[實(shí)用新型]開關(guān)柜驗(yàn)電避雷器在線監(jiān)測(cè)裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200920081782.0 | 申請(qǐng)日: | 2009-06-16 |
| 公開(公告)號(hào): | CN201583603U | 公開(公告)日: | 2010-09-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 海何兵;張雷;張?zhí)K川;歐居勇;李海峰 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 四川省電力公司資陽(yáng)公司;四川藍(lán)迅寶邇電子科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/00 | 分類號(hào): | G01R31/00;G01R19/15;G01R19/02;G01R19/25;G01R25/00 |
| 代理公司: | 四川省成都市天策商標(biāo)專利事務(wù)所 51213 | 代理人: | 伍孝慈 |
| 地址: | 641300 四*** | 國(guó)省代碼: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 開關(guān)柜 避雷器 在線 監(jiān)測(cè) 裝置 | ||
1.一種開關(guān)柜驗(yàn)電避雷器在線監(jiān)測(cè)裝置,該裝置至少分為三個(gè)單元,其特征在于:
第一單元是電壓、電流采集單元(1),與開關(guān)柜內(nèi)避雷器和電容式支柱傳感器用線路相連,負(fù)責(zé)采集處理電流電壓模擬信號(hào),同時(shí)將采集處理完成后的信號(hào)以數(shù)字方式在數(shù)據(jù)總線上輸出;
第二單元是中央控制處理器MCU帶液晶顯示裝置(2),MCU通過(guò)數(shù)據(jù)總線與第一部分部分相連,負(fù)責(zé)通過(guò)規(guī)定的數(shù)據(jù)總線格式依次讀取數(shù)據(jù)并處理,然后由顯示裝置顯示出來(lái);
第三單元是放電次數(shù)采集單元(3),通過(guò)線路與大電流放電保護(hù)裝置Ih)的開關(guān)觸點(diǎn)相連,負(fù)責(zé)采集開關(guān)觸點(diǎn)的閉合信號(hào),并把開關(guān)信號(hào)轉(zhuǎn)換成電平變換信號(hào)向MCU輸入,由MCU進(jìn)行放電次數(shù)計(jì)數(shù)。
2.如權(quán)利要求1所述的監(jiān)測(cè)裝置,其特征在于:所述的電壓、電流采集單元(1)包括三組電容(C1、C2)和三相電能采集芯片,三組電容(C1、C2)分別串聯(lián)在電壓輸出單元的二次回路中,將三相摸擬電壓信號(hào)分壓后送入三相電能采集芯片;而電流模擬信號(hào)的輸入則是用引線從避雷器下面串聯(lián)的大電流放電保護(hù)裝置將三相電流信號(hào)(PA&、PB&、PC&)引出,通過(guò)串聯(lián)在避雷器引出電流回路上的電阻轉(zhuǎn)換成電壓信號(hào)后,再連接到三相電能采集芯片中。
3.如權(quán)利要求2的所述的監(jiān)測(cè)裝置,其特征在于:所述的三相電能采集芯片是一個(gè)能同時(shí)采集三相電壓電流相位的電能計(jì)量芯片或者是三個(gè)具有自動(dòng)采集轉(zhuǎn)換電壓電流相位的電能計(jì)量芯片或者是AD采集芯片。
4.如權(quán)利要求1所述的監(jiān)測(cè)裝置,其特征在于:所述放電次數(shù)采集單元(3)包括每相一個(gè)光電隔離器(GG),該光電隔離器(GG)的輸入端與大電流放電保護(hù)裝置的(KA、KB、KC)的采集口相連,輸出端接電壓比較器或施密特反向器,由光電隔離器(GG)向電壓比較器或施密特反向器輸入一電平變化信號(hào)再由電壓比較器或施密特反向器向MCU輸入一電平變化信號(hào),并引發(fā)MCU進(jìn)行計(jì)數(shù)。
5.如權(quán)利要求1所述的監(jiān)測(cè)裝置,其特征在于:所述避雷器的泄漏電流回路上串聯(lián)有LED發(fā)光二極管(L1、L2、L3),LED發(fā)光二極管(L1、L2、L3)另一端接地;或者在避雷器泄露電流回路上串聯(lián)一電流互感器,在互感器的二次電流回路上接入LED發(fā)光二極管(L1、L2、L3)。
6.如權(quán)利要求5所述的監(jiān)測(cè)裝置,其特征在于:MCU通過(guò)液晶控制接口單元YJDY與液晶屏相連,液晶屏安裝在開關(guān)柜殼體外。
7.如權(quán)利要求1的所述的監(jiān)測(cè)裝置,其特征在于:電壓、電流采集單元(1)與第二單元MCU帶液晶顯示裝置(2)的MCU部分,是一個(gè)自帶AD采集接口的微處理器。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
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