[實用新型]納米顆粒粒徑的檢測裝置

無效

• 申請號: 200920210860.2
• 申請日: 2009-10-16
• 公開（公告）號: CN201532349U
• 公開（公告）日: 2010-07-21
• 發明（設計）人: 李紹新;王永東;張延嬌;黎國鋒
• 申請（專利權）人: 廣東醫學院;東莞理工學院
• 主分類號: G01N15/02
• 分類號: G01N15/02
• 代理公司: 上海天翔知識產權代理有限公司 31224
• 代理人: 王裕

1.一種納米顆粒粒徑的檢測裝置，其特征在于其由激光器(1)、光纖耦合器(2)、干涉儀(3)、光電倍增管(4)、光譜分析儀(5)、計算機(6)、準直聚焦透鏡組(7，8)、樣品池(9)和光纖組成，其中激光器(1)、光電倍增管(4)、干涉儀(3)和準直聚焦透鏡組(7，8)通過光纖與光纖耦合器(2)橋接；光電倍增管(4)、光譜分析儀(5)、計算機(6)通過電纜依次連接。

2.根據權利要求1所述的檢測裝置，其特征在于所述激光器(1)為中心波長為600nm的二極管激光器。

3.根據權利要求1所述的檢測裝置，其特征在于所述光纖耦合器(2)為2×2光纖耦合器。

4.根據權利要求3所述的檢測裝置，其特征在于所述2×2光纖耦合器為帶寬80nm、50∶50寬帶光纖耦合器。

5.根據權利要求1所述的檢測裝置，其特征在于所述干涉儀(3)為法布里珀羅干涉儀。

6.據權利要求1所述的檢測裝置，其特征在于所述光電倍增管(4)為EG&G公司的J16A18A-R100U型雪崩管。

7.根據權利要求1所述的檢測裝置，其特征在于所述所述準直聚焦透鏡組(7、8)為兩個非密接組合的準直透鏡(7)和聚焦透鏡(8)組成。

8.根據權利要求7所述的檢測裝置，其特征在于所述準直透鏡(7)和聚焦透鏡(8)的焦距為35-50mm。

9.根據權利要求8所述的檢測裝置，其特征在于所述準直透鏡(7)和聚焦透鏡(8)的焦距為50mm。

10.根據權利要求1所述的檢測裝置，其特征在于所述光纖為傳輸波長為630nm單模光纖。