[實(shí)用新型]集成電路芯片測(cè)試儀無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200920106484.2 | 申請(qǐng)日: | 2009-03-27 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN201464611U | 公開(kāi)(公告)日: | 2010-05-12 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 孔睿;李莉 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 孔睿 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01R31/28 | 分類(lèi)號(hào): | G01R31/28 |
| 代理公司: | 北京雙收知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11241 | 代理人: | 李云鵬 |
| 地址: | 100083 北*** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 集成電路 芯片 測(cè)試儀 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及一種測(cè)試儀,特別是一種用于對(duì)集成電路芯片進(jìn)行測(cè)試的測(cè)試儀。
背景技術(shù)
現(xiàn)有的集成電路芯片測(cè)試儀,參見(jiàn)圖1,包括芯片卡槽11、單片機(jī)22、鍵盤(pán)33、顯示燈44以及顯示屏55,其中芯片卡槽11連接單片機(jī)22,用于連接待測(cè)試的集成電路芯片;鍵盤(pán)33連接單片機(jī)22,有四個(gè),用于進(jìn)行上翻和下翻查找芯片型號(hào),并進(jìn)行復(fù)位和確認(rèn);顯示燈44連接單片機(jī)22,用于顯示待測(cè)集成電路芯片的好壞;顯示屏55連接單片機(jī)22,用于顯示要查找的芯片型號(hào);單片機(jī)22用于存儲(chǔ)相應(yīng)的集成電路芯片的特征,在顯示屏55上顯示出來(lái),以提供按下鍵盤(pán)33對(duì)芯片型號(hào)的查找,并檢測(cè)集成電路芯片的好壞,通過(guò)相應(yīng)的顯示燈44進(jìn)行顯示。
但是現(xiàn)有的集成電路芯片測(cè)試儀,只能通過(guò)上翻或下翻進(jìn)行查找,查找時(shí)間長(zhǎng),并且不方便,且只有在知道芯片型號(hào)的情況下才能進(jìn)行查找,并測(cè)試好壞,不能直觀反映芯片的情況。
實(shí)用新型內(nèi)容
針對(duì)上述現(xiàn)有技術(shù)的缺陷,本實(shí)用新型的目的是提供一種操作方便,得到結(jié)果快速準(zhǔn)確,測(cè)試結(jié)果顯示清楚、簡(jiǎn)單、明了,價(jià)格便宜,便于檢測(cè)和修改的集成電路芯片測(cè)試儀。
一種集成電路芯片測(cè)試儀,包括芯片卡槽、單片機(jī)、鍵盤(pán)、顯示燈和液晶顯示器;
所述芯片卡槽用于連接待測(cè)的集成電路芯片;
所述鍵盤(pán)用于輸入待測(cè)集成電路芯片的型號(hào)或者管腳特性以及進(jìn)行功能切換、確認(rèn)和復(fù)位;
所述顯示燈用于顯示測(cè)量結(jié)果;
所述液晶顯示器用于顯示按鍵輸入的信息,并顯示集成電路芯片的芯片型號(hào)、邏輯符號(hào)和邏輯表達(dá)式;
所述單片機(jī)用于存儲(chǔ)集成電路芯片的型號(hào)、邏輯符號(hào)和邏輯表達(dá)式,測(cè)量所述芯片卡槽上插入的待測(cè)集成電路芯片的好壞,并指示所述顯示燈和所述液晶顯示器顯示結(jié)果,令所述液晶顯示器顯示集成電路芯片的邏輯符號(hào)和邏輯表達(dá)式,接收所述鍵盤(pán)鍵入的集成電路芯片的型號(hào)或者管腳特性,令所述液晶顯示器顯示鍵入的集成電路芯片的邏輯符號(hào)和邏輯表達(dá)式;
所述5V直流源為所述芯片卡槽、所述單片機(jī)、所述鍵盤(pán)、所述顯示燈和所述液晶顯示器提供5V直流電源;
還包括第一擴(kuò)展接口、第二擴(kuò)展接口;
所述第一擴(kuò)展接口用于連接所述單片機(jī)和所述液晶顯示器,擴(kuò)展所述單片機(jī)的端口;
所述第二擴(kuò)展接口用于連接所述單片機(jī)和所述鍵盤(pán)以及顯示燈,擴(kuò)展所述單片機(jī)的端口。
本實(shí)用新型的集成電路芯片測(cè)試儀,其中所述單片機(jī)存儲(chǔ)74系列的00/02/04/08/10/11/20/21/27/30芯片和74/109/160/245時(shí)序芯片的邏輯符號(hào)和邏輯表達(dá)式。
本實(shí)用新型述的集成電路芯片測(cè)試儀,其中所述鍵盤(pán)為16個(gè)按鍵的鍵盤(pán)。
本實(shí)用新型的集成電路芯片測(cè)試儀,其中所述顯示燈有三個(gè),第三顯示燈、第二顯示燈、第一顯示燈,分別為紅色、綠色和白色。
本實(shí)用新型的集成電路芯片測(cè)試儀,其中所述5V直流源采用變壓器將220V交流電變?yōu)?v直流電,再通過(guò)集成穩(wěn)壓器轉(zhuǎn)換成穩(wěn)定的5V輸出,所述集成穩(wěn)壓器的型號(hào)為7805。
該專(zhuān)利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專(zhuān)利權(quán)人授權(quán)。該專(zhuān)利全部權(quán)利屬于孔睿,未經(jīng)孔睿許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買(mǎi)此專(zhuān)利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/200920106484.2/2.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專(zhuān)利網(wǎng)。
- 上一篇:IC籌碼分揀編碼機(jī)
- 下一篇:自供電電力故障指示器
- 同類(lèi)專(zhuān)利
- 專(zhuān)利分類(lèi)
G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試





