[實用新型]光電巖石結構面粗糙度測量儀無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200920123194.9 | 申請日： | 2009-06-25 |
| 公開（公告）號： | CN201463849U | 公開（公告）日： | 2010-05-12 |
| 發(fā)明（設計）人： | 馬小杰;杜時貴;施燁輝;馬大杰;宗麗杰;王偉;干學宏;江晨暉 | 申請（專利權）人： | 浙江建設職業(yè)技術學院 |
| 主分類號： | G01B11/30 | 分類號： | G01B11/30;G01B11/24 |
| 代理公司： | 杭州天正專利事務所有限公司 33201 | 代理人： | 王兵;王利強 |
| 地址： | 311231 *** | 國省代碼： | 浙江;33 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 光電 巖石 結構 粗糙 測量儀 | ||
【權利要求書】：
1.一種光電巖石結構面粗糙度測量儀，包括固定板和用于探測物體表面的探針，探針安裝在固定板上，其特征在于：所述光電巖石結構面粗糙度測量儀還包括光電板和用于按照光電板的移位信號記錄物體的輪廓曲線圖的輪廓曲線成形模塊，所述光電板可上下滑動地緊靠在所述固定板上，所述光電板與所述輪廓曲線成形模塊連接。
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