[實用新型]一種用于集成運放測試的裝置

無效

• 申請號: 200920245790.4
• 申請日: 2009-12-16
• 公開（公告）號: CN201555931U
• 公開（公告）日: 2010-08-18
• 發明（設計）人: 李仰鶴
• 申請（專利權）人: 西安明泰半導體測試有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 西安弘理專利事務所 61214
• 代理人: 羅笛

1.一種用于集成運放測試的裝置，其特征在于，包括測試裝置(5)，測試裝置(5)與TR-6800主機(2)和探針臺(4)分別連接，TR-6800主機(2)與工業PC(1)和探針臺(4)分別連接；

所述的測試裝置(5)，由待測器件的DUT底板(6)和多個運放測試小板(7)組成，DUT底板(6)上設置有多個30型針插槽(23)，每個30型針插槽(23)用于與一塊運放測試小板(7)連接，DUT底板(6)上設置有一個雙運放測試座(25)、一個四運放測試座(27)和一個信號傳輸接口(28)。

2.根據權利要求1所述的用于集成運放測試的裝置，其特征在于，所述工業PC(1)通過軟件控制TR-6800主機(2)提供輸入端信號源(8)，輸入端信號源(8)與輸入信號控制電路(9)連接，輸入信號控制電路(9)與待測集成運放的待測集成運放輸入(10)連接，待測集成運放的待測集成運放輸出(11)分別與輸入信號控制端(9)、三路負載選擇電路(18)、輸出測量單元(13)和雙運放反饋環的雙運放反饋環輸入(20)連接，雙運放反饋環輸入(20)還與新反饋控制單元(19)連接，雙運放反饋環的雙運放反饋環輸出(21)分別與反饋環輸出信號跟隨單元(22)和輸入信號控制單元(9)連接，反饋環輸出信號跟隨單元(22)與反饋環輸出測量單元(17)連接。