[實用新型]內串箔式薄膜電容器

有效

• 申請號: 200920243670.0
• 申請日: 2009-12-02
• 公開（公告）號: CN201556529U
• 公開（公告）日: 2010-08-18
• 發明（設計）人: 賀正祥
• 申請（專利權）人: 成都宏明電子股份有限公司
• 主分類號: H01G4/33
• 分類號: H01G4/33;H01G4/002
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本實用新型涉及電容器生產制造領域，特別涉及內串箔式薄膜電容器。

背景技術

目前，如圖1所示內串結構的箔式薄膜電容器在兩條金屬箔之間的絕緣靠兩條金屬箔之間的的距離及薄膜介質的熱收縮排除空氣的方式保證。這種方式形成的絕緣有四個問題：其一、在中間沒有金屬箔的薄膜介質之間的空氣通道難以消除，層間容易形成氣囊，兩條金屬箔之間容易出現拉弧、打火甚至電壓擊穿的現象；其二：在中間部位的金屬箔邊緣處存在應力集中，導致薄膜介質的電場強度明顯下降；其三：在中間部位每圈減少兩層金屬箔的厚度，導致在電容器的中部形成一個環狀的凹槽，進一步加重外圈的應力分布不均問題；其四：在低氣壓環境，封閉的氣囊容易形成內外壓差，擊穿薄膜介質。

實用新型內容

本實用新型公開了一種高可靠內串箔式薄膜電容器，該薄膜電容器改變了傳統的通過兩條金屬箔之間的距離及薄膜介質的熱收縮排除空氣的方式實現絕緣的方式，而在薄膜電容器兩金屬箔之間增加一條形薄膜，該薄膜與電容器介質同材質，其厚度與金屬箔等同。

本實用新型的有益效果是：在內串箔式薄膜電容器的兩條金屬箔之間的空隙處增加一條與金屬箔同厚度、且與電容器介質同材質的條形薄膜和傳統工藝相比：有效填充了兩條金屬箔之間的空隙，避免了中間部位薄膜介質的過渡變形，減小了中間部位的金屬箔在邊緣處的應力集中，提高了兩條金屬箔之間的絕緣強度及薄膜介質的介電強度，由此可見用這種結構方式生產的電容器的質量更好，可靠性更高。另外，中間部位殘留的空氣減少一個數量級以上，而且分布更均勻，因此環境適應型更強，長期穩定性更好，特別在低氣壓環境下，電容器內外的氣壓相差更小，可靠性高。同時，避免了電容器中間部位的環型凹槽，使電容器內部的應力更均勻，外觀更整潔，抗震動、抗扭曲能力更強。

附圖說明

圖1為現有技術中內串箔式薄膜電容器的內部結構示意圖；

圖2為本實用新型內部結構示意圖；

圖3為圖1的外形結構示意圖；

圖4為圖2的外形結構示意圖。

具體實施方式

為了使本實用新型更容易被理解，下面我們結合具體實施方式對本發明做更詳細說明。

參閱圖1，目前內串結構的箔式薄膜電容器在兩條金屬箔1之間的絕緣靠兩條金屬箔1之間留下間距并利用薄膜介質3的熱收縮排除空氣的方式形成氣囊2來實現。

參閱圖2，本實用新型中的薄膜電容器，該薄膜電容器改變了傳統的通過兩條金屬箔1之間的距離及薄膜介質3的熱收縮排除空氣的方式實現絕緣，采用該薄膜電容器兩金屬箔1之間增加一條形薄膜4，該薄膜3與電容器介質同材質，其厚度與金屬箔1等同。

參閱圖3、圖4，由于在內串箔式薄膜電容器的兩條金屬箔1之間的空隙處增加一條與電容器介質同材質，與金屬箔同厚度的條形薄膜4，和傳統工藝相比：避免了電容器中間部位的環型凹槽5，使電容器內部的應力更均勻，外殼6更整潔，抗震動、抗扭曲能力更強。