[實用新型]一種LCM測試裝置有效
| 申請號: | 200920134319.8 | 申請日: | 2009-07-29 |
| 公開(公告)號: | CN201489794U | 公開(公告)日: | 2010-05-26 |
| 發明(設計)人: | 高策;曾小榮 | 申請(專利權)人: | 比亞迪股份有限公司 |
| 主分類號: | G09G3/00 | 分類號: | G09G3/00;G01R31/00 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 518118 廣東省深*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 lcm 測試 裝置 | ||
【技術領域】
本實用新型涉及一種LCM的測試裝置。
【背景技術】
LCM(LCD?Module,液晶顯示模塊)的結構通常由LED背光、Panel、FPC、TP等部分構成。對于一件LCM產品的生產,其LCM的測試是一個必不可少的過程。目前,在對不同型號的LCM進行測試時,一般會受到接口、IC、背光連接方式、TP功能、OTP校正等因素的影響,因此需要分別設計專用的LCM測試裝置進行測試。當LCM產品型號較多時,則需要大量的測試裝置與之相對應,從而造成成本的增加,且在測試裝置的維護上也增加了麻煩。
【實用新型內容】
本實用新型針對現有的LCM測試裝置只能對單個型號的LCM產品進行測試的缺點,提供了一種能夠實現對不同型號的LCM產品進行測試的LCM測試裝置。
本實用新型的技術方案是這樣實現的:一種LCM測試裝置,包括功能測試模塊、存儲模塊、控制器以及可更換的轉接模塊,所述功能測試模塊以及存儲模塊分別與所述控制器電性連接,且待測LCM通過所述轉接模塊與所述控制器電性連接。
本實用新型提供的LCM測試裝置,由于采用了可更換的轉接模塊對待測LCM進行測試,因此在待測LCM具有多種不同型號的時候,僅需要通過更換轉接模塊的類型即可實現對該LCM的測試,而不需要如現有技術中更換所有LCM測試裝置以實現對待測LCM進行測試,因此在一定程度上降低了LCM的測試成本,且使得測試裝置的維護變得相對簡單,在測試的過程中還能夠一定程度上提高測試的效率。
本實用新型的特征及優點將通過實施例結合說明書附圖進行詳細說明。
【附圖說明】
圖1為本實用新型提供的LCM測試裝置一種實施例的結構示意圖;
圖2為本實用新型提供的LCM測試裝置另一種實施例的結構示意圖;
圖3為本實用新型提供的LCM測試裝置一種實施例的轉接模塊電路示意圖。
【具體實施方式】
為了使本實用新型的目的、技術方案及優點更加清楚明白,以下結合附圖及實施例,對本實用新型進行進一步詳細說明。應當理解,此處所描述的具體實施例僅用以解釋本實用新型,并不用于限定本實用新型。
參照圖1,一種LCM測試裝置,其特征在于,包括功能測試模塊1、存儲模塊5、控制器2以及可更換的轉接模塊3,所述功能測試模塊1以及存儲模塊5分別與所述控制器2電性連接,且待測LCM4通過所述轉接模塊3與所述控制器2電性連接。根據該實用新型的一個優選實施例,所述控制器2包括的芯片為C8051F126芯片。所述存儲模塊5為Nand?Flash存儲芯片,且所述Nand?Flash存儲芯片的存儲容量大小優選為16M。該技術領域的技術人員不難想到,對于上述的控制器2的芯片的選用,不僅僅限于C8051F126芯片,很多型號的芯片都可以實現其相同的功能,例如ARM微處理器,對于采用不同的處理芯片,其對應于不同的硬件電路以及軟件設計。同樣,對于所述存儲模塊5的選用也可采用其他的存儲芯片進行替代,這里不做一一贅述。
在具體的測試過程中,為了實現對各種型號待測LCM?4的測試,確保該LCM測試裝置的通用性,按照本實用新型的一種實施方式,參照圖2,所述功能測試模塊包括:電壓生成電路11、背光驅動電路12、OTP校正電路13、按鍵電路14以及串口通信電路15,且分別連接至所述控制器2。
下面,就上述的電壓生成電路11、背光驅動電路12、OTP校正電路13、按鍵電路14以及串口通信電路15分別作一簡單的介紹,如下:
電壓生成電路11,該電路用于為具有不同IO接口電壓的待測LCM4提供不同大小的IO接口電壓IOVCC。按照本實用新型的一種實施方式,可以通過4顆LDO(low?dropout?regulator,低壓差線性穩壓器)產生4種不同大小的電壓值,然后通過模擬開關選擇相應電壓值,從而通過雙向總線信號收發器(dual-supply?bus?transceiver),例如型號為an74avc16t245,進而將控制器2的IO接口輸出電壓轉換成該電壓值標準。
背光驅動電路,該電路用于實現對待測LCM的背光源,例如背光LED燈的驅動。
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