[實(shí)用新型]一種USB設(shè)備控制芯片測試系統(tǒng)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200920133396.1
• 申請日: 2009-06-30
• 公開（公告）號: CN201440165U
• 公開（公告）日: 2010-04-21
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 覃廣耀;陳法軍;區(qū)學(xué)津
• 申請（專利權(quán)）人: 比亞迪股份有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;B07C5/344
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術(shù)領(lǐng)域

本實(shí)用新型涉及芯片測試領(lǐng)域，尤其涉及一種USB設(shè)備控制芯片測試系統(tǒng)。

背景技術(shù)

隨著大量支持通用串行總線(Universal?Serial?Bus，USB)接口技術(shù)的計(jì)算機(jī)裝置的普及以及Windows操作系統(tǒng)平臺的廣泛應(yīng)用，關(guān)于USB接口的使用越來越普及。目前，使用USB接口的計(jì)算機(jī)外設(shè)設(shè)備包括：打印機(jī)、數(shù)字相機(jī)、掃描機(jī)及USB攝像頭等。在這些外設(shè)中，毫無例外的都使用了USB設(shè)備控制芯片。這些芯片實(shí)現(xiàn)了USB接口的功能，并為了降低成本，往往將針對具體應(yīng)用的功能也集成在同一個(gè)芯片上。

通常，USB設(shè)備控制芯片在封裝完成之后，需要測試其工作性能是否完善，首要的重點(diǎn)就是測試其是否能夠正常工作，而正常工作的最重要環(huán)節(jié)就是USB設(shè)備控制芯片能夠完整而且正確無誤地按照其功能要求將數(shù)據(jù)進(jìn)行發(fā)送或者接收，因此，對數(shù)據(jù)發(fā)送或接收的準(zhǔn)確性進(jìn)行測試是產(chǎn)品檢測中最關(guān)鍵的環(huán)節(jié)。現(xiàn)有的USB設(shè)備控制芯片測試方法是：搭建USB設(shè)備控制芯片的應(yīng)用電路，所述應(yīng)用電路具有USB總線接口。在測試時(shí)，安裝有USB設(shè)備控制芯片的應(yīng)用電路的USB總線接口人工插接到PC機(jī)上，然后通過PC機(jī)驗(yàn)證芯片功能是否實(shí)現(xiàn)。測試完畢后，再人工將USB總線接口拔出，最后將USB設(shè)備控制芯片取出。因此，現(xiàn)有的方法測試步驟繁瑣、成本較高，在量產(chǎn)時(shí)效率較低。為降低成本、提高量產(chǎn)測試效率，有必要對測試方法進(jìn)行改進(jìn)。

實(shí)用新型內(nèi)容

本實(shí)用新型所要解決的技術(shù)問題是：針對現(xiàn)有技術(shù)中測試方法和系統(tǒng)，測試效率低下、成本較高，提供一種低成本的USB設(shè)備控制芯片測試系統(tǒng)。

本實(shí)用新型所采用的技術(shù)方案是：一種USB設(shè)備控制芯片測試系統(tǒng)，包括USB主機(jī)控制器、與USB主機(jī)控制器相連用于實(shí)現(xiàn)USB主機(jī)功能的微控制器、時(shí)序控制電路、USB設(shè)備控制芯片治具和指示裝置；所述USB設(shè)備控制芯片治具包括用于安置USB設(shè)備控制芯片的USB設(shè)備控制芯片承載裝置和可以與待測USB設(shè)備控制芯片連接的USB設(shè)備控制芯片應(yīng)用電路；所述USB主機(jī)控制器與USB設(shè)備控制芯片應(yīng)用電路連接，用于傳送信號；所述時(shí)序控制電路用于在微控制器的控制下通過USB設(shè)備控制芯片應(yīng)用電路向待測USB設(shè)備控制芯片發(fā)送信號；所述指示裝置與微控制器連接，用于指示產(chǎn)品的好壞。

本實(shí)用新型技術(shù)方案的有益效果是：本實(shí)用新型通過微控制器與USB主機(jī)控制器連接實(shí)現(xiàn)USB主機(jī)的功能，所以相對于現(xiàn)有技術(shù)測試系統(tǒng)中的PC機(jī)，本實(shí)用新型的成本有所降低。

附圖說明

圖1本實(shí)用新型實(shí)施例一的USB設(shè)備控制芯片測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2本實(shí)用新型實(shí)施例二的USB設(shè)備控制芯片測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖3本實(shí)用新型實(shí)施例二的USB設(shè)備控制芯片測試系統(tǒng)的使用方法流程圖。

具體實(shí)施例方式

為了使本實(shí)用新型的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白，以下結(jié)合附圖及實(shí)施例，對本實(shí)用新型進(jìn)行步詳細(xì)說明。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實(shí)施例僅僅用以解釋本實(shí)用新型，并不用于限定本實(shí)用新型。

圖1是本實(shí)用新型實(shí)施例一的USB設(shè)備控制芯片測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖；圖2是本實(shí)用新型實(shí)施例二的USB設(shè)備控制芯片測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖；圖3是本實(shí)用新型實(shí)施例二的USB設(shè)備控制芯片測試系統(tǒng)的使用方法流程圖。

實(shí)施例一

圖1是本實(shí)用新型實(shí)施例一的USB設(shè)備控制芯片測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖，參照圖1，提出本實(shí)用新型的第一實(shí)施例。