[發(fā)明專利]開路測試裝置無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200910305337.2 | 申請日: | 2009-08-07 |
| 公開(公告)號: | CN101988944A | 公開(公告)日: | 2011-03-23 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 陳云橋 | 申請(專利權(quán))人: | 佛山市順德區(qū)順達電腦廠有限公司 |
| 主分類號: | G01R31/02 | 分類號: | G01R31/02 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 528308 廣東*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 開路 測試 裝置 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種測試裝置,尤其涉及一種主要適用于測試內(nèi)存或PCI總線插槽是否出現(xiàn)開路的開路測試裝置。
背景技術(shù)
目前在測試主板的內(nèi)存或PCI插槽是否出現(xiàn)開路時,一般需作業(yè)人員利用萬用表對內(nèi)存或PCI插槽一一進行測試,由于內(nèi)存或PCI插槽數(shù)目眾多,且出現(xiàn)開路的情況較多,上述人工測試方式不僅耗費時間,而且作業(yè)人員容易失去耐性而造成誤判。
發(fā)明內(nèi)容
鑒于上述問題,本發(fā)明提供了一種開路測試裝置,其主要適用于內(nèi)存或PCI總線插槽是否出現(xiàn)開路的測試中。
為了達到上述目的,本發(fā)明采用了如下的技術(shù)方案:一種開路測試裝置,其適用于測試主板的插槽是否出現(xiàn)開路,其中,該裝置主要包括轉(zhuǎn)接電路板,其一側(cè)邊設(shè)置有對應(yīng)插接于該主板的插槽的金手指,且該轉(zhuǎn)接電路板還包括與該金手指的引腳一一對應(yīng)連接的信號線;以及若干個顯示單元,每一顯示單元的負極分別與該轉(zhuǎn)接電路板的信號線一一電性連接,且每一顯示單元的正極與電源的正極分別電性連接,并且電源的負極接地。
較佳的,本發(fā)明提供了一種開路測試裝置,其中,所述主板的插槽為PCI插槽及內(nèi)存插槽其中之一,所述顯示單元為發(fā)光二極管。
相較于先前技術(shù),本發(fā)明所述的開路測試裝置,不僅快速地主板上的插槽是否出現(xiàn)開路情況,有效減少了對維修的誤判,且節(jié)省了成本,縮短了測試時間。
附圖說明
圖1為本發(fā)明的示意圖
具體實施方式
請參照圖1所示,本發(fā)明提供了一種開路測試裝置10,其主要適用于主板的測試中,用以測試主板上的內(nèi)存插槽或PCI總線插槽是否出現(xiàn)開路的情況。
其中,所述開路測試裝置10主要包括轉(zhuǎn)接電路板101,該轉(zhuǎn)接電路板101一側(cè)邊設(shè)置有若干個金手指1011,所述金手指1011對應(yīng)插接于該主板的插槽上,于本實施例中,該主板的插槽以內(nèi)存插槽102為例,且該轉(zhuǎn)接電路板101還包括與該金手指1011的引腳一一對應(yīng)連接的信號線(圖中未示),所述信號線布線于該轉(zhuǎn)接電路板101上。
此外,該轉(zhuǎn)接電路板101上還設(shè)置有若干個顯示單元1012,于本實施例中,所述顯示單元1012以發(fā)光二極管為例,每一顯示單元1012的負極分別與該轉(zhuǎn)接電路板101的信號線一一電性連接,且每一顯示單元1012的正極與電源20的正極分別電性連接,并且電源20的負極接地,該電源20以一紐扣電池為例。
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