[實用新型]低維納米材料顯微結構與電學性能測試裝置無效
| 申請號： | 200920107022.2 | 申請日： | 2009-05-15 |
| 公開（公告）號： | CN201637699U | 公開（公告）日： | 2010-11-17 |
| 發明（設計）人： | 韓曉東;劉攀;張澤 | 申請（專利權）人： | 北京工業大學 |
| 主分類號： | G01N23/04 | 分類號： | G01N23/04;G01N27/00;G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京思海天達知識產權代理有限公司 11203 | 代理人： | 劉萍 |
| 地址： | 100124 *** | 國省代碼： | 北京;11 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 納米 材料 顯微結構 電學 性能 測試 裝置 | ||
【權利要求書】：
1.一種低維納米材料顯微結構與電學性能測試裝置，其特征在于：
在襯底的上方是非晶層，下方是阻擋層，阻擋層和襯底的中間部分被刻蝕掉形成窗口，在非晶層上是金屬電極，金屬電極之間是低維納米材料，低維納米材料位于非晶層上對著窗口的正上方，低維納米材料上是非晶阻擋層，金屬電極上引出導線。
下載完整專利技術內容需要扣除積分，VIP會員可以免費下載。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于北京工業大學，未經北京工業大學許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/200920107022.2/1.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇：甲烷傳感器
- 下一篇：自動燈檢機用壓桿機構
