[實用新型]物質(zhì)表面性質(zhì)參數(shù)檢測裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200920126082.9 | 申請日: | 2009-01-12 |
| 公開(公告)號: | CN201344918Y | 公開(公告)日: | 2009-11-11 |
| 發(fā)明(設計)人: | 李航;朱華玲;侯捷;吳勞生 | 申請(專利權(quán))人: | 西南大學 |
| 主分類號: | G01N27/60 | 分類號: | G01N27/60 |
| 代理公司: | 北京同恒源知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人: | 趙榮之 |
| 地址: | 40071*** | 國省代碼: | 重慶;85 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 物質(zhì) 表面 性質(zhì) 參數(shù) 檢測 裝置 | ||
1.物質(zhì)表面性質(zhì)參數(shù)檢測裝置,其特征在于:所述物質(zhì)表面性質(zhì)參數(shù)檢測裝置包括離子檢測電極、溫度傳感器和信號處理電路,所述離子檢測電極、溫度傳感器與信號處理電路電連接;所述離子檢測電極包括氫離子檢測電極、二價金屬陽離子檢測電極和一價金屬陽離子檢測電極,所述信號處理電路包括處理器和3個毫伏計,所述3個毫伏計的輸入端分別與氫離子檢測電極、二價金屬陽離子檢測電極或一價金屬陽離子檢測電極的輸出端電連接,所述3個毫伏計的輸出端與處理器電連接。
2.如權(quán)利要求1所述的物質(zhì)表面性質(zhì)參數(shù)檢測裝置,其特征在于:所述二價金屬陽離子檢測電極為鈣離子檢測電極或鎂離子檢測電極,所述一價金屬陽離子檢測電極為鈉離子檢測電極或鉀離子檢測電極。
3.如權(quán)利要求2所述的物質(zhì)表面性質(zhì)參數(shù)檢測裝置,其特征在于:所述離子檢測電極為一體設置的鈣離子檢測電極、鉀離子檢測電極和氫離子檢測電極。
4.如權(quán)利要求3所述的物質(zhì)表面性質(zhì)參數(shù)檢測裝置,其特征在于:所述信號處理電路還包括pH運算器、鉀離子活度運算器和鈣離子活度運算器,所述pH運算器連接于與氫離子檢測電極連接的毫伏計與處理器之間,所述鉀離子活度運算器連接于與鉀離子檢測電極連接的毫伏計與處理器之間,所述鈣離子活度運算器連接于與鈣離子檢測電極連接的毫伏計與處理器之間。
5.如權(quán)利要求1所述的物質(zhì)表面性質(zhì)參數(shù)檢測裝置,其特征在于:所述信號處理電路還包括信號預處理電路,所述信號預處理電路包括放大器、濾波器和/或A/D轉(zhuǎn)換器。
6.如權(quán)利要求1至5中任一項所述的物質(zhì)表面性質(zhì)參數(shù)檢測裝置,其特征在于:所述物質(zhì)表面性質(zhì)參數(shù)檢測裝置還包括顯示裝置,所述顯示裝置與信號處理電路通過I/O接口連接。
7.如權(quán)利要求1至5中任一項所述的物質(zhì)表面性質(zhì)參數(shù)檢測裝置,其特征在于:所述物質(zhì)表面性質(zhì)參數(shù)檢測裝置還包括輸入裝置,所述輸入裝置與信號處理電路通過I/O接口連接。
8.如權(quán)利要求1至5中任一項所述的物質(zhì)表面性質(zhì)參數(shù)檢測裝置,其特征在于:所述物質(zhì)表面性質(zhì)參數(shù)檢測裝置還包括樣品容納裝置,所述樣品容納裝置上設置有進液管和出液管,樣品容納裝置內(nèi)還設置有攪拌裝置;離子檢測電極和溫度傳感器設置于所述樣品容納裝置內(nèi)。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于西南大學,未經(jīng)西南大學許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/200920126082.9/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。





