[實(shí)用新型]紡織材料防電磁輻射性能測(cè)試儀無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200920102167.3 | 申請(qǐng)日: | 2009-04-20 |
| 公開(公告)號(hào): | CN201464384U | 公開(公告)日: | 2010-05-12 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李瑞洲;張麗娟;龐金玲;敖利民;賈立霞 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 河北科技大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G01N23/00 | 分類號(hào): | G01N23/00;G01R29/08 |
| 代理公司: | 石家莊冀科專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 13108 | 代理人: | 李羨民;高錫明 |
| 地址: | 050018 *** | 國(guó)省代碼: | 河北;13 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 紡織 材料 電磁輻射 性能 測(cè)試儀 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及一種法蘭同軸式紡織材料防電磁輻射性能測(cè)試裝置,屬測(cè)量技術(shù)領(lǐng)域。
背景技術(shù)
目前,國(guó)內(nèi)外關(guān)于抗電磁輻射織物屏蔽效能的測(cè)試方法有多種,這些測(cè)試方法概括起來(lái)主要有遠(yuǎn)場(chǎng)法、近場(chǎng)法和屏蔽室測(cè)試法三大類。遠(yuǎn)場(chǎng)法主要有ASTM-ES-7同軸傳輸線法和法蘭同軸法,近場(chǎng)法主要有ASTM-ES一雙盒法和改進(jìn)的MIL-STD-285法。
綜合考慮輻射源的類型、電磁波的頻率、人們實(shí)際所處的電磁場(chǎng)環(huán)境,以及測(cè)試設(shè)備的制造成本等因素,目前最理想的織物防電磁輻射測(cè)試方法應(yīng)為法蘭同軸法。該方法根據(jù)電磁波在同軸傳輸線內(nèi)傳播的主模是橫電磁波這一原理,模擬自由空間遠(yuǎn)場(chǎng)的傳輸過(guò)程,對(duì)處于兩同軸心腔體之間的抗電磁輻射織物進(jìn)行平面波的測(cè)定。由于這種測(cè)試方法及其測(cè)試儀器不是針對(duì)紡織領(lǐng)域?qū)iT研究設(shè)計(jì)的,在測(cè)試過(guò)程中存在一些測(cè)試障礙,特別是對(duì)柔性測(cè)試對(duì)象,復(fù)雜的表面會(huì)引起復(fù)雜的干擾波,從而影響測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。另外,現(xiàn)有測(cè)試儀器僅能對(duì)織物織成后的性能作出測(cè)定,但對(duì)設(shè)計(jì)人員而言,多數(shù)情況下希望對(duì)織物的防電磁性能在織造前作出預(yù)判,以便能據(jù)以修改設(shè)計(jì)方案,這就要求能對(duì)織物性能作出仿真模擬,以擺脫研發(fā)的盲目性,但已有測(cè)試技術(shù)顯然無(wú)法滿足這種需求。
發(fā)明內(nèi)容
本實(shí)用新型的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)的不足、提供一種操作簡(jiǎn)便、測(cè)試結(jié)果可靠且能對(duì)研發(fā)防電磁輻射織物性能進(jìn)行仿真模擬的紡織材料防電磁輻射性能測(cè)試儀。
本實(shí)用新型所述問題是以下述技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)的:
一種紡織材料防電磁輻射性能測(cè)試儀,構(gòu)成中包括矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀和法蘭同軸裝置,法蘭同軸裝置連接于矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的插損或回?fù)p測(cè)試回路中,改進(jìn)后,所述法蘭同軸裝置由兩個(gè)對(duì)接的同軸心腔體構(gòu)成,在兩同軸心腔體之間設(shè)有織物架,且兩同軸心腔體的對(duì)接端面上設(shè)有與織物架外廓形狀相匹配的試樣槽,所述織物架的中心設(shè)有與同軸心腔體的空腔同軸心的圓孔。
