[發明專利]光學頭、帶衍射光柵的光學元件、光盤裝置及信息處理裝置

有效

• 申請號: 200980100803.1
• 申請日: 2009-08-11
• 公開（公告）號: CN102741923A
• 公開（公告）日: 2012-10-17
• 發明（設計）人: 山崎文朝;金馬慶明;東條友昭
• 申請（專利權）人: 松下電器產業株式會社
• 主分類號: G11B7/126
• 分類號: G11B7/126;G11B7/1353
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 李貴亮

技術領域

本發明涉及一種對光盤等信息記錄媒體進行信息的記錄或再生的光學頭、具備該光學頭的光盤裝置、具備該光盤裝置的信息處理裝置以及將激光引導至生成用于控制光源輸出的自動功率控制信號的光檢測器中的帶衍射光柵的光學元件。

背景技術

對光盤等信息記錄媒體進行信息的記錄或再生的光學頭具備對從光源射出的激光的一部分進行檢測的前監控傳感器(front?monitor?sensor)，以便尤其在記錄時更準確地控制從光源射出的激光的輸出。該前監控傳感器的檢測信號為APC(Auto?Power?Control：自動功率控制)信號。APC信號被反饋給控制光源輸出的控制部。APC信號用于控制光源的輸出，以獲得信息的記錄及/或再生所必需的適當功率。

然而，當從光源射出的激光例如由準直透鏡(Collimator?Lens)等轉換為平行光時，在平板型分束器或平板型反射鏡透過或反射后朝向前監控傳感器的激光的光軸與在平板型分束器或平板型反射鏡中經內部反射后朝向前監控傳感器的激光的光軸變得彼此平行而引起干涉。結果導致前監控傳感器的APC信號不與光源的輸出準確地成正比。

圖17是表示在以往的平板型分束器的透過光及反射光的情況的圖。例如，如圖17所示，從準直透鏡的有效區域內射出的平行光P1射入平板型分束器105。此時，平行光P1被分割為由第1面105a所反射的反射光R與透過第1面105a和第2面105b后朝向前監控傳感器的透過光T1。此外，從準直透鏡的另一有效區域內射出的平行光P2透過第1面105a之后，由第2面105b反射。進而，由第2面105b反射的平行光P2在由第1面105a反射之后，透過第2面105b作為透過光T2而射出。

此時，如果平行光P1的光軸與平行光P2的光軸彼此平行，且平板型分束器105的第1面105a與第2面105b彼此平行，則透過光T1的光軸與透過光T2的光軸變得彼此平行，在前監控傳感器的有效區域內引起干涉。因此，即便使光源的輸出呈線性變化，由前監控傳感器檢測并被轉換為電信號的APC信號也不會呈線性變化。

如上所述，在使平行光射入光射入面與光射出面平行的平板型分束器或平板型反射鏡中的光學結構中，難以準確地控制光源的輸出。

因此，日本專利公開公報特開2004-5944號(以下稱為“專利文獻1”)公開一種光拾取器(optical?pick-up)，該光拾取器采用使會聚光或發散光射入平板型分束器中的光學結構，從而抑制平板型分束器內的內部反射所引起的激光的干涉。而且，專利文獻1還公開一種采用楔型分束器來抑制分束器內的內部反射所引起的激光干涉的光拾取器。

對于專利文獻1中所示的以往的光拾取器，使用圖18進行說明。圖18是表示以往的光拾取器的概略結構的圖。

在圖18中，光拾取器150包括射出波長各不相同的光的第1及第2光源110、120；平板型分束器125；配設在第1及第2光源110、120與平板型分束器125之間的第1及第2準直透鏡114、124；前監控傳感器126；反射鏡127；以及物鏡129。

在以往的光拾取器150中，前監控傳感器126用于檢測APC信號。此時，第1準直透鏡114被配置成，將從第1光源110作為發散光而射出的激光轉換為會聚光或發散光。亦即，第1準直透鏡114配置成，與將從第1光源110射出的激光改變為平行光的位置相比，向更靠近第1光源110的位置或者更遠離第1光源110的位置移動的狀態。

例如，使用圖19說明通過第1準直透鏡114將從第1光源110射出的激光轉換為發散光的情況。圖19是表示圖18所示的以往的光拾取器的平板型分束器的透過光及反射光的情況的圖。

在圖19中，平板型分束器125包括從第1光源110射出的激光所射入的第1面125a以及與第1面125a相對的第2面125b。從第1準直透鏡114的有效區域內射出的發散光Q3射入平板型分束器125。此時，發散光Q3被分割為由第1面125a反射的反射光R與透過第1面125a和第2面125b后朝向前監控傳感器126的透過光T3。另外，從第1準直透鏡114的另一有效區域內射出的發散光Q4在透過第1面125a之后，由第2面125b反射。進而，由第2面125b反射的發散光Q4在由第1面125a反射之后，透過第2面125b作為透過光T4而射出。