[實用新型]一種X熒光分析全自動熔樣機用試樣座

有效

• 申請號: 200920223717.7
• 申請日: 2009-09-24
• 公開（公告）號: CN201607359U
• 公開（公告）日: 2010-10-13
• 發明（設計）人: 余鵬飛;李壽平;趙亮;楊濤;丁強
• 申請（專利權）人: 洛陽特耐實驗設備有限公司
• 主分類號: G01N1/44
• 分類號: G01N1/44;G01N23/223
• 代理公司: 洛陽明律專利代理事務所 41118
• 代理人: 盧洪方

技術領域

本實用新型涉及一種X熒光分析全自動熔樣機爐腔內支撐固定坩堝的部件，具體涉及一種X熒光分析全自動熔樣機用試樣座。

背景技術

目前，現有的X熒光分析全自動熔樣機具有試樣座，試樣座具有用以放置坩堝的凹槽；在使用過程中其試樣僅從上部端面受熱，造成其受熱結構的不合理，另外，多個試樣座由一根高溫軸支承并起到帶動試樣座升降的作用，在升降過程造成對試樣座的支承不平穩。

發明內容

為解決上述技術問題，本實用新型提出了一種X熒光分析全自動熔樣機用試樣座，使其能使試樣受熱均勻，提高熔融質量。

本實用新型為完成上述發明任務采用以下技術方案；

一種X熒光分析全自動熔樣機用試樣座，其在試樣座的壁上具有多個用以透熱的透熱孔并使透熱孔與試樣座放置坩堝的凹槽相連通。

所述的試樣座下端設置有用以支承試樣座的支撐棒，支撐棒位于X熒光分析全自動熔樣機的滑動軸上的連接槽內。

所述位于試樣座壁上的多個透熱孔沿試樣座圓周分布。

所述的支撐棒和試樣座為一體成型結構。

本實用新型提出的一種X熒光分析全自動熔樣機用試樣座，在試樣座壁上具有的用于透熱的孔，可保證坩堝內的試樣受熱均勻，提高了熔融質量；試樣座下端設置有支撐棒，使試樣座的支撐和升降更平穩。

附圖說明

圖1本實用新型的結構示意圖。

圖中：1、支撐棒，2、試樣座，3、透熱孔，4、凹槽。

具體實施方式

下面結合附圖對本實用新型作進一步描述：

如圖1所示，一種X熒光分析全自動熔樣機用試樣座，在試樣座2的壁上具有多個用以透熱的透熱孔3并使透熱孔與試樣座放置坩堝的凹槽4相連通；多個透熱孔3沿試樣座圓周均布；試樣座下端設置有用以支承試樣座的支撐棒1，支撐棒1和試樣座2為一體成型結構；支撐棒1位于X熒光分析全自動熔樣機的滑動軸上的連接槽內。