[實(shí)用新型]單脈沖單光束測(cè)量材料光學(xué)非線性的裝置無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200920040284.1 | 申請(qǐng)日: | 2009-04-17 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN201392313Y | 公開(kāi)(公告)日: | 2010-01-27 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 宋瑛林;楊俊義;稅敏;金肖;李常偉 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 蘇州大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G01N21/59 | 分類號(hào): | G01N21/59;G01N21/31;G01N21/41 |
| 代理公司: | 蘇州創(chuàng)元專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 | 代理人: | 陶海鋒 |
| 地址: | 215123江蘇省*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 脈沖 光束 測(cè)量 材料 光學(xué) 非線性 裝置 | ||
1.一種單脈沖單光束測(cè)量材料光學(xué)非線性的裝置,包括激光光源、第一分束器、監(jiān)測(cè)光路和探測(cè)光路,所述第一分束器將激光光源發(fā)出的激光束分為兩束,分別進(jìn)入監(jiān)測(cè)光路和探測(cè)光路,所述監(jiān)測(cè)光路中設(shè)有第一探測(cè)器,所述探測(cè)光路中設(shè)有凸透鏡,待測(cè)樣品位于所述凸透鏡的焦平面上,出射光經(jīng)第二分束器分為兩束,一束經(jīng)一凸透鏡會(huì)聚至第二探測(cè)器,另一束經(jīng)一中心與光軸重合的小孔光闌進(jìn)入第三探測(cè)器,其特征在于:在所述探測(cè)光路的凸透鏡之前的光路中設(shè)有一相位物體。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的單脈沖單光束測(cè)量材料光學(xué)非線性的裝置,其特征在于:所述相位物體位于探測(cè)光路的透鏡的前焦面上。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的單脈沖單光束測(cè)量材料光學(xué)非線性的裝置,其特征在于:所述相位物體的相位延遲為0.25π~0.75π,大小為入射光斑束腰半徑的0.05~0.5倍。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的單脈沖單光束測(cè)量材料光學(xué)非線性的裝置,其特征在于:所述相位物體的相位延遲為0.5π,大小為入射光斑束腰半徑的0.1倍。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的單脈沖單光束測(cè)量材料光學(xué)非線性的裝置,其特征在于:所述第三探測(cè)器前的小孔光闌的半徑的大小等于相位物體的遠(yuǎn)場(chǎng)衍射光斑的半徑大小。
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G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見(jiàn)光或紫外光來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
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