[實用新型]一種X熒光光譜鍍層分析儀

無效

• 申請號: 200920234680.8
• 申請日: 2009-08-12
• 公開（公告）號: CN201497712U
• 公開（公告）日: 2010-06-02
• 發明（設計）人: 黃清華
• 申請（專利權）人: 江蘇天瑞儀器股份有限公司
• 主分類號: G01N23/223
• 分類號: G01N23/223
• 代理公司: 南京經緯專利商標代理有限公司 32200
• 代理人: 樓高潮

技術領域

本實用新型涉及一種微量元素檢測儀器，具體涉及一種X熒光光譜鍍層分析儀。

背景技術

X熒光光譜分析儀器是使用X射線照射試樣，對產生的X射線熒光進行解析，用以分析試樣元素和含量的裝置。由于X熒光光譜儀器使用方便、快捷，精度高，成本低等特點，已經在很多行業得到廣泛的應用。

現有技術中，其分析樣品可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業樣品。無標半定量方法可以對各種形狀樣品定性分析，并能給出半定量結果，結果準確度對某些樣品可以接近定量水平，分析時間短。

X熒光光譜鍍層分析儀器是X熒光光譜分析儀中的一種，主要用于對尺寸范圍較大的部件上進行鍍層厚度分析和含量的逐點測試，其主要原理是光源系統發射出X熒光，X熒光作用在樣品上后，樣品中的各個X會被激發出特征X熒光，這些X熒光被探測器系統所接收，分析轉化為電信號，電信號經過系統模塊的處理，進而得到用戶所需要的分析信息。

針對上述原理，本發明人于2006年申請了名稱為一種自動定位X熒光能量色散光譜儀的專利，專利的申請號為200620014536.X。該專利為一種真空檢測X熒光能量色散光譜儀，包括機身，機身內安裝有光源系統、測試系統以及信號處理系統，其中，光源系統包括高壓單元和X光管，上述部件都被固定在一個金屬框架上，金屬框架上部還設有一樣品臺，樣品放置于該樣品臺上。

經發明人實踐發現上述專利還存在以下問題需要改進：

1.測試組件為固定結構，不能上下移動，這樣可測試樣品的范圍較小。

2.樣品平臺為固定結構，不能左右移動，很難準確定位樣品位置。

3.沒有實時觀測裝置，不能使測試人員隨時了解測試過程。

因此對現有的X熒光光譜鍍層分析儀的上述缺陷進行改進已成為本技術領域中亟待解決的技術問題。

實用新型內容

本實用新型的目的在于克服上述技術的不足，提供一種X熒光光譜鍍層分析儀，其解決了原有X熒光光譜鍍層分析儀存在的技術缺陷和設計弊端。

本實用新型為滿足上述目的，采用以下技術方案：一種X熒光光譜鍍層分析儀，包括主支架、測試組件、以及樣品平臺，所述測試組件固定于所述主支架的上的一升降平臺框上，所述樣品平臺位于所述主支架的底部且位于所述升降平臺框的下方，所述升降平臺框與所述主支架之間設有滑軌，所述升降平臺框上連有一Z軸電機。

更進一步，所述樣品平臺上連有X軸電機與Y軸電機。

更進一步，所述測試組件底部兩側設有位置傳感器。

更進一步，所述測試組件底部中間位置設有高度激光裝置。

更進一步，所述測試組件包括一攝像頭。

基于上述設計，本實用新型的優點在于：提高了儀器的自動化，擴大了可測試樣品的范圍；位置傳感器保護了測試組件和被測樣品；可實時觀測樣品的測試過程；樣品平臺和測試組件位置可調節。

本實用新型的其他目的和優點可以從本實用新型所揭露的技術特征中得到進一步的了解。為讓本實用新型之上述和其他目的、特征和優點能更明顯易懂，下文特舉實施例并配合所附圖式，作詳細說明如下。

附圖說明

圖1是本實用新型之一實施例的一種X熒光光譜鍍層分析儀結構示意圖；

圖2是圖1中的X熒光光譜鍍層分析儀從另一角度觀測的結構示意圖；

圖1及圖2中的標號說明：支架1、測試組件2、樣品平臺3、升降平臺框4、滑軌5、Z軸電機6、X軸電機7、Y軸電機8、位置傳感器9、高度激光裝置10、攝像頭11。

具體實施方案：

請參考圖1所示，本實用新型的一種X熒光光譜鍍層分析儀，包括主支架1、測試組件2、以及樣品平臺3，測試組件2固定于主支架1的上的一升降平臺框4上，樣品平臺3位于主支架1的底部且位于升降平臺框4的下方，升降平臺框4與主支架1之間設有滑軌5，升降平臺框4上連有一Z軸電機6，樣品平臺3上連有X軸電機7與Y軸電機8，測試組件2底部兩側設有位置傳感器9，測試組件2底部中間位置設有高度激光裝置10，測試組件2包括一攝像頭11。

本實用新型的X熒光光譜鍍層分析儀的工作原理為：將樣品放入樣品平臺3的測試區域內，利用Z軸電機6對測試組件2進行高度方向的移動，當測試組件2下降到一定區域時，由于位置傳感器9的保護，使測試組件2立刻停止活動，這樣便保護了樣品和測試組件2內貴重物品的傷害，再利用樣品平臺3的X、Y軸電機7、8的精確移動，確保了樣品能準確的到達測試位置，同時通過攝像頭11測試人員可以很清楚的知道樣品與X熒光的關系。高度激光裝置10的作用在于定位測試高度，實現激光光斑和X熒光的重合，實現X熒光的可見性。