[發明專利]攝像用光檢測裝置有效
| 申請號: | 200980100612.5 | 申請日: | 2009-07-24 |
| 公開(公告)號: | CN101816184A | 公開(公告)日: | 2010-08-25 |
| 發明(設計)人: | 西脅青兒;鈴木正明;若林信一;米本和也;平本政夫 | 申請(專利權)人: | 松下電器產業株式會社 |
| 主分類號: | H04N9/07 | 分類號: | H04N9/07;G02B5/18;H01L27/14;H04N5/335 |
| 代理公司: | 永新專利商標代理有限公司 72002 | 代理人: | 黃劍鋒 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 攝像 用光 檢測 裝置 | ||
技術領域
本發明涉及為了拍攝物體的影像而使用的攝像用光檢測裝置。?
背景技術
例如在非專利文獻1及非專利文獻2中公開了以往的攝像用光檢測裝置。?
圖17A是表示以往的攝像裝置的概略結構的側視圖。自然光等的光入射到物體1上,將其反射后的光通過透鏡系統2在CCD(Charge-coupledDevice,電荷耦合元件)或CMOS(Complementary?Metal?OxideSemiconductor,互補金屬氧化物半導體)等的光檢測裝置4上形成像3。透鏡系統2一般為了確保光學性能、將沿著光軸排列的多個透鏡組合而構成,但在圖17A中將圖面簡單化而描繪為單一的透鏡。?
圖17B是表示光檢測裝置4的概略結構的圖,是圖17A的部分XVIIB的放大剖視圖。在形成有多個光電探測器(photodetector)6的檢測基板5上,依次層疊由SiO2等構成的低折射率的透明緩沖層7、由SiN等構成的高折射率的透明緩沖層8、多個慮色器9、多個微透鏡10。在透明緩沖層7的與透明緩沖層8接觸的表面7a上,形成有透明緩沖層7的膜厚在各光電探測器6之上變小的凹凸構造。另一方面,透明緩沖層8的與慮色器9接觸的表面8a是平坦的。?
微透鏡10配置在正交柵格的交點位置上,在各微透鏡10的中心軸上配置有1個慮色器9及1個光電探測器6。?
微透鏡10起到使如光線11a'那樣相對于微透鏡10的中心軸移位而入射的光折射而向光電探測器6導引的作用。透明緩沖層7的表面7a的凹凸構造也具有透鏡效果,起到使朝向從光電探測器6的中心離開的方向的發散光11b'折射而向光電探測器6導引的作用。?
慮色器9由紅色透射濾波器9R、綠色透射濾波器9G、藍色透射濾波?器9B的3種構成,紅色透射濾波器9R如圖18的曲線R所示,具有將紅色以外的波長的光切斷(吸收)的光透射特性(光譜靈敏度特性),綠色透射濾波器9G如圖18的曲線G所示,具有將綠色以外的波長的光切斷(吸收)的光透射特性(光譜靈敏度特性),藍色透射濾波器9B如圖18的曲線B所示,具有將藍色以外的波長的光切斷(吸收)的光透射特性(光譜靈敏度特性)(參照非專利文獻2)。通過由紅色透射濾波器9R、綠色透射濾波器9G、藍色透射濾波器9B、以及明亮度檢測用的綠色透射濾波器9G構成的4個慮色器9、和對應于它們的4個光電探測器6構成檢測彩色的圖像信息的彩色像素。在圖19中表示對應于這4個慮色器9的光電探測器6的配置。在圖19中,R表示對應于紅色透射濾波器9R的檢測紅色的光電探測器,G表示對應于綠色透射濾波器9G的檢測綠色的光電探測器,B表示對應于藍色透射濾波器9B的檢測藍色的光電探測器。由在一個對角上配置有兩個綠(基本像素G)、在另一個對角上配置有藍(基本像素B)及紅(基本像素R)的2列×2行的4個基本像素構成1個彩色像素19。將這樣的配置稱作Bayer排列,其優點是在沿垂直方向(X軸方向)或水平方向(Y軸方向)移位了彩色像素19的一半的尺寸(基本像素的尺寸)的位置上也能夠構成彩色像素19'。由此,能夠將析像度改善到彩色像素19的一半的尺寸(彩色像素19的1/4的面積)、即基本像素的尺寸。?
圖20是光檢測裝置4的檢測面的放大俯視圖。多個光電探測器6在正交柵格的交點位置上相互離開且絕緣而配置。在水平方向上相鄰的光電探測器6之間,設有沿垂直方向延伸的信號配線即多個垂直傳送CCD17,多個垂直傳送CCD17與沿水平方向延伸的信號配線即水平傳送CCD18連接。由微透鏡10聚光的光由位于其正下方的光電探測器6接受并進行光電變換。儲存在光電探測器6中的電荷被傳送給垂直傳送CCD17、再傳送給水平傳送CCD18,作為圖像信號輸出。?
在上述圖17B所示的光檢測裝置4中,為了使特定的顏色的光入射到各光電探測器6中而使用慮色器9。對此,提出了如下的光檢測裝置,即:如圖21所示,利用微棱鏡31使透射了微透鏡(未圖示)的來自被攝體的光30分散,并用光電探測器32R、32G、32B檢測紅(R)、綠(G)、藍(B)的各色光(參照專利文獻1)。?
專利文獻1:日本特表2002-502120號公報?
非專利文獻1:光技術接點,Vol.40,No.1(2002),P24?
非專利文獻2:晶體管技術,2003年2月號,P128?
對于攝像用光檢測裝置,對小型且高像素化的要求日益升高。但是,在上述以往的攝像用光檢測裝置中,因為以下的理由,在滿足該要求的方面是有限的。?
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