[實用新型]測試板

無效

• 申請號: 200920108139.2
• 申請日: 2009-05-14
• 公開（公告）號: CN201409138Y
• 公開（公告）日: 2010-02-17
• 發明（設計）人: 周全;吳雙起;張紅蘋
• 申請（專利權）人: 華為技術有限公司
• 主分類號: H04B10/08
• 分類號: H04B10/08
• 代理公司: 北京同立鈞成知識產權代理有限公司
• 代理人: 劉 芳

技術領域

本實用新型實施例涉及測試技術，特別涉及一種測試板。

背景技術

為適應通信網絡對傳輸帶寬的要求，可以采用多通道光收發器件，通過增加傳輸信道的集成度來達到增加通信傳輸系統總容量的目的。例如，在光纖通信的波分復用(Wavelength?Division?Multiplexing，以下簡稱：WDM)技術中使用的光集成器件(Photonic?Integrated?Device，以下簡稱：PID)即在單芯片中集成了多路不同波長光的傳輸通道。現有技術對多通道光收發器件例如PID器件的測試是通過將PID器件連接在測試板上，并由測試儀表、測試板和PID器件共同搭建形成光傳輸鏈路的測試系統來進行測試的。

圖1為現有技術提供的測試板應用于測試系統的系統架構圖，如圖1所示，現有技術中針對多通道光收發器件的性能測試，以PID器件為例，是通過將測試儀表脈沖信號發生器(Pulse?Pattern?Generator，以下簡稱：PPG)、誤碼檢測單元(Error?Detector，以下簡稱：ED)與測試板(TESTBENCH)、連接在該測試板上的PID器件連接成供測試數據傳輸的端到端的傳輸鏈路，并將同種測試項目的測試信號逐次輸入PID器件的每個傳輸通道中來完成整個PID器件各傳輸通道的性能測試。圖1中的PID器件具有N個光傳輸通道，包括合波器(MUX)、分波器(DEMUX)、激光器(Laser)、驅動器(Driver)、光電二極管(PIN)和數據恢復部件(CDR)等功能部件，該PID器件的收發電接口和測試板上的輸入輸出接口連接，并通過該輸入輸出接口和測試板的對外接口相通。如圖1所示，該測試板的測試信號接收端和發送端分別具有N個對外接口，該N個對外接口分別和PID器件中集成的N個測試通道相通。外部儀表PPG和ED通過電纜連線連接到測試板的對外接口上。在測試中，測試信號或串擾測試中的干擾信號在PID器件傳輸通道之間的切換均是通過手工切換外部測試儀表PPG、ED與測試板對外接口的電纜連線來實現的。

設計人在實現本實用新型的過程中發現，上述PID器件等多通道光收發器件的性能測試尚存在如下技術缺陷：

1、測試過程中人工手動切換測試通道會使得測試效率較低，延長了多通道光收發器件的測試周期；而且，長期測試會對測試板的對外接口造成可觀的磨損，縮短測試板的使用壽命；此外，手動切換中的過多外力介入，會對整套測試環境造成影響，降低測試數據的可信度；

2、多通道光收發器件中集成多路傳輸通道會使得測試板的對外接口也相應較多，對測試板的布局布線和對外接口的排布造成很大壓力。

實用新型內容

本實用新型實施例提供一種測試板，解決現有手動切換測試通道導致的測試效率和測試數據可信度均較低的問題，實現測試通道間的自動切換，提高測試效率和測試數據的可信度，并且減少對測試板對外接口的磨損，降低了測試板的復雜度。

本實用新型實施例提供一種測試板，包括：

用于將測試信號發送至自動選通的多通道光收發器件中的待測通道的第一電交叉單元，所述第一電交叉單元包括用于接收測試信號的一個第一輸入端和用于分別連通多通道光收發器件中多個通道的多個第一輸出端；以及，

用于將所述待測通道輸出的測試信號自動輸出至信號檢測單元的第二電交叉單元，所述第二電交叉單元包括用于分別連通多通道光收發器件中多個通道的多個第二輸入端和用于與所述信號檢測單元連接的一個第二輸出端。

本實用新型實施例的測試板通過設置電交叉單元，利用該電交叉單元將測試信號自動發送至多通道光收發器件中的待測通道，并自動接收及將該待測通道輸出的測試信號輸出至信號檢測單元，解決了現有測試方法的效率和測試數據可信度均較低的問題，實現了待測通道間的自動切換，提高了測試效率和測試數據的可信度，并且可以減少測試板對外接口的磨損，降低測試板的復雜度。

附圖說明

圖1為現有技術提供的測試板應用于測試系統的系統架構圖；

圖2為本實用新型實施例一提供的測試板的結構示意圖；

圖3為本實用新型實施例二提供的測試板的結構示意圖；

圖4為本實用新型實施例二提供的測試板應用于測試系統的系統架構圖。

具體實施方式

下面結合附圖和具體實施例進一步說明本實用新型實施例的技術方案。