[實用新型]一種用于檢測浪涌、時序和紋波的測試儀

有效

• 申請號: 200920051173.0
• 申請日: 2009-02-13
• 公開（公告）號: CN201373894Y
• 公開（公告）日: 2009-12-30
• 發明（設計）人: 江培輝;楊孝斌
• 申請（專利權）人: 深圳市聯欣科技有限公司
• 主分類號: G01R15/12
• 分類號: G01R15/12
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1、一種用于檢測浪涌、時序和紋波的測試儀，包括有電源插座和與之連接的變壓器，其特征在于，還包括有用于輸入交流電流信號的交流電流信號連接件，用于輸入直流電壓信號的直流電壓信號連接件，以及用于測試所述交流電流信號和直流電壓信號浪涌和紋波的測試電路，用于將所述測試電路得到的測試數據與外界串行交換的通訊接口。

2、如權利要求1所述的一種用于檢測浪涌、時序和紋波的測試儀，其特征在于，所述測試電路包括：

與所述直流電壓信號連接件連接的直流放大電路，用于將直流電壓信號同相放大，輸出至第一電子開關；

與所述直流電壓信號連接件連接的紋波放大電路，用于將交流紋波信號放大，輸出至第一電子開關；

與所述交流電流信號連接件連接的互感器，用于將感應的交流電流信號輸出；

整流電路，用于將互感器輸出的交流電流信號變換為正半波信號；

峰值放大電路，將電流信號轉換為電壓信號并同相放大，并輸出至第一電子開關；

微處理器模塊，用于控制所述第一電子開關選擇輸出被測信號，以及輸出數字信號和操控整體電路的控制、檢測、數據處理和通訊；

跟隨器，用于變換由所述第一電子開關輸出的被測信號的輸出阻抗，經峰值保持電路輸出待測信號至第二電子開關；

DAC電路，用于將微處理器模塊輸出的數字信號轉換為模擬信號，傳送至第二電子開關；

比較電路，用于比較所述峰值保持電路輸出的待測信號和DAC電路輸出的信號，將比較結果傳送至微處理器模塊檢測；

與所述通訊接口連接的通訊電路，與微處理器模塊相接，用于與外界串行交換數據。

3、如權利要求2所述的一種用于檢測浪涌、時序和紋波的測試儀，其特征在于：所述測試電路還包括同步電路，用于將同步信號傳送至所述微處理器模塊進行時序檢測，所述殼體上固定有與所述同步電路連接的同步信號插座。

4、如權利要求2或3所述的一種用于檢測浪涌、時序和紋波的測試儀，其特征在于：所述的直流放大電路是由第一運算放大器、與第一運算放大器相接的三個電阻和兩個二極管構成。

5、如權利要求3所述的一種用于檢測浪涌、時序和紋波的測試儀，其特征在于：所述紋波放大電路是由第二運算放大器、與第二運算放大器相接的兩個電阻和三個二極管構成。

6、如權利要求2或3所述的一種用于檢測浪涌、時序和紋波的測試儀，其特征在于：所述峰值放大電路是由第三運算放大器、與第三運算放大器相接的三個電阻和兩個二極管構成。

7、如權利要求2或3所述的一種用于檢測浪涌、時序和紋波的測試儀，其特征在于：所述峰值保持電路包括第一峰值保持電路和第二峰值保持電路，第一峰值保持電路是由第四和第五運算放大器及與之相接的二極管、兩個電容和電阻構成；第二峰值保持電路是由第六和第七運算放大器及與之相接的二極管、兩個電容和電阻構成。

8、如權利要求2或3所述的一種用于檢測浪涌、時序和紋波的測試儀，其特征在于：所述DAC電路包括第一DAC電路和第二DAC電路，由DAC轉換器及與之相接的第八運算放大器、電壓基準源和電阻構成。

9、如權利要求2或3所述的一種用于檢測浪涌、時序和紋波的測試儀，其特征在于：

所述通訊電路是由光電耦合器及與之相接的三個電阻構成；

所述微處理器模塊是由微處理器及與之相接的晶體、電容、二極管、電阻、電阻排構成。

10、如權利要求3所述的一種用于檢測浪涌、時序和紋波的測試儀，其特征在于：所述同步電路是由光電耦合器及與之相接的電阻構成。