[實用新型]一種二維位移測試裝置

有效

• 申請號: 200920133724.8
• 申請日: 2009-06-26
• 公開（公告）號: CN201508165U
• 公開（公告）日: 2010-06-16
• 發明（設計）人: 鄒奇峰
• 申請（專利權）人: 比亞迪股份有限公司
• 主分類號: G01B11/03
• 分類號: G01B11/03
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本實用新型涉及一種位移測試裝置，尤其是涉及一種二維位移測試裝置。

背景技術

測試物體在一平面上的位移時，至少需要測得該物體在兩個坐標方向的位移值，位移的大小可以用該物體所在位置處的坐標值來表示。通常為了獲得物體所在位置的兩個坐標值，一般采用的方法是在兩個坐標方向上分別設置一位移傳感器，分別來測試物體在這兩個方向上的位移的大小，從而測得物體最終所在位置的坐標值，從而得出物體的位移的大小。在兩個坐標方向上分別設置位移傳感器會帶來很多的缺點，因為采用兩個傳感器，從而使得硬件結構比較復雜；整個測試裝置占用的空間大，從而使得安裝不方便，測試精度低；還有就是成本較高等。

實用新型內容

本實用新型主要解決的問題是消除測試物體平面二維位移時采用兩個傳感器而造成硬件結構比較復雜、安裝不方便、測試精度低等問題，從而提供一種能夠同時測量兩個坐標方向位移的二維位移測試裝置。

本實用新型采用的技術方案是，一種二維位移測試裝置，包括光電傳感器模塊，光纖式控制模塊，單片機模塊，數據顯示模塊；

光電傳感器模塊，該模塊測量二維位移測試裝置的位移的變化信息，并將該位移的變化信息通過一定的數據格式發送給光纖式控制模塊；

光纖式控制模塊，該模塊接收由光電傳感器模塊發送的位移數據，并將接收到的位移數據進行格式轉換，使得轉換后的位移數據有利于單片機模塊的處理，然后將經格式轉換后的位移數據發送到單片機模塊；

單片機模塊，該模塊接收由光纖式控制模塊發送來的位移數據，并對接收到的位移數據進行累加處理，將該累加后的位移數據轉換為二維坐標數據，然后將該二維坐標數據發送到數據顯示模塊；

數據顯示模塊，該模塊接收由單片機模塊發送來的數據并將數據通過顯示裝置顯示出來。

通過光電傳感器部分對外部參照物進行拍照并對所拍攝的照片進行分析得出整個二維位移測試裝置的位移，然后通過光纖式控制模塊和單片機模塊對所測得的位移數據的處理，最終通過顯示模塊顯示出來，從而達到了實時測量并顯示出物體的平面二維位移，該位移測試裝置是將上面所述四個模塊集成在一起而構成的一個整體，從而簡化了結構，使得該位移測試裝置的安裝變得簡單，因為只有一個裝置，所以位移的測試精度有了很好的保證。

作為優選，所述光電傳感器模塊包括發光二極管、光學透鏡、電路板、光感應芯片及外殼，所述電路板通過螺釘與外殼固定相連并處于外殼內部，在電路板的中間部分開有一通孔，在電路板上通孔的正下方的外殼上也開有一通孔，所述光感應芯片具有一感光眼，光感應芯片焊接在電路板上且其感光眼部分位于電路板通孔的正上方，所述發光二極管焊接在電路板上，且發光二極管位于電路板通孔的邊緣并與光感應芯片處于直接相對的位置，在電路板的通孔與外殼的通孔之間固定安裝有一光學透鏡，所述光學透鏡通過其兩端的平板安裝部分與外殼固定相連，在光學透鏡的中間部分具有一倒錐形的凸透鏡和一具有空腔的棱鏡，所述凸透鏡部分位于光感應芯片感光眼的正下方，所述棱鏡部分緊鄰凸透鏡部分，該棱鏡具有一空腔，該空腔具有上、下兩個相互平行的斜面，所述上、下斜面可將發光二極管發出的光反射到光感應芯片感光眼下方的外殼通孔外。

作為優選，所述光纖式控制模塊主要包括一光纖式控制芯片，該芯片接受由光感應芯片傳出的數據，并將接受到的數據的格式轉換為PS/2，然后將PS/2格式的數據發送到單片機模塊。

作為優選，所述單片機模塊主要包括一單片機，該單片機接受由光纖式控制模塊發送的PS/2格式數據，并將該PS/2格式數據進行處理二維成坐標值后傳送到數據顯示模塊。

作為優選，所述數據顯示模塊主要包括數碼管及其驅動電路，所述驅動電路接受由單片機模塊傳送的數據并將接受到的數據通過驅動所述數碼管顯示出來。

附圖說明

圖1為本實用新型二維位移測試裝置的整體框架示意圖；

圖2為本實用新型二維位移測試裝置的光電傳感器模塊的結構示意圖；

圖3為本實用新型二維位移測試裝置所采用的光學透鏡的立體示意圖。

具體實施方式