[實用新型]楔形塞尺校準裝置有效
| 申請號: | 200920312557.3 | 申請日: | 2009-10-15 |
| 公開(公告)號: | CN201548151U | 公開(公告)日: | 2010-08-11 |
| 發明(設計)人: | 李書福;楊健;潘巨林;吳玲萍 | 申請(專利權)人: | 浙江豪情汽車制造有限公司;浙江吉利控股集團有限公司 |
| 主分類號: | G01B3/46 | 分類號: | G01B3/46 |
| 代理公司: | 杭州杭誠專利事務所有限公司 33109 | 代理人: | 尉偉敏 |
| 地址: | 317000 浙江省臨海*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 楔形 塞尺 校準 裝置 | ||
技術領域
本實用新型涉及一種校準裝置,尤其涉及一種用于對楔形塞尺的刻度進行校準的裝置。
背景技術
楔形塞尺是用于對部件之間的間隙進行測量的一種器具,目前市場上契形塞尺一般為進口的較多如韓國、日本,國內的臺灣也有生產,其它生產較少。現階段國家未有對楔形塞尺進行校準的相應規程,因此契形塞尺量值溯源成為一大攻關的課題,而量值準確是反映產品質量控制的基礎保證。該問題主要是由于契形塞尺校準時的定位不準造成的。而該校準缺少試驗手段不能判斷其示值性能是否合格,因此該問題久久未能解決,給生產和質量帶來了較大影響。現在對楔形塞尺通行的校準的手段是采用量塊組合進行檢測,該手段是先利用三塊或四塊量塊組合成具有一定尺寸空間測量體,然后再往該空間內插入塞尺,利用相互平行的兩塊量塊與塞尺相接觸,看接觸點位置處的示值與量塊之間的距離是否一致,或誤差的大小。這種校準手段在進行校準時易造成量塊測量面被塞尺不小心劃傷,測量時又需對量塊進行組合后才能實現比對測量,導致因人為未組合到位產生定位不準及測量點不在同一條直線上測量帶來的誤差。
發明內容
為克服上述缺陷,本實用新型需要解決的技術問題是:提供一種楔形塞尺校準裝置,其具有結構簡單、校準操作方便、速度快、校準值準確的優點。
為解決上述技術問題,本實用新型的技術方案:一種楔形塞尺校準裝置,包括底座、用于和塞尺相配合的校準件,校準件位于底座上,其特征在于,校準件與底座之間為可拆卸連接,所述校準件內部具有貫穿的測量孔,在底座上于測量孔的位置處具有與測量孔相通的空間,該空間用于穿過塞尺的端部。在對楔形塞尺進行校準時,把楔形塞尺的端部直接插入到測量孔內,楔形塞尺的兩側面分別與測量孔的口部內側相接觸,讀出接觸點位置處塞尺的刻度值,把該刻度值與測量孔的內徑值進行比對,即可得出該刻度值的誤差情況。測量孔的內徑值應預先得知,且測量孔的內徑應小于楔形塞尺的最大寬度值。校準件一般是直接擱置在底座上,也可以在底座上設置用于限定校準件位置的限位件,或者是在底座上設置用于夾持校準件的夾持結構。
作為優選,所述校準件的截斷面呈圓環狀。該校準件實際是環規,利用環規的內徑作為基準用于對楔形塞尺進行校準,擴大了環規的適用范圍,且對塞尺校準的準確性高。
作為優選,所述校準件的端面上沿其徑向設有刻痕和標示測量孔內徑大小的標識。該刻痕用于指示塞尺與環規相接觸的位置,在進行校準操作時,塞尺直接從該刻痕的位置處插入到環規內部。
作為優選,所述底座為塊狀,底座的側面上設有梯形槽,在底座上設有溝通校準件測量孔和梯形槽的透孔,所述的空間形成在透孔內。在進行校準操作時,在正常情況下,楔形塞尺的端部會進入到透孔內,以便楔形塞尺的兩側邊分別與環規的口部相接觸。
作為優選,所述底座上設有定位環,定位環包覆在校準件的外周面上。定位環的高度一般要小于校準件的高度,校準件處于定位環內時,校準件的上端部會突出到定位環的外側,便于對校準件的拿取。定位環的設置方便了校準件的放置,便于校準件在底座上的快速定位。
因此,本實用新型的有益效果:
把校準件設置在底座上,在校準件內部設置標準內徑的測量孔,通過往測量孔內插入塞尺,塞尺與測量孔的口部相接觸,把塞尺上接觸點處的刻度值與測量孔的內徑值相比較,即可得出該刻度值是否出現偏差,從而也就完成了對塞尺上該刻度值的校準。校準塊與底座為可拆卸式連接,這樣可以很方便地對具有不同內徑測量孔的校準塊進行更換,從而可以對楔形塞尺上的多個刻度值進行校準,為楔形塞尺在實際的測量工作中的準確示值提供了保證。在底座上設置用于塞尺端部穿過的空間,這為楔形塞尺的校準操作提供了方便。
附圖說明
附圖1是本實用新型楔形塞尺校準裝置使用狀態下的縱向剖視圖。
具體實施方式
見圖中,本實用新型楔形塞尺校準裝置的結構包括塊狀的底座1和設于底座1上的校準件2。校準件2為圓環狀,它實際上是環規,其內部具有通透的測量孔。在底座1上設有用于楔形塞尺3端部穿過的空間,該空間與校準件2中的測量孔相通。
所述底座1的側面位置處設有梯形槽6,在底座1上設有透孔5,上述的空間形成在透孔5內,透孔5溝通測量孔和梯形槽6。
在底座1上于透孔5的外周設有突出的定位環4,定位環4間隙地包覆在校準件2下端的外周面上,定位環4的高度要小于校準件2的高度。環規的外徑大小一般都是相同的,只是其內徑有一定的變化,環規是直接擱置到定位環4內。
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