[實用新型]一種通用測試設備

有效

• 申請號: 200920215877.7
• 申請日: 2009-12-31
• 公開（公告）號: CN201876522U
• 公開（公告）日: 2011-06-22
• 發明（設計）人: 蔣登峰;魏建中
• 申請（專利權）人: 杭州士蘭微電子股份有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本實用新型涉及測試技術，尤其涉及測試具有通用接口的集成電路的技術。

背景技術

越來越多的半導體生產商在集成電路(如存儲器、監控芯片、視頻處理芯片)上集成I2C接口、SPI接口等通用通訊接口，以實現集成電路的通信。同時半導體生產商也會提供相應測試設備對上述集成電路進行測試。隨著整機廠商設計產品復雜性的增加，整機產品中會采用多個不同半導體生產商提供的具有I2C接口、SPI接口等通用通訊接口的集成電路，整機廠商在測試這些集成電路時，需要購買不同集成電路的測試設備及測試軟件，這將導致整機廠商需要購買和維護越來越多的測試設備，增加運營成本。

發明內容

本實用新型旨在解決現有技術的不足，為具有I2C總線，SPI總線等通用通訊接口的集成電路提供一種通用測試設備，以方便實現測試，降低開發成本。

通用測試設備，包括存儲器、GUI模塊、測試模塊、一個或多個通用通訊模塊，所述GUI模塊連接測試模塊，測試模塊連接一個或多個通用通訊模塊，(1)由測試模塊選擇一個或多個通用通訊模塊，被選中的通用通訊模塊模擬并發出相應的接口時序，被測試集成電路對應的接口接收通用通訊模塊發出的接口時序，將被測集成電路的參數傳回GUI模塊以用于測試；和/或(2)由測試模塊選擇其中一個或多個通用通訊模塊，被選中的通用通訊模塊模擬并發出相應的接口時序，被測試集成電路對應的接口接收通用通訊模塊發出的接口時序，被測試集成電路解析接口時序，根據接口時序中包含的地址信息對符合地址被測集成電路的寄存器進行寫操作。

所述通用通訊模塊包括下列模塊中的一種或幾種：并口通訊模塊、串口通訊模塊、USB通訊模塊。

所述被測集成電路的接口包括下列接口中的一種或幾種：I2C接口、SPI接口和其他通用通訊接口。

所述通用通訊模塊包括I2C時序模塊、SPI時序模塊、PCI時序模塊和其他時序模塊，其中I2C時序模塊發出I2C時序、SPI時序模塊發出SPI時序、PCI時序模塊發出PCI時序、其它時序?模塊發出集成電路可接收的其他時序，通用通訊模塊發出的時序通過并口通訊模塊、串口通訊模塊或USB通訊模塊中的一種發出。

所述寄存器描述文件模塊包括各被測集成電路的寄存器信息表子模塊：各被測集成電路的地址單元、被測集成電路的各寄存器地址單元、各寄存器名稱單元、各寄存器位單元等。

所述寄存器信息表子模塊可以按照各寄存器的不同功能進行分類，如被測集成電路為視頻處理集成電路，則可以該集成電路寄存器信息表分為縮放功能寄存器、OSD功能寄存器、編碼功能寄存器、解碼功能寄存器等分別進行分類。

所述寄存器信息表子模塊的寄存器位單元可以按照功能寄存器中不同比特位按照位的功能進行分組，如將某視頻處理集成電路的gamma校正寄存器按照功能對寄存器中各比特數進行分組，其中比特0表示gamma校正使能位，比特1表示gamma表I/O控制，比特2和比特3表示gamma表通道選擇，這樣可以對該寄存器的特定比特在不同值下實現的功能分別測試。

所述通用通訊模塊的輸出端還可連接一總線通訊板，再由總線通訊板連接被測集成電路，總線通訊板用于增強通用通訊模塊輸出信號的驅動能力，并將通用通訊模塊的輸出電壓轉為集成電路的工作電壓。

所述通用測試設備可以實現批量測試被測集成電路，通用測試設備根據所述寄存器描述文件中被測集成電路的地址，尋找被測集成電路，對符合地址的被測集成電路進行測試。

本實用新型有益效果在于：本實用新型所述的通用測試設備可以方便、直觀地實現對具有通用通訊接口的被測集成電路的測試，對于不同的被測集成電路，用戶僅需編寫寄存器描述文件，即可實現通用測試，整機廠商可以節約購買測試工具的成本以及維護成本，同時利用本實用新型提供的通用測試設備可以實現批量測試集成電路。

附圖說明：

圖1為本實用新型通用測試設備框圖

具體實施方式

下面通過具體實例并結合附圖對本實用新型做進一步的詳細描述。