[實用新型]綜合能效質量測試裝置

有效

• 申請號: 200920183174.0
• 申請日: 2009-09-30
• 公開（公告）號: CN201600440U
• 公開（公告）日: 2010-10-06
• 發明（設計）人: 石衛濤;黃鋒
• 申請（專利權）人: 福州福光電子有限公司
• 主分類號: G01R31/40
• 分類號: G01R31/40
• 代理公司: 福州市鼓樓區京華專利事務所(普通合伙) 35212
• 代理人: 翁素華

1.一種綜合能效質量測試裝置，其特征在于：包括控制運算顯示模塊，以及交流采樣模塊和直流采樣模塊的至少一種，且交流采樣模塊和直流采樣模塊的數目之和為至少兩個，所述交流采樣模塊和直流采樣模塊均連接至所述控制運算顯示模塊，所述控制運算顯示模塊對所述交流采樣模塊和直流采樣模塊進行控制，并對所述交流采樣模塊和直流采樣模塊采集到的數據進行同步存儲和技術處理。

2.根據權利要求1所述的綜合能效質量測試裝置，其特征在于：

所述交流采樣模塊包括一交流電壓采樣模塊、一交流電流采樣模塊；所述交流電壓采樣模塊包括三相交流電壓輸入，該三相交流電壓輸入連接一信號衰減電路，該信號衰減電路再連接一過零比較器；所述交流電流采樣模塊至少包括三相交流電流輸入，該三相交流電流輸入連接一信號衰減電路，該信號衰減電路再連接另一過零比較器；

所述直流采樣模塊包括一直流電壓采樣模塊、一直流電流采樣模塊；所述直流電壓采樣模塊包括一直流電壓輸入，該直流電壓輸入連接一信號衰減電路，該信號衰減電路再連接一信號放大電路；所述直流電流采樣模塊包括至少一路直流電流輸入，該至少一直流電流輸入均連接至另一信號放大電路，所述兩信號放大電路均再連接至一直流CPU；

所述控制運算顯示模塊包括主CPU、一A/D數模轉換控制電路、鍵盤、LCD顯示模塊、供電模塊、存儲器，該A/D數模轉換控制電路、鍵盤、LCD顯示模塊、供電模塊以及存儲器均連接至所述主CPU，

所述直流CPU再連接至所述主CPU。

3.根據權利要求2所述的綜合能效質量測試裝置，其特征在于：所述交流電壓采樣模塊和交流電流采樣模塊的兩個過零比較器直接連接至所述主CPU。

4.根據權利要求2所述的綜合能效質量測試裝置，其特征在于：所述交流電壓采樣模塊和交流電流采樣模塊的兩個過零比較器共同連接一交流CPU再連接至所述主CPU。

5.根據權利要求2所述的綜合能效質量測試裝置，其特征在于：所述交流電壓采樣模塊和交流電流采樣模塊的兩個過零比較器分別連接交流CPU再連接至所述主CPU。

6.根據權利要求2所述的綜合能效質量測試裝置，其特征在于：所述交流電流采樣模塊還包括一地線交流電流輸入或一中線交流電流輸入。

7.根據權利要求2所述的綜合能效質量測試裝置，其特征在于：所述直流電流采樣模塊包括兩路直流電流輸入。

8.根據權利要求2所述的綜合能效質量測試裝置，其特征在于：所述控制運算顯示模塊還包括一測試功能項選擇和顯示轉換測試電路，以及測試功能項選擇和顯示轉換測試電路均連接至所述主CPU。

9.根據權利要求2所述的綜合能效質量測試裝置，其特征在于：所述控制運算顯示模塊還包括一USB接口。