[實用新型]一種便攜式在線顯微分析裝置無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200920240276.1 | 申請日: | 2009-10-30 |
| 公開(公告)號: | CN201522419U | 公開(公告)日: | 2010-07-07 |
| 發(fā)明(設計)人: | 許榮昌;孫會朝 | 申請(專利權)人: | 萊蕪鋼鐵股份有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/01 | 分類號: | G01N21/01;G01N1/32 |
| 代理公司: | 濟南金迪知識產權代理有限公司 37219 | 代理人: | 王緒銀 |
| 地址: | 271104 山*** | 國省代碼: | 山東;37 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 便攜式 在線 顯微 分析 裝置 | ||
技術領域
本實用新型發(fā)明涉及一種用于檢測金屬組織、金屬夾雜物、金屬裂紋的便攜式在線顯微分析裝置,屬于金屬檢測分析設備技術領域。
背景技術
針對大型鍛件、連鑄坯、軋輥、大型設備關鍵部件、各種大型機械、高層建筑、大噸位船舶、大型橋梁結構、高空部件等的表面顯微分析存在困難,比如大型鍛件、連鑄坯的夾雜物、晶粒度分析,軋輥、軸承等大型設備關鍵部件的裂紋、失效分析,高空設備的缺陷分析等,取樣進行實驗時分析不但周期長,而且取樣困難,在線顯微分析不損害原有材料的形狀、快捷方便,對生產現場提高產品質量、快速定位質量事故、調整工藝參數很有幫助。本發(fā)明通過集成與創(chuàng)新,開發(fā)了用于生產現場的便攜式在線顯微分析裝置。目前,市場上存在的現場便攜式顯微鏡體積大,部件分離,應用不便。經檢索:200320105265.5公開了一種平面磨樣機。該實用新型公開一種平面磨樣機,屬于金屬檢驗試樣加工設備改進,主要用于直讀光譜分析,或者金相顯微分析制備試樣,可以為爐前快速取樣制樣的磨平、磨光、拋光提供便利條件。200610000941.0公開了一種顯微圖像連續(xù)獲取裝置。該發(fā)明涉及一種顯微圖像連續(xù)獲取裝置,其包括顯微裝置、數碼成像系統(tǒng)、箱體以及控制和分析用計算機,所述顯微裝置和數碼成像系統(tǒng)設置在所述箱體內,所述顯微裝置設有穩(wěn)光源和移動式載物臺,所述移動式載物臺帶有微位移移動機構,所述數碼成像系統(tǒng)同所述顯微裝置連接或其成像元件位于所述顯微裝置的光路上,所述計算機自動控制各部分的動作,并自動對數碼圖像信號進行分析和結果顯示。
發(fā)明內容
針對目前顯微鏡應用不便,不能現場一體化應用的缺點,本實用新型提供一種集制樣、拋光、腐蝕、微觀結構顯現、微觀結構分析功能為一體的便攜式在線顯微分析裝置。
一種便攜式在線顯微分析裝置,包括拋磨裝置和顯微觀測與分析裝置兩部分,拋磨裝置和顯微觀測與分析裝置安裝在同一個操作平臺上;拋磨裝置包括電機、軟軸傳動裝置和拋磨裝置,軟軸傳動裝置與電機傳動軸連接,拋磨裝置與軟軸傳動裝置連接;顯微觀測與分析裝置主要包括顯微鏡,顯微鏡設置在一個由電磁鐵構成的多向磁場底座上,顯微鏡的目鏡通過電腦接口與電腦連接。
所述的拋磨裝置的手柄部位上設有垂直插孔、水平插孔和備件插孔,拋磨裝置的拋磨部分設有微砂輪及拋光布輪。
所述的顯微觀測與分析裝置包括顯微定位部分、顯微光路系統(tǒng)、數據傳輸部分、數據分析部分、數據存儲部分。
所述的電腦接口是USB接口。
所述的多向磁場底座為兩條平行多向磁場底座,多向磁場底座包括磁場開關和電磁鐵,開關位于底座上部與電磁鐵通過導線相連。
本實用新型實現了拋磨、顯微分析、數據采集與存儲、數據分析、報告生成一體化,設備體積小,攜帶方便,操作簡單,便于現場顯微組織與缺陷分析。
附圖說明:
圖1為本實用新型中拋磨系統(tǒng)裝置結構框圖。
圖2為本實用新型中顯微觀測與分析系統(tǒng)裝置圖。
其中,1、磨頭或砂輪,2、軟軸傳動裝置,3、電機,4、外接電源接口,5、USB接口,6、鏡身,7、微調鈕,8.電磁鐵,9、物鏡,10、底座及電磁開關,11、手柄及內置電池,12、目鏡,13、電腦接口,14、電腦。
具體實施方式
本實用新型是針對大型鍛件、連鑄坯、軋輥、大型設備關鍵部件、各種大型機械、高層建筑、大噸位船舶、大型橋梁結構、高空部件等的表面需要進行顯微分析,但是存在取樣困難的部位進行顯微分析。下面具體說明本實用新型設備的具體實施方式:
1.將圖1所示的拋磨系統(tǒng)裝置外接電源接口4與電源相連接。
2.對需要顯微分析的部位利用圖1所示的拋磨系統(tǒng)裝置進行拋光處理,分別采用粒度級別從粗到細的微砂輪進行打磨,最后使用拋光布輪進行拋光,具體步驟和光潔度要求與實驗室制顯微分析樣相同。
3.拋光完畢后,將圖2所示顯微觀測與分析系統(tǒng)裝置放置于拋光部位,目鏡9必須對準拋光良好的部位,打開磁場開關,利用該裝置底部的平行多向磁場底座的電磁鐵8固定在拋光部位。
4.打開圖2所示顯微觀測與分析系統(tǒng)裝置中配置的電腦14,可以在電腦屏幕上直接看到所需分析部位的顯微圖,通過更換目鏡12和調節(jié)微調鈕7可調節(jié)放大倍數以及清晰度。
5.利用分析軟件可以對所需分析部位的夾雜物、晶粒度、裂紋、失效以及缺陷等進行自動分析。
6.保存顯微圖像及分析結果,可直接打印輸出。
7.更換其它位置進行顯微分析,重復上述1-5的操作步驟。
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