[實(shí)用新型]低壓齊納二極管新型結(jié)構(gòu)無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200920175501.8 | 申請(qǐng)日: | 2009-08-21 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN201440419U | 公開(kāi)(公告)日: | 2010-04-21 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 陳永利 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 朝陽(yáng)無(wú)線電元件有限責(zé)任公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | H01L29/866 | 分類(lèi)號(hào): | H01L29/866;H01L29/36 |
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| 地址: | 122000 遼寧*** | 國(guó)省代碼: | 遼寧;21 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 低壓 齊納二極管 新型 結(jié)構(gòu) | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及一種低壓齊納二極管新型結(jié)構(gòu)。
背景技術(shù)
齊納二極管又稱(chēng)穩(wěn)壓二極管,是一種特殊的面接觸型硅晶體二極管。由于它有穩(wěn)定電壓的作用,經(jīng)常應(yīng)用在穩(wěn)壓設(shè)備和一些電子線路中。
普通PN結(jié)二極管在外加反向電壓足夠大時(shí)會(huì)被擊穿,并產(chǎn)生很大的反向電流,最終使器件失效。而齊納二極管則是利用PN結(jié)的反向擊穿,提供一個(gè)穩(wěn)定電壓Vz。制作低壓齊納二級(jí)管需要制作高摻雜的PN結(jié)。由于平面工藝的擴(kuò)散工藝較難掌握,因此反向漏電流以及動(dòng)態(tài)電阻等參數(shù)也難以控制,所以生產(chǎn)低壓齊納管具有一定的難度。由于產(chǎn)品成品率低,所以國(guó)內(nèi)生產(chǎn)廠家極少,多年來(lái)一直依靠進(jìn)口管芯或成品。
低壓齊納二極管的擊穿機(jī)理主要是隧道擊穿。隧道擊穿是在強(qiáng)電場(chǎng)下,由于隧道效應(yīng),使大量電子從價(jià)帶穿過(guò)禁帶而進(jìn)入到導(dǎo)帶所引起的一種擊穿現(xiàn)象。實(shí)驗(yàn)表明,對(duì)于重?fù)诫s的鍺、硅PN結(jié),引起隧道擊穿所需的電場(chǎng)強(qiáng)度約為106V/cm。當(dāng)擊穿電壓VBR<4Eg/q時(shí),一般為隧道擊穿;當(dāng)VBR>6E?g/q時(shí),一般為雪崩擊穿;當(dāng)4E?g/q<VBR<6E?g/q時(shí),兩種擊穿機(jī)構(gòu)都存在。
實(shí)用新型內(nèi)容
本實(shí)用新型需要解決的技術(shù)問(wèn)題就在于克服現(xiàn)有技術(shù)的缺陷,提供一種低壓齊納二極管新型結(jié)構(gòu),它采用擴(kuò)散和合金的辦法,在單晶片上制作雙結(jié)得到低壓齊納二極管,具有擊穿電壓低,反向漏電流小,動(dòng)態(tài)電阻低,對(duì)檔率高等優(yōu)點(diǎn)。
為解決上述問(wèn)題,本實(shí)用新型采用如下技術(shù)方案:
本實(shí)用新型一種低壓齊納二極管新型結(jié)構(gòu),所述二極管由兩個(gè)PN結(jié)構(gòu)成,一個(gè)是擴(kuò)散結(jié),另一個(gè)是合金結(jié);擴(kuò)散結(jié)包圍合金結(jié),合金結(jié)的結(jié)深近似等于擴(kuò)散結(jié)的結(jié)深。
所述合金結(jié)和擴(kuò)散結(jié)均為摻雜PN結(jié),所述合金結(jié)的摻雜濃度高于擴(kuò)散結(jié)的摻雜濃度。
本實(shí)用新型采用擴(kuò)散和合金的辦法,在單晶片上制作雙結(jié)得到低壓齊納二極管,具有擊穿電壓低,反向漏電流小,動(dòng)態(tài)電阻低,對(duì)檔率高等優(yōu)點(diǎn),抽取此結(jié)構(gòu)的低壓齊納二極管600只測(cè)試,呈硬擊穿特性的占約70%。
附圖說(shuō)明
圖1為本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
