/截止電流比為106、遷移率為約1cm2/Vs、閾值為約5V的TFT。該遷移率是非晶硅TFT的遷移率的同等以上。另外,在非專利文獻1所記載的TFT中,為了降低截止電流,在微晶硅層上形成了非晶硅層。
再有,專利文獻2中披露了采用微晶硅的反交錯型的TFT。
專利文獻1:日本特開平6-196701號公報
專利文獻2:日本特開平5-304171號公報
非專利文獻1:Zhongyang?Xu等“A?Novel?Thin-film?TransistorsWith?μc-Si/a-Si?Dual?Active?Layer?Structure?For?AM-LCD”ID?W′96Proceedings?of?The?Third?International?Display?Workshops?VOLUME1,1996,p.117-120
發(fā)明內(nèi)容
發(fā)明要解決的問題
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于夏普株式會社,未經(jīng)夏普株式會社許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/200980102800.1/2.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L29-00 專門適用于整流、放大、振蕩或切換,并具有至少一個電位躍變勢壘或表面勢壘的半導(dǎo)體器件;具有至少一個電位躍變勢壘或表面勢壘,例如PN結(jié)耗盡層或載流子集結(jié)層的電容器或電阻器;半導(dǎo)體本體或其電極的零部件
H01L29-02 .按其半導(dǎo)體本體的特征區(qū)分的
H01L29-40 .按其電極特征區(qū)分的
H01L29-66 .按半導(dǎo)體器件的類型區(qū)分的
H01L29-68 ..只能通過對一個不通有待整流、放大或切換的電流的電極供給電流或施加電位方可進行控制的
H01L29-82 ..通過施加于器件的磁場變化可控的





