[實用新型]一種微調裝置

無效

• 申請號: 200920173245.9
• 申請日: 2009-08-27
• 公開（公告）號: CN201540393U
• 公開（公告）日: 2010-08-04
• 發明（設計）人: 劉亞琪
• 申請（專利權）人: 北京中科科儀技術發展有限責任公司
• 主分類號: G02B7/00
• 分類號: G02B7/00
• 代理公司: 北京三聚陽光知識產權代理有限公司 11250
• 代理人: 張建綱

技術領域

本實用新型涉及一種科研儀器上的調整裝置，具體地說涉及一種特別適用于光學器件的、用于精細調整的微調裝置。

背景技術

光闌是指光具組件中光學元件的邊緣、框架或特別設置的帶孔屏障。光闌按其作用分為兩種：孔徑光闌和視場光闌。孔徑光闌是指，對軸上物點光束的口徑(立體角或者發光截面)限制得最多的光闌稱為孔徑光闌。視場光闌是指，所謂視場就是能成像的物面范圍，對光具組成像的視場限制最多的光闌稱為視場光闌。光闌在觀察檢測過程中需要經過進行位置調整，一般經常采用螺旋旋進的方式調整光闌的位置。一般來講光闌調整機構包括粗調裝置和微調裝置，其中粗調裝置是用來粗略、快速的調整至大概的位置；而微調裝置是用來在小范圍內做精細調整。這種微調裝置一般為通過旋轉調節軸向長度的方式并設有限位機構，該限位機構用以將限定可以進行精細調整的距離范圍。這種微調裝置中的限位機構一般為旋轉周上某一處設置的一個卡塊，其使得微調裝置可在一個圓周的角度范圍內進行精細調整。對于某一特定的儀器來說，其需要精細調整的量程特定，于是，上述的這種在一個圓周角度范圍的微調裝置只能通過一個圓周的角度旋轉范圍在整個特定量程范圍進行精細調整。這種旋轉角度上的限制使得現有的這種微調裝置不能滿足在某些精細度要求較高的儀器之中使用。

發明內容

為此，本實用新型所要解決的技術問題在于現有技術的微調裝置不適用于精度要求較高的儀器的缺陷，提出一種旋轉角度不受限制、可以進行高精度調整的微調裝置。

為解決上述技術問題，本實用新型的一種用于光學器件的微調裝置，包括：

設置于固定座上的限位塊；

至少兩個可以相對轉動的微調轉盤，每個所述微調轉盤上設有一個限位突起；

與光學組件相連、隨著所述微調轉盤的轉動而在旋轉軸方向相對所述固定座前后移動的調整推進裝置；

相鄰的所述微調轉盤上的所述限位突起相互配合；最靠近所述固定座的微調轉盤上的所述限位突起與所述限位塊互相配合。

上述技術方案中，所述微調轉盤共設有三個。

上述技術方案中，最遠離所述固定座的所述微調轉盤上設置有適于旋轉操作的轉動銷。

上述技術方案中，所述轉動銷外套裝有一個轉動鈕，其與所述轉動銷固定連接。

上述技術方案中，所述限位突起為每個所述微調轉盤在徑向的突起。

本實用新型的上述技術方案相比現有技術具有以下優點：

本實用新型的微調裝置設有多個可以相對轉動的微調轉盤，每個所述微調轉盤上設有限位突起，利用多個限位突起以及限位塊的相互配合，鎖定所述微調轉盤的旋轉，使得螺紋拉桿的螺紋相應的需要加工的更精細，以適合于高精度光學儀器(例如光闌裝置)的調整。

附圖說明

為了使本實用新型的內容更容易被清楚的理解，下面根據本實用新型的具體實施例并結合附圖，對本實用新型作進一步詳細的說明，其中

圖1是本實用新型的微調裝置在一種具體實施方式中調整到了一個極限位置情況的示意圖；

圖2是圖1所示的微調裝置調整到另外一個極限位置情況的示意圖；

圖3是圖1所示的微調裝置中A部分的局部放大示意圖；

圖4是圖2所示的微調裝置中B部分的局部放大示意圖；

圖中附圖標記表示為：1-固定座，2-限位塊，3-微調轉盤，4-限位突起，5-轉動銷。

具體實施方式

圖1至4顯示了本實用新型的微調裝置的一種具體實施方式，一種用于光闌組件的微調裝置，包括：設置于固定座1上的限位塊2、至少兩個可以相對轉動的微調轉盤3、以及隨著所述微調轉盤3的轉動而在旋轉軸方向相對所述固定座1前后移動的調整推進裝置。每個所述微調轉盤3上設有一個限位突起4；所述調整推進裝置與光闌組件相連。所述調整推進裝置為螺紋拉桿，并且最遠離所述固定座1的微調轉盤3與所述螺紋拉桿固定連接。所述限位突起4為每個所述微調轉盤3在徑向的突起。相鄰的所述微調轉盤3上的所述限位突起4相互配合，限制更遠離所述固定座1的所述微調轉盤3的旋轉；最靠近所述固定座1的微調轉盤上的所述限位突起4與所述限位塊2互相配合，限制所述最靠近所述固定座1的微調轉盤的旋轉。所述微調轉盤3共設有三個。最遠離所述固定座1的所述微調轉盤3上設置有適于旋轉操作的轉動銷5。所述轉動銷5外套裝有一個轉動鈕，其與所述轉動銷5固定連接。所述轉動鈕其作用是方便儀器操作人員做旋轉調整操作。