如圖1所示,本實(shí)用新型一種低壓齊納二極管新型結(jié)構(gòu)1,所述二極管由兩個(gè)PN結(jié)構(gòu)成,圖中,N為PN結(jié)的N區(qū),P為PN結(jié)的P區(qū),一個(gè)是擴(kuò)散結(jié)2,另一個(gè)是合金結(jié)3;擴(kuò)散結(jié)包圍合金結(jié),合金結(jié)的結(jié)深近似等于擴(kuò)散結(jié)的結(jié)深。
所述合金結(jié)和擴(kuò)散結(jié)均為摻雜PN結(jié),所述合金結(jié)的摻雜濃度高于擴(kuò)散結(jié)的摻雜濃度。
制作低壓齊納二極管可以采用擴(kuò)散和合金兩種方法。采用平面工藝(即擴(kuò)散工藝)制得的擴(kuò)散PN結(jié),擊穿特性好,動(dòng)態(tài)電阻和反向漏電流都比較小;盡管如此,由于擴(kuò)散工藝本身較難掌握,所以作出的管子擊穿電壓普遍偏高,管子的對(duì)檔率低。本實(shí)用新型為了降低擊穿電壓,提高管子的對(duì)檔率,在已制作的擴(kuò)散結(jié)中,以合金工藝再次進(jìn)行一次高濃度的P型雜質(zhì),制得合金PN結(jié),以提高摻雜濃度。具體作法是:選用PN固態(tài)擴(kuò)散源進(jìn)行第一次濃硼擴(kuò)散形成擴(kuò)散結(jié)。由于受到雜質(zhì)在硅中固溶度的限制,所以第二次高濃度的摻雜不能繼續(xù)以硼為雜質(zhì)。由于合金結(jié)的擊穿電壓較低,以及制作電極的需要,本實(shí)用新型選用了和硼元素同族的金屬鋁作為第二次擴(kuò)散的雜質(zhì)。實(shí)際上,第二次擴(kuò)散是合金工藝。合金后,就相當(dāng)于在原有的擴(kuò)散結(jié)中又加入了新的P型雜質(zhì),形成合金結(jié),更加提高了擴(kuò)散層的摻雜濃度。因此,本實(shí)用新型所述低壓齊納二極管新型結(jié)構(gòu)由兩個(gè)PN結(jié)構(gòu)成,一個(gè)是擴(kuò)散結(jié),另一個(gè)是合金結(jié),擴(kuò)散結(jié)包圍合金結(jié),合金結(jié)的結(jié)深近似等于擴(kuò)散結(jié)的結(jié)深。將PN結(jié)加反向偏向時(shí),由于合金結(jié)的摻雜濃度高于擴(kuò)散結(jié)的摻雜濃度,所以合金結(jié)點(diǎn)的擊穿電壓將低于擴(kuò)散結(jié)的擊穿電壓。電子在合金結(jié)穿過(guò)隧道的幾率大,并且經(jīng)過(guò)合金結(jié)的路徑體電阻最小,因而擊穿是發(fā)生在合金結(jié)的結(jié)面處。又由于合金結(jié)的存在,當(dāng)發(fā)生擊穿后,隨著擊穿電流的增大,結(jié)電壓降的變化量則很小,因此可以大大降低動(dòng)態(tài)電阻。
本實(shí)用新型采用擴(kuò)散和合金的辦法,在單晶片上制作雙結(jié)得到低壓齊納二極管,具有擊穿電壓低,反向漏電流小,動(dòng)態(tài)電阻低,對(duì)檔率高等優(yōu)點(diǎn),抽取此結(jié)構(gòu)的低壓齊納二極管600只測(cè)試,呈硬擊穿特性的占約70%。
最后應(yīng)說(shuō)明的是:以上實(shí)施例僅用以說(shuō)明本實(shí)用新型而并非限制本實(shí)用新型所描述的技術(shù)方案;因此,盡管本說(shuō)明書(shū)參照上述的各個(gè)實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型已進(jìn)行了詳細(xì)的說(shuō)明,但是,本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解,仍然可以對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)行修改或等同替換;而一切不脫離本實(shí)用新型的精神和范圍的技術(shù)方案及其改進(jìn),均應(yīng)涵蓋在本實(shí)用新型的權(quán)利要求范圍中。
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H01L29-02 .按其半導(dǎo)體本體的特征區(qū)分的
H01L29-40 .按其電極特征區(qū)分的
H01L29-66 .按半導(dǎo)體器件的類(lèi)型區(qū)分的
H01L29-68 ..只能通過(guò)對(duì)一個(gè)不通有待整流、放大或切換的電流的電極供給電流或施加電位方可進(jìn)行控制的
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