[發明專利]調試裝置

無效

• 申請號: 200910302551.2
• 申請日: 2009-05-23
• 公開（公告）號: CN101893685A
• 公開（公告）日: 2010-11-24
• 發明（設計）人: 韓佳慶
• 申請（專利權）人: 深圳富泰宏精密工業有限公司;奇美通訊股份有限公司
• 主分類號: G01R31/3185
• 分類號: G01R31/3185
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發明涉及一種用于便攜式電子裝置的調試裝置，尤其涉及一種用于便攜式電子裝置的JTAG調試裝置。

背景技術

JTAG(Joint?Test?Action?Group，聯合測試行動小組)是一種國際標準測試協議，主要用于芯片內部測試。現有多數的高級器件都支持JTAG協議，如DSP、FPGA器件等。JTAG可進行電路采集、CPU讀寫、故障模擬等，實現開發工作過程中故障的觀察、仿真、模擬。

現有的JTAG接口一般包括TDI(Test?Data?Input，測試數據輸入)引腳、TCK(Test?ClockInput，測試時鐘信號)引腳、TMS(Test?Mode?Selection?Input，測試模式轉換信號)引腳、TRST(Test?Reset?Input，測試復位信號)引腳、RST(Test?Reset?Input，內核復位信號)引腳、TDO(Test?Data?Output，測試數據輸出)引腳。

在便攜式電子裝置電路發生故障后的修理過程中，經常需要對其進行JTAG調試。此時，現有的測試方法大多需要從其內置的印刷電路板上將上述引腳引出，并通過焊接引線連接到JTAG調試器上，而相應的JTAG調試器上也需要焊接引線以建立對應的電性連接。然而，大多數現有的JTAG調試器都是插接式的，其插頭構造并不易于進行焊線操作；同時，焊接引線也容易引起電路板上的短路及斷路，造成額外損失。

發明內容

針對上述問題，有必要提供一種安全可靠的調試裝置。

一種調試裝置，其用于連接一JTAG調試機以進行JTAG調試，該JTAG調試裝置包括一JTAG接口，該JTAG調試裝置還包括一耳機電路、一開關切換單元、一USB接口及一復位電路，該耳機電路經開關切換單元與JTAG接口相連，該USB接口及復位電路均與該JTAG接口相連，當JTAG調試機由耳機電路及USB接口接入時，該耳機電路及USB接口在JTAG調試機與JTAG接口之間建立連接，以進行JTAG調試。

與現有技術相比，使用本發明的調試裝置進行JTAG調試時，只需直接將JTAG調試機連接至耳機電路的插孔及USB接口，即可由耳機電路及USB接口在JTAG調試機與JTAG接口之間建立電性連接，從而對便攜式電子裝置進行JTAG調試。本發明無需進行復雜的焊線操作，避免在焊線過程中易引起的短路等問題，使JTAG調試具有更高效率且更加安全可靠。

附圖說明

圖1為本發明較佳實施例的調試裝置的功能模塊圖。

圖2為本發明較佳實施例的調試裝置的電路圖。

具體實施方式

請參閱圖1及圖2，本發明較佳實施例調試裝置100用于連接一JTAG調試機(圖未示)，以對移動電話、PDA等便攜式電子裝置進行JTAG調試。該調試裝置100包括一JTAG接口10、一耳機電路20、一開關切換單元30、一USB接口40及一復位電路50。該耳機電路20經開關切換單元30與JTAG接口10相連，該USB接口40及復位電路50均與該與JTAG接口10相連。

該JTAG接口10包括8個引腳，該8個引腳可為待調試便攜式電子裝置內一電路板上的電連接端，其用于與JTAG調試機建立連接，以進行JTAG調試。該8個引腳分別為V_DD引腳11、GND引腳12、TDI引腳13、TDO引腳14、TCK引腳15、TMS引腳16、RST引腳17及TRST引腳18。其中，該GND引腳12接地；該TDI引腳13、TDO引腳14、TCK引腳15與開關切換單元30相連，以由開關切換單元30切換至與耳機電路20相連；該V_DD引腳11、TMS引腳16、RST引腳17均與USB接口40相連；從而，該TDI引腳13、TDO引腳14、TCK引腳15、V_DD引腳11、TMS引腳16及RST引腳17可通過該耳機電路20及USB接口40連接至JTAG測試機；該TRST引腳18與復位電路50相連，其可接收復位電路50的內核復位信號，并進行內核復位。