[實用新型]基于干涉條紋形狀的二維小角度測量裝置無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200920085527.3 | 申請日: | 2009-05-06 |
| 公開(公告)號: | CN201463847U | 公開(公告)日: | 2010-05-12 |
| 發(fā)明(設計)人: | 翟中生;王選擇;鐘毓寧;曹洪端;楊練根 | 申請(專利權(quán))人: | 湖北工業(yè)大學 |
| 主分類號: | G01B11/26 | 分類號: | G01B11/26 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 430068 湖北*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 基于 干涉 條紋 形狀 二維 角度 測量 裝置 | ||
1.一種高精度二維角度測量裝置,其特征在于該裝置包括:激光器(1)、激光調(diào)制器(2)、分光鏡(3)、目標反射鏡(4)、參考反射鏡(5)和四象限光電接收器(6),目標反射鏡(4)固定在被測物體上,用激光調(diào)制器(2)對激光器(1)進行調(diào)制,調(diào)制后的光束經(jīng)分光鏡(3)后分為兩束,經(jīng)目標反射鏡(4)和參考反射鏡(5)反射后再返回分光鏡(3),會聚產(chǎn)生動態(tài)干涉條紋,動態(tài)干涉條紋用四象限光電接收器(6)接收后轉(zhuǎn)為電信號,該信號經(jīng)放大后采集到計算機(7)。
2.根據(jù)權(quán)利1所述的二維小角度測量裝置,其特征在于:用激光調(diào)制器對激光器產(chǎn)生的激光進行調(diào)制,調(diào)制信號可以用三角波、鋸齒波和正弦波。
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