[實用新型]低頻脈沖渦流探頭

無效

• 申請號: 200920163886.6
• 申請日: 2009-07-06
• 公開（公告）號: CN201527412U
• 公開（公告）日: 2010-07-14
• 發明（設計）人: 李長青;李長鋒;姜威;蘇文玉;侯施嬈;翟玉生
• 申請（專利權）人: 李長青
• 主分類號: G01N27/90
• 分類號: G01N27/90
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

所屬技術領域

本實用新型涉及一種低頻脈沖渦流探頭，特別用于各種工件表面下缺陷的檢測工作。

背景技術

渦流檢測作為五大常規無損檢測方法之一，在各種行業中應用非常廣泛。最近，隨著人們對渦流檢測技術的深入了解及計算機技術、儀器儀表技術和數字信號處理技術的發展，渦流無損檢測技術的應用取得了很大的突破。低頻脈沖渦流是近年發展起來的新檢測技術，主要用于表面、亞表面缺陷檢測，是渦流檢測的一種新的應用領域。傳統的渦流檢測技術由于集膚效應的影響，很難有效的檢測多層結構中的缺陷，而低頻脈沖渦流則可以很好的解決部分多層結構中的問題。低頻脈沖激勵信號由一組正弦信號組成，通過頻譜分析和渦流技術分析可得，響應信號中也會有多個正弦頻率成分。理論上，通過分析響應信號，就可以得到缺陷在不同頻率下的響應，從而大大提高檢測效率。低頻脈沖渦流的數據分析主要是基于檢測信號的特征提取：如檢測信號的尾部特征、檢測信號的最大值、檢測信號的最大值的出現的時間等。現有的低頻渦流探頭用檢測線圈來檢測信號，雖然價格便宜，可是對低頻信號檢測效果不好，而且體積比較大。本實用新型探頭采用霍爾元件來測量低頻磁場信號，體積小，而且測量準確，為渦流在線檢測系統的數據分析提供支持。

實用新型內容

本實用新型的目的在于改進上述現有技術中的不足而提供一種新型低頻脈沖渦流探頭。

本實用新型的目的通過以下措施來達到：

低頻脈沖渦流探頭包括一探頭接觸端面，激勵線圈，探頭外殼，激勵線圈的接線端頭，探頭外殼后端蓋的開口處，霍爾元件的接線端頭，霍爾元件；所述探頭外殼是一個帶后端蓋的圓管，所述圓管的后端蓋有一開口處，所述的激勵線圈的接線端頭和所述的霍爾元件的接線端頭從所述圓管的后端蓋開口處穿出；所述的探頭接觸端面和所述的探頭外殼連接，所述的激勵線圈和所述的霍爾元件固定在所述的探頭接觸端面上；所述的激勵線圈是空心線圈，所述霍爾元件放置在所述的激勵線圈中間空心處。

霍爾元件測量磁場的方法很簡單，只要給霍爾元件加上穩定直流電壓，霍爾元件就可以給出與磁場強度相關的模擬或數字信號。計算機通過分析低頻脈沖渦流的數據，提取檢測信號的特征：如檢測信號的尾部特征、檢測信號的最大值、檢測信號的最大值的出現的時間等，可以得到工件缺陷信息。現在，低頻脈沖渦流技術可以應用于多種行業、多種產品的在線檢測，特別是多層結構中的缺陷檢測、結構件疲勞裂紋探傷等。

本實用新型的優點在于：

本實用新型可以探測金屬工件表面下的缺陷；因為采用霍爾元件，低頻測量效果好，而且整個探頭體積小，便于攜帶。

附圖說明

圖1：本實用新型低頻脈沖渦流探頭的剖面結構示意圖。

具體實施方式

如圖1所示為本實用新型低頻脈沖渦流探頭的結構示意圖。新型渦流探頭，包括一探頭接觸端面1，激勵線圈2，探頭外殼3，激勵線圈的接線端頭4，探頭外殼后端蓋的開口處5，霍爾元件的接線端頭6，霍爾元件7。所述探頭外殼3是一個帶后端蓋的圓管，所述圓管的后端蓋有一開口處5，所述的激勵線圈的接線端頭4和所述的霍爾元件的接線端頭6從所述圓管的后端蓋開口處5穿出；所述的探頭接觸端面1和所述的探頭外殼3連接，所述的激勵線圈2和所述的霍爾元件7固定在所述的探頭接觸端面1上；所述的激勵線圈2是空心線圈；所述的霍爾元件7放置在所述的激勵線圈2中間空心處。

激勵線圈2安裝在探頭殼體3中，并且激勵線圈的接線端頭4和霍爾元件的接線端頭6從探頭外殼后端蓋的開口處5伸出。

使用渦流探頭探測缺陷時，探頭接觸端面1放在被測元件上，激勵線圈發射脈沖信號，霍爾元件檢測周圍磁場信息，產生探測信號，探測信號經過放大、濾波等電路后輸入到計算機中進行數據處理；然后就可以得到工件表面及表面下的缺陷信息。

采用本實用新型探頭的低頻脈沖渦流監測系統，可以應用于多種行業、多種產品的在線檢測，特別是金屬多層結構中的缺陷檢測、金屬結構件疲勞裂紋探傷等。