[實(shí)用新型]基于相位物體單脈沖反射測量材料非線性的裝置

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200920046946.6
• 申請日: 2009-07-01
• 公開（公告）號: CN201532359U
• 公開（公告）日: 2010-07-21
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 宋瑛林;李常偉;稅敏;金肖;楊俊義;王玉曉;張學(xué)如
• 申請（專利權(quán)）人: 蘇州大學(xué)
• 主分類號: G01N21/17
• 分類號: G01N21/17;G01N21/41
• 代理公司: 蘇州創(chuàng)元專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 32103
• 代理人: 陶海鋒

1.一種基于相位物體單脈沖反射測量材料非線性的裝置，其特征在于：入射激光(1)通過第一分束鏡(2)分成兩束，一束為監(jiān)測光，由第一探測器(3)記錄，另一束光經(jīng)過相位物體(4)后被透鏡(5)聚焦到待測樣品(6)上，被待測樣品(6)表面反射的脈沖光被第二分束鏡(7)分成兩路，一路直接由第二探測器(8)記錄，另一路通過一個中心和光軸重合的小孔光闌(9)后進(jìn)入第三探測器(10)；所述待測樣品(6)位于透鏡(5)的焦平面上，所述相位物體(4)放在所述透鏡(5)前。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于相位物體單脈沖反射測量材料非線性的裝置，其特征在于：所述相位物體(4)放在所述透鏡(5)的前焦面上。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于相位物體單脈沖反射測量材料非線性的裝置，其特征在于：所述小孔光闌(9)的半徑等于所述相位物體(4)的遠(yuǎn)場衍射光斑的半徑。