[實用新型]一種超聲波探傷專用試塊

無效

• 申請號: 200920103903.7
• 申請日: 2009-07-28
• 公開（公告）號: CN201429590Y
• 公開（公告）日: 2010-03-24
• 發明（設計）人: 李樹軍;牛曉光;郝紅衛;郝曉軍;薛永波;梁紅方
• 申請（專利權）人: 河北省電力研究院
• 主分類號: G01N29/30
• 分類號: G01N29/30;G01N29/04
• 代理公司: 石家莊新世紀專利商標事務所有限公司
• 代理人: 張貳群

技術領域

本實用新型涉及超聲波探傷技術領域。

背景技術

目前已知的各種超聲波探傷標準及其規定的標準試塊或對比試塊，均僅適用于平面超聲波斜探頭的參數測量。如GB11345-89《鋼焊縫手工超聲波探傷方法和探傷結果分級》標準中規定的CSK-IB、RB-1、RB-2、RB-3試塊；DL/T820-2002《電力建設施工及驗收技術規范(管道焊接接頭超聲波檢篇)》標準中的CSK-IB、RB-3、SD-III、SD-IV、II?W2試塊；JB/T4730-2005《承壓設備無損檢測》標準中的CSK-IA、CSK-IIA、CSK-IIIA試塊等。而對中、小直徑管道或彎頭內壁縱向裂紋進行超聲波探傷時，超聲波斜探頭接觸面需修磨為曲面，上述所有試塊均無法對曲面探頭的前沿尺寸、K值等參數進行測量。

發明內容

本實用新型的目的是提供一種超聲波探傷專用試塊，能夠滿足曲面超聲波斜探頭前沿尺寸、K值等參數的測量，解決了中、小直徑管道或彎頭內壁縱向裂紋超聲波探傷時，曲面超聲波斜探頭前沿尺寸、K值等參數的測量問題，且測試方法簡單實用，試塊攜帶方便。

本實用新型的主要技術方案是：一種超聲波探傷專用試塊，其特征在于其形狀為柱狀體，其橫截面是由兩個等直徑的雙半圓二弧面相對重疊而構成的雙弧形；柱狀體上設有由兩個同軸孔形成的標準反射體，孔軸線和柱狀體的中心線平行；兩個同軸孔形成的標準反射體的中心通過雙弧形的公共弦線，且通過端面雙弧形中以二圓心連線為斜邊的直角三角形的直角頂點；兩個同軸孔為平底孔。

所述的端面雙弧形中兩半圓圓心處設有短線切割標記結構為佳。

所述的兩個同軸孔為等高孔為佳。

本實用新型的積極效果是：與已有技術對比，能夠滿足曲面超聲波斜探頭前沿尺寸、K值等參數進行的測量，解決了中、小直徑管道或彎頭內壁縱向裂紋超聲波探傷時，曲面超聲波斜探頭前沿尺寸、K值及分辨力參數等參數進行測量問題，且測試方法簡單實用，試塊攜帶方便。

以下結合實施例及附圖作詳述，但不作為對本實用新型的限定。

附圖說明

圖1是本實用新型的結構示意圖。

圖2是圖1的左視圖。

圖3是圖1的俯視圖。

圖1中各標號含義為：1為雙弧形，2、3為同軸孔，4為短線切割標記結構。

具體實施方式

參見圖1、圖2、圖3，該超聲波探傷專用試塊(屬于對比試塊)，其特征在于其形狀為柱狀體，其橫截面是由兩個等直徑的雙半圓二弧面相對重疊而構成的雙弧形1。柱狀體上設有由兩個同軸孔2、3形成的標準反射體，孔軸線和柱狀體的中心線平行，兩個同軸孔2、3形成的標準反射體的中心通過雙弧形的公共弦線，且通過端面雙弧形中以二圓心連線為的直角三角形的直角頂點；兩個同軸孔為平底孔；且在端面雙弧形中兩半圓圓心處設有短線切割標記結構4，同軸孔(2、3)為Φ1×15mm和Φ3×15mm的兩個等高孔。半圓的直徑為160mm兩個同軸孔2、3形成的標準反射體均為平底孔，柱狀體試塊的厚度為30mm。

試塊正面兩半圓圓心處有寬0.5mm，長5mm短線切割標記，用于測量探頭前沿尺寸；Φ1×15、Φ3×15孔標準反射體中心位于試塊右側橫向中心線和兩半圓45°斜線交匯處，用于測量曲面探頭的K值及分辨力參數。試塊高度為半圓的半徑尺寸80mm；兩標準反射體均為平底孔，長度為試塊厚度的一半15mm。試塊寬度為半圓直徑×cos30°＝160cos30°＝138mm。