[實用新型]SMD芯片測試裝置

有效

• 申請號: 200920068211.3
• 申請日: 2009-02-27
• 公開（公告）號: CN201387468Y
• 公開（公告）日: 2010-01-20
• 發明（設計）人: 顧春榮
• 申請（專利權）人: 上海寶康電子控制工程有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R1/06
• 代理公司: 上海智信專利代理有限公司
• 代理人: 王 潔

技術領域

本實用新型涉及芯片測試技術領域，特別涉及芯片測試裝置技術領域，具體是指一種SMD芯片測試裝置。

背景技術

在SMD(表面安裝設備技術)轉DIP(雙列直插式封裝，dual?in-line?package)時需要用到簡易適配器，現有的該類測試適配器型號繁多，價格昂貴。而如果沒有適配器進行測試的話，需在DIP座子連接細線到SMD芯片，相當繁瑣。

為解決上述問題，從而進一步簡便高效地完成SMD芯片的測試工作，需要研發一種SMD芯片測試裝置。

實用新型內容

本實用新型的目的是克服了上述現有技術中的缺點，提供一種SMD芯片測試裝置，該SMD芯片測試裝置能夠簡便高效地完成SMD芯片的測試工作，提高工作效率，節約成本。

為了實現上述目的，本實用新型的SMD芯片測試裝置具有如下構成：

該SMD芯片測試裝置，包括SMD夾具，其特點是，還包括兩組排線，兩組所述排線分別設置在所述SMD夾具的兩夾持把手上并分別與所述SMD夾具的夾口線路連接。

較佳地，所述排線具有10根引腳，所述夾口具有20根引針，一所述引腳線路連接一所述引針。

本實用新型通過在原SMD夾具的基礎上，增加兩組排線，使該夾具正向支持窄版SMD芯片，反向支持寬版的SMD芯片，本實用新型能測試引腳在20以內的芯片，寬版和窄版的SMD芯片都可有效測試，能夠簡便高效地完成SMD芯片的測試工作，提高了工作效率，節約成本，除測試外還可進行存儲芯片的讀取、燒錄與擦除。

附圖說明

圖1是本實用新型的一具體實施例正向支持窄版SMD芯片的示意圖。

圖2是圖1所示的具體實施例反向支持寬版SMD芯片的示意圖。

具體實施方式

為了能夠更清楚地理解本實用新型的技術內容，特舉以下實施例詳細說明。

請參閱圖1和圖2所示，本實用新型的SMD芯片測試裝置，包括SMD夾具1，還包括兩組排線2，兩組所述排線2分別設置在所述SMD夾具1的兩夾持把手上并分別與所述SMD夾具1的夾口線路連接。

在本實用新型的一具體實施例中，所述排線2具有10根引腳，所述夾口具有20根引針，一所述引腳線路連接一所述引針。

采用本實用新型測試SMD芯片時，對于窄版SMD芯片，正向支持；對于寬版的SMD芯片，反向支持，測試時夾具倒置，可以輕松高效地完成SMD芯片的測試工作，從而判斷芯片的好壞。

本實用新型是在原SMD夾具1的基礎上，增加兩組排線2，使該夾具正向支持窄版SMD芯片，反向支持寬版的SMD芯片。能測試引腳在20以內的芯片。寬版和窄版的SMD芯片都可有效測試。除測試外還可進行存儲芯片的讀取、燒錄與擦除。本實用新型屬于簡單實用的測試適配器，節約了成本。

綜上，本實用新型的SMD芯片測試裝置能夠簡便高效地完成SMD芯片的測試工作，提高工作效率，，節約成本。

在此說明書中，本實用新型已參照其特定的實施例作了描述。但是，很顯然仍可以作出各種修改和變換而不背離本實用新型的精神和范圍。因此，說明書和附圖應被認為是說明性的而非限制性的。