[實用新型]一種真空高溫環境下測試賽貝克系數的裝置

無效

• 申請號: 200920210692.7
• 申請日: 2009-10-13
• 公開（公告）號: CN201555819U
• 公開（公告）日: 2010-08-18
• 發明（設計）人: 吳子華;謝華清
• 申請（專利權）人: 上海第二工業大學
• 主分類號: G01N25/00
• 分類號: G01N25/00
• 代理公司: 上海東創專利代理事務所(普通合伙) 31245
• 代理人: 寧芝華

1.一種真空高溫環境下測試賽貝克系數的裝置，包括高溫爐爐腔(7)和真空泵(4)，其特征在于：高溫爐爐腔上方連接有水冷電極(1)，高溫爐爐腔底部連接有真空抽氣閥(3)，真空抽氣閥經管道與真空泵(4)連接，高溫爐爐腔內設置有隔熱屏(5)，隔熱屏內設置有加熱器(6)，加熱器經導線依次與真空電極(14)、爐腔溫度控制系統(18)、工控機(16)連接，高溫爐爐腔一側連接有放氣閥(2)，另一側通過法蘭(19)連接一樣品桿(8)，樣品桿懸伸進高溫爐爐腔中央，測試樣品(12)固定在樣品桿(8)上，測試樣品底部設置有薄膜加熱器(11)；測試樣品兩端各引出溫度和電勢差引線(13)，經高溫爐爐腔上方的真空電極(14)引出，分兩路經掃描卡和納伏儀表(15)與工控機(16)連接，薄膜加熱器(11)經薄膜加熱器的溫度控制系統(17)與工控機(16)連接。

2.根據權利要求1所述的一種真空高溫環境下測試賽貝克系數的裝置，其特征在于：所述的樣品桿(8)懸伸部位的前端部連接有上、下兩片不銹鋼薄片(10)，上、不銹鋼薄片上開有螺孔，測試樣品(12)夾在上、下兩片不銹鋼薄片(10)之間，薄膜加熱器(11)設置在樣品桿前端的測試樣品(12)底部，鉬螺絲(9)將上、下兩片不銹鋼薄片(10)和其間夾持的測試樣品(12)、薄膜加熱器(11)加緊。