[實(shí)用新型]中央接線盒測(cè)試裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200920134433.0 | 申請(qǐng)日: | 2009-07-30 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN201489040U | 公開(kāi)(公告)日: | 2010-05-26 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 龍光展;羅剛;龐雷;陳勝波;劉健;陳軍;梁國(guó)虎;孟釗 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 比亞迪股份有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01R19/00 | 分類(lèi)號(hào): | G01R19/00 |
| 代理公司: | 暫無(wú)信息 | 代理人: | 暫無(wú)信息 |
| 地址: | 518118 廣東省深*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 中央 接線 測(cè)試 裝置 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及一種車(chē)用中央接線盒測(cè)試裝置,主要用于車(chē)用中央接線盒耐過(guò)電流強(qiáng)度性能測(cè)試。
背景技術(shù)
中央接線盒是是汽車(chē)上一個(gè)很重要的零部件。中央接線盒作為很多電器零部件的配電盒,集成了大量的保險(xiǎn)絲、繼電器等元件。工作時(shí)這些元件會(huì)流過(guò)很大的電流,且會(huì)產(chǎn)生大量熱量,導(dǎo)致中央接線盒溫度升高,嚴(yán)重時(shí)會(huì)燒壞這些元件。中央接線盒的好壞直接影響到汽車(chē)的操作穩(wěn)定性、安全性以及耐久性。所以,車(chē)用中央接線盒在裝車(chē)之前都必須經(jīng)過(guò)嚴(yán)格試驗(yàn)。試驗(yàn)包括元件壓降、過(guò)電流、鹽務(wù)酸試驗(yàn)等,其中過(guò)電流尤其重要。
對(duì)中央接線盒進(jìn)行耐過(guò)電流測(cè)試時(shí),一般是將中央接線盒中各元件分別串接入相應(yīng)的電路中,使得有一定大小的電流流過(guò)各元件;為了更好的模擬實(shí)際中中央接線盒的工作情況,在測(cè)試過(guò)程中并不是使得每個(gè)元件都同時(shí)有電流經(jīng)過(guò),而是讓部分元件有電流經(jīng)過(guò),然后在不同的時(shí)刻切換電流經(jīng)過(guò)的元件,從而測(cè)試中央接線盒在損壞前所能工作的時(shí)間。若該時(shí)間越長(zhǎng),則表明中央接線盒的耐過(guò)電流性能越好;相反,則耐過(guò)電流性能越差。
然而,要考核不同車(chē)型所用的中央接線盒的耐過(guò)電流強(qiáng)度性能并非易事。一是每款車(chē)型所用的車(chē)用中央接線盒差別很大,接口不同,要實(shí)現(xiàn)通用的測(cè)試很難;二是因?yàn)闇y(cè)試車(chē)用中央接線盒時(shí)需要提供很多路且電流各不相同的電路,如果用車(chē)上配套的實(shí)際負(fù)載,不但成本高,而且不適用于研發(fā)產(chǎn)品;如果用大功率電阻模擬,則很難滿(mǎn)足對(duì)特殊電阻值的要求。
實(shí)用新型內(nèi)容
本實(shí)用新型所要解決的技術(shù)問(wèn)題是,針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)中中央接線盒的測(cè)試裝置的通用性差問(wèn)題,從而提供一種通用性好、能夠?qū)Χ喾N中央接線盒進(jìn)行測(cè)試的中央接線盒測(cè)試裝置。
本實(shí)用新型所采用的技術(shù)方案是,一種中央接線盒測(cè)試裝置,包括總MCU控制模塊、多個(gè)次級(jí)MCU控制模塊、多路電子負(fù)載電路、與各電子負(fù)載電路電連接并采集其電流的電流采集電路以及相應(yīng)的電流顯示單元,所述總MCU控制模塊分別與各次級(jí)MCU控制模塊電連接,每一次級(jí)MCU控制模塊與一路或多路電子負(fù)載電路電連接,所述各次級(jí)MCU控制模塊根據(jù)總MCU控制模塊的命令發(fā)出電信號(hào)從而控制相應(yīng)電子負(fù)載電路電流的大小,所述電子負(fù)載電路的總路數(shù)至少與被測(cè)中央接線盒所包含的待測(cè)元件的數(shù)目相等,中央接線盒的各待測(cè)元件分別串接于各電子負(fù)載電路中,所述次級(jí)MCU控制模塊接收電流采集電路的輸出信號(hào)并控制電流顯示單元顯示各電子負(fù)載電路的電流。
本實(shí)用新型通過(guò)利用總MCU控制模塊以及次級(jí)MCU控制模塊來(lái)同時(shí)控制多路電子負(fù)載電路,充分的利用了電子負(fù)載電路電流可調(diào)的特點(diǎn)以及MCU控制模塊可同時(shí)控制多路電子負(fù)載電路的特點(diǎn),從而達(dá)到了真實(shí)的模擬中央接線盒在正常工作時(shí)的通電情景,通過(guò)觀察中央接線盒在模擬情況下所能進(jìn)行工作的時(shí)間而測(cè)出其耐過(guò)電流強(qiáng)度性能;因?yàn)殡娮迂?fù)載電路電流可根據(jù)實(shí)際需要而調(diào)節(jié),所以可對(duì)不同的中央接線盒進(jìn)行測(cè)試,從而實(shí)現(xiàn)了可通用的特點(diǎn)。
附圖說(shuō)明
圖1為本實(shí)用新型中央接線盒測(cè)試裝置的總的框架示意圖;
圖2為本實(shí)用新型優(yōu)選的一種中央接線盒測(cè)試裝置電子負(fù)載電路原理圖;
圖3為電流指令的濾波電路的原理圖;
圖4為電流采集電路的原理圖;
圖5為電壓反饋電路的原理圖;
圖6為電壓采集電路的原理圖;
具體實(shí)施方式
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