[實用新型]一種可測石英晶體電氣性能的石英晶體振蕩器

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200920043287.0
• 申請日: 2009-07-06
• 公開（公告）號: CN201450492U
• 公開（公告）日: 2010-05-05
• 發(fā)明（設計）人: 魯治國;高志祥
• 申請（專利權(quán)）人: 南京華聯(lián)興電子有限公司
• 主分類號: H03H9/02
• 分類號: H03H9/02
• 代理公司: 南京君陶專利商標代理有限公司 32215
• 代理人: 沈根水

技術領域

本實用新型涉及的是一種對石英晶體振蕩器進行優(yōu)化設計、可測石英晶體電氣性能的石英晶體振蕩器，應用于電子元器件晶體制造領域中的石英晶體振蕩器的加工，屬于石英電子元器件制作的技術領域。

背景技術

隨著電子信息技術的飛速發(fā)展，對于頻率元件的要求越來越多。作為頻率元件的一種，石英晶體振蕩器也面臨更高的可靠性要求、更小的外形尺寸等。為了達到石英晶體振蕩器小型化的要求，現(xiàn)有的5*7mm?SMD石英晶體振蕩器的加工工藝是將石英晶體與IC封裝在同一基座里面以節(jié)省空間。傳統(tǒng)石英晶體振蕩器基座底部只有四個功能電極(1-E/D、2-VSS、3-Q、4-VDD)，沒有將石英晶體的兩個工作電極a、b引出到基座的外表面，因此在石英晶體振蕩器封裝后無法對石英晶體的阻抗、DLD等電氣參數(shù)進行測試和改良。如果石英晶體的阻抗大或者DLD不良，會直接影響石英晶體振蕩器的工作可靠性。傳統(tǒng)石英晶體振蕩器基座的缺點：A.不能對封裝后的石英晶體的阻抗、DLD等電氣性能進行測試；B，不能對石英晶體振蕩器停振、溫度特性不良等不良現(xiàn)象進行有效分析。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的在于設計出一種可以測試石英晶體電氣性能的石英晶體振蕩器，它可在石英晶體振蕩器的加工過程中通過電清洗改善石英晶體的電氣性能，又能在封裝以后有效測試石英晶體的電氣性能。可在石英晶體振蕩器生產(chǎn)加工中，改善石英晶體的電氣性能問題和IC匹配問題，又能有效剔除不良品。

本發(fā)明的技術解決方案：其特征是在傳統(tǒng)晶體振蕩器的基座側(cè)面設計兩個電極，分別與基座內(nèi)石英晶體的兩個工作電極相連，基座側(cè)面增加的兩個電極的間距為1～4mm。

本發(fā)明的優(yōu)點：彌補了普通晶體振蕩器的不足，達到了以下兩點：一、通過新設計石英晶體振蕩器的側(cè)面電極，可以檢測內(nèi)部石英晶體的電氣性能，剔除不良品；二、在石英晶體振蕩器加工過程中，通過基座側(cè)面的兩個電極，對石英晶體進行電清洗，改善石英晶體的電氣性能，提高石英晶體振蕩器的可靠性。

附圖說明

附圖1為傳統(tǒng)晶體振蕩器正視圖，圖2是圖1的背面圖，圖3是圖1的側(cè)視圖。

附圖4為可測石英晶體電氣性能的石英晶體振蕩器的正視圖，圖5是圖4的背面圖，圖6是圖4的側(cè)視圖。

附圖7為可測適應晶體電氣性能的石英晶體振蕩器的實例剖面的正視圖，圖8是圖7的背面圖。圖9是水晶振子兩電極的示意圖。

圖中的1(E/D)、2(VSS)、3(Q)、4(VDD)分別是石英晶體振蕩器的基座正面上的四個功能電極，5、6為石英晶體振蕩器基座側(cè)面上的電極.A、B、C、D、E、F、G、H是基座內(nèi)的電極，a、b是水晶振子的兩電極.

具體實施方式

對照附圖4-圖9，其結(jié)構(gòu)是石英晶體的工作電極a、b分別固定相接在基座A、B電極，新設計的石英晶體振蕩器基座側(cè)面上的電極5、6分別與基座的A、B電極相連接，從而將石英晶體的工作電極a、b引出到振蕩器基座外表面。

這樣就可以將這兩個電極引入到S&A250B等測試系統(tǒng)中，對石英晶體的阻抗、DLD等電氣參數(shù)進行測量分析。同樣通過這兩個電極可以對石英晶體進行電清洗，改善石英晶體振蕩器的性能。