[實用新型]光探測器有效避光的樣品測試裝置

有效

• 申請號: 200920110653.X
• 申請日: 2009-08-06
• 公開（公告）號: CN201464356U
• 公開（公告）日: 2010-05-12
• 發明（設計）人: 譚永紅;申玲
• 申請（專利權）人: 北京濱松光子技術股份有限公司
• 主分類號: G01N21/01
• 分類號: G01N21/01
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本實用新型適用于對測試條件要求為單管、防漏光的系統，比如單管ATP、單管水質安全、單管農藥殘留等測試、分析類儀器。

背景技術

現代生物學、化學、醫學、材料學等領域中，對樣品光信號的檢測分析越來越受到關注，其中大多數樣品所產生的光信號極其微弱，為最大限度地提高檢測極限，必須對光信號所含的光子數目進行計數檢測。目前市場上利用光子計數法進行檢測的儀器，主要是利用光電倍增管構成的光探測器來進行采集、檢測，其結構如圖1所示，樣品測試裝置包括探頭筒1、樣品測試抽屜2、樣品室3、抽屜頭4、測試窗口5和光探測器6，使用時拉出樣品測試抽屜2，在樣品室3內放入待測試樣品，之后推回樣品測試抽屜2，啟動測試裝置，光探測器6會通過測試窗口5對待測試樣品進行測試。其中樣品測試抽屜2和探頭筒1彼此相接觸的面呈一平面，在這一平面上D處和E處的相應位置處沒有任何的凸凹結構設計。這樣設計的缺點在于推拉樣品測試抽屜2時，樣品測試抽屜2與探頭筒1之間的配合縫隙間會有漏光，該光雖然很弱，但是對于敏感的光探測器而言，會明顯增加本底計數，并呈現極不穩定狀態，影響檢測結果。

實用新型內容

為了解決上述問題，本實用新型對樣品測試裝置的結構進行了改進。樣品測試裝置包括探頭筒、樣品測試抽屜、樣品室、抽屜頭、測試窗口和光探測器，以樣品室的下邊緣為參考線，在樣品室和樣品測試抽屜尾部之間的樣品測試抽屜下邊有一凸起臺階結構，在測試窗口和抽屜頭之間的探頭筒上邊有一凹陷臺階結構。

本實用新型結構簡單、加工方便，當樣品測試抽屜拉出到極限位置時，凸起臺階結構和凹陷臺階結構能相互扣合，既能對樣品測試抽屜限位以防止其拉出探頭筒，又能有效的阻止雜散自然光沿著樣品測試抽屜和探頭筒的配合面進入到探頭筒內測試窗口、進而照射到光探測器上。

附圖說明

圖1是樣品測試裝置現有設計的結構示意圖。

圖2是本實用新型樣品測試裝置在樣品測試抽屜閉合時的結構示意圖。

圖3是本實用新型樣品測試裝置在樣品測試抽屜拉出時的結構示意圖。

圖4是本實用新型樣品測試抽屜和探頭筒相分離的結構示意圖。

具體實施方式

下面結合附圖，具體說明本實用新型的實施方式。

如圖2所示，樣品測試裝置包括探頭筒1、樣品測試抽屜2、樣品室3、抽屜頭4、測試窗口5和光探測器6，以樣品室3下邊緣所在的直線為參考線，在樣品室3和樣品測試抽屜2尾部之間的樣品測試抽屜2下邊有一凸起臺階結構，在測試窗口5和抽屜頭4之間的探頭筒1上邊有一凹陷臺階結構，為了達到較好的防止雜散自然光照射到光探測器上的效果，凸起臺階結構越靠近樣品室3越好，凹陷臺階結構越靠近測試窗口5越好.清晰的結構示意如圖4所示，樣品測試抽屜2有一凸起的臺階結構A，探頭筒1有一凹陷的臺階結構B，凸起的臺階結構A和凹陷的臺階結構B相對應的面能夠緊密接觸，并且凸起的高度和凹陷的深度一致.如圖3所示，當樣品測試抽屜2從探頭筒1右端拉出到極限時，兩個臺階結構相互緊密扣合，既能限制樣品測試抽屜2拉出探頭筒1，又能有效防止樣品測試抽屜2外部的自然光進入到探頭筒1內從而使光探測器6本底計數明顯增加、呈現極不穩定狀態的情況，保證了檢測結果的準確性.

為了使兩個臺階結構扣合更緊密、以更有效的防止雜散自然光照射到光探測器上，如圖3的I處，可以在兩個臺階結構間固定一個黑色避光膠條7，這個黑色避光膠條7可以固定在探頭筒1的凹陷臺階結構側邊，即圖4中凹陷臺階結構B的側邊；也可以固定在樣品測試抽屜2的凸起臺階結構側邊，即圖4中凸起臺階結構A的側邊。黑色避光膠條7由柔軟、有彈性的黑色材料制成，比如黑色海綿膠條。黑色避光膠條7可以使兩個臺階結構扣合更緊密，同時減少兩個臺階結構扣合時的摩擦。