上述紡織材料防電磁輻射性能測(cè)試儀,所述織物架圓孔的一側(cè)設(shè)有環(huán)形槽,環(huán)形槽內(nèi)嵌有壓環(huán)。
上述紡織材料防電磁輻射性能測(cè)試儀,在所述織物架的外緣上設(shè)置間隔均勻的繞線豁口作成紗線架。
上述紡織材料防電磁輻射性能測(cè)試儀,所述織物架的厚度是試樣槽厚度的2倍,所述壓環(huán)的厚度與試樣槽的厚度相同。
本實(shí)用新型設(shè)置固定織物的織物架,利用壓環(huán)將被測(cè)織物張緊并壓在織物架的環(huán)形槽內(nèi),使之始終保持平整,織物架置于兩同軸心腔體之間的試樣槽內(nèi),使之能準(zhǔn)確定位,因而本裝置不僅能測(cè)試質(zhì)地較硬的平面材料,還能測(cè)試織物等柔性材料,平整的支撐和準(zhǔn)確定位可保證測(cè)試結(jié)果更加精確.紗線架用于對(duì)紗線進(jìn)行纏繞定位使之能利用本測(cè)試儀進(jìn)行測(cè)試,從而對(duì)新型防電磁輻射織物進(jìn)行模擬,對(duì)其性能作出預(yù)判.本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、測(cè)試精度高,不僅能對(duì)軟、硬平面材料進(jìn)行精確測(cè)試,還能對(duì)不同密度電磁線排列的織物防電磁輻射性能進(jìn)行仿真,進(jìn)而為設(shè)計(jì)滿足要求的防電磁輻射紡織品提供可靠準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)依據(jù).
附圖說(shuō)明
下面結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步說(shuō)明。
圖1為本實(shí)用新型測(cè)試插損的電原理圖;
圖2為本實(shí)用新型測(cè)試回?fù)p的電原理圖;
圖3為法蘭同軸裝置的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖4為兩同軸心腔體6對(duì)接端面結(jié)構(gòu)示意圖;
圖5為織物架結(jié)構(gòu)示意圖;
圖6為A-A剖視圖;
圖7為可纏繞電磁線的織物架(紗線架)結(jié)構(gòu)示意圖。
圖中各標(biāo)號(hào)為:1、矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀;2、法蘭同軸裝置;3、衰減器;4、反射電橋;5、匹配負(fù)載;6、同軸心腔體;7、中心電極;8、試樣槽;9、腔體支架;10、織物架;11、壓環(huán);繞線豁口。
具體實(shí)施方式
參看圖1、2,在測(cè)試插損時(shí),法蘭同軸裝置2的兩端分別通過(guò)一個(gè)衰減器3接于矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀1的輸出端和輸入端;所謂插損是指插入損耗,即發(fā)射裝置與接收裝置之間,因插入電纜或元器件而產(chǎn)生的信號(hào)損耗,以接收信號(hào)電平的對(duì)應(yīng)分貝數(shù)(db)來(lái)表示,一般用于測(cè)量透過(guò)率。在測(cè)試回?fù)p時(shí),利用反射電橋4將法蘭同軸裝置2連接到矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀1上,法蘭同軸裝置2的另一端連接匹配負(fù)載5。所謂回?fù)p是指從法蘭同軸裝置反射回來(lái)的輸入功率的分量的量度,一般用于衡量反射率的大??;匹配負(fù)載5是一種射頻測(cè)試附件,阻抗為50Ω,用于與矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀阻抗匹配。
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G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N23-00 利用未包括在G01N 21/00或G01N 22/00組內(nèi)的波或粒子輻射來(lái)測(cè)試或分析材料,例如X射線、中子
G01N23-02 .通過(guò)使輻射透過(guò)材料
G01N23-20 .利用輻射的衍射,例如,用于測(cè)試晶體結(jié)構(gòu);利用輻射的反射
G01N23-22 .通過(guò)測(cè)量二次發(fā)射
G01N23-221 ..利用活化分析法
G01N23-223 ..通過(guò)用X射線輻照樣品以及測(cè)量X射線熒光





