[發(fā)明專利]特性阻抗測試系統(tǒng)及方法

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200910301998.8
• 申請日: 2009-04-30
• 公開（公告）號: CN101876674A
• 公開（公告）日: 2010-11-03
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 梁獻(xiàn)全;李昇軍;陳永杰;許壽國
• 申請（專利權(quán)）人: 鴻富錦精密工業(yè)（深圳）有限公司;鴻海精密工業(yè)股份有限公司
• 主分類號: G01R27/02
• 分類號: G01R27/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種測試系統(tǒng)及方法，尤其是一種特性阻抗測試系統(tǒng)及方法。

背景技術(shù)

隨著電子科學(xué)技術(shù)的發(fā)展，印刷電路板(Printed?Circuit?Board，PCB)已成為各種電器設(shè)備(如計(jì)算機(jī))不可缺少的重要組成部分。由于印刷電路板的電路中傳遞有超高頻率的微波信號，若要保證印刷電路板在使用時(shí)的可靠性，就必須在出廠時(shí)對其零件的特性阻抗進(jìn)行檢測。所述特性阻抗是指如果零件(如信號線)無限長所具有的阻抗，單位為歐姆。

以往傳統(tǒng)的檢測方法需要依靠作業(yè)員的手工操作，由于檢測的范圍廣、功能多，因此，在檢測時(shí)常常忙得不可開交，不僅勞動(dòng)強(qiáng)度大，工作效率低，而且容易產(chǎn)生人為錯(cuò)誤，檢測的數(shù)據(jù)也不易管理。

發(fā)明內(nèi)容

鑒于以上內(nèi)容，有必要提供一種特性阻抗測試系統(tǒng)，其可自動(dòng)測試印刷電路板上零件的特性阻抗。

鑒于以上內(nèi)容，還有必要提供一種特性阻抗測試方法，其可自動(dòng)測試印刷電路板上零件的特性阻抗。

一種特性阻抗測試系統(tǒng)，運(yùn)行于測試電腦中，該測試電腦通過交換機(jī)與控制電腦和時(shí)域反射儀相連，該系統(tǒng)包括：文檔設(shè)置模塊，用于設(shè)置不同類型的印刷電路板的測試文檔，所述測試文檔包括：待測零件在印刷電路板中的坐標(biāo)位置、待測零件特性阻抗的標(biāo)準(zhǔn)值及測試結(jié)果存儲(chǔ)路徑；參數(shù)獲取模塊，用于當(dāng)測試開始時(shí)，從所述測試文檔中獲取待測零件在印刷電路板中的坐標(biāo)位置；探針定位模塊，用于根據(jù)待測零件在印刷電路板中的坐標(biāo)位置向控制電腦發(fā)出探針定位指令，由該控制電腦根據(jù)該探針定位指令控制機(jī)械手臂的探針抓取裝置將時(shí)域反射儀的探針定位到印刷電路板上的待測零件；所述探針定位模塊，還用于判斷探針定位是否準(zhǔn)確；所述測試電腦還包括：信號測試模塊，用于當(dāng)探針定位準(zhǔn)確時(shí)，獲取時(shí)域反射儀采集到的待測零件的特性阻抗；所述信號測試模塊，還用于根據(jù)設(shè)定的待測零件特性阻抗的標(biāo)準(zhǔn)值對待測零件的特性阻抗進(jìn)行分析，以判斷待測零件的特性阻抗是否在設(shè)定的標(biāo)準(zhǔn)值范圍內(nèi)；所述信號測試模塊，還用于生成測試報(bào)告，并將該測試報(bào)告存儲(chǔ)在設(shè)定的測試結(jié)果存儲(chǔ)路徑中。

一種特性阻抗測試方法，應(yīng)用于測試電腦中，該測試電腦通過交換機(jī)與控制電腦和時(shí)域反射儀相連，該方法包括如下步驟：于測試電腦中設(shè)置不同類型的印刷電路板的測試文檔，所述測試文檔包括：待測零件在印刷電路板中的坐標(biāo)位置、待測零件特性阻抗的標(biāo)準(zhǔn)值及測試結(jié)果存儲(chǔ)路徑；當(dāng)測試開始時(shí)，測試電腦從所述測試文檔中獲取待測零件在印刷電路板中的坐標(biāo)位置；測試電腦根據(jù)待測零件在印刷電路板中的坐標(biāo)位置，通過交換機(jī)向控制電腦發(fā)出探針定位指令；控制電腦根據(jù)該探針定位指令控制機(jī)械手臂的探針抓取裝置將時(shí)域反射儀的探針定位到印刷電路板上的待測零件；當(dāng)探針定位準(zhǔn)確時(shí)，時(shí)域反射儀通過交換機(jī)將采集到的待測零件的特性阻抗返回至測試電腦；測試電腦根據(jù)設(shè)定的待測零件特性阻抗的標(biāo)準(zhǔn)值對待測零件的特性阻抗進(jìn)行分析，以判斷待測零件的特性阻抗是否在設(shè)定的標(biāo)準(zhǔn)值范圍內(nèi)；測試電腦生成測試報(bào)告，并將該測試報(bào)告存儲(chǔ)在設(shè)定的測試結(jié)果存儲(chǔ)路徑中。

相較于現(xiàn)有技術(shù)，所述的特性阻抗測試系統(tǒng)及方法，可以自動(dòng)測試印刷電路板上零件的特性阻抗，避免了人工作業(yè)的錯(cuò)誤發(fā)生，提高了測試的可靠度及效率。

附圖說明

圖1是本發(fā)明特性阻抗測試系統(tǒng)較佳實(shí)施例的硬件架構(gòu)圖。

圖2是圖1中所示特性阻抗測試系統(tǒng)的功能模塊圖。

圖3是本發(fā)明特性阻抗測試方法較佳實(shí)施例的流程圖。

具體實(shí)施方式

如圖1所示，是本發(fā)明特性阻抗測試系統(tǒng)較佳實(shí)施例的系統(tǒng)架構(gòu)圖，該特性阻抗測試20系統(tǒng)運(yùn)行于測試電腦2中。其中，所述測試電腦2通過交換機(jī)4與控制電腦1和時(shí)域反射儀3相連，所述控制電腦1與機(jī)械手臂5相連。所述機(jī)械手臂5上安裝有探針抓取裝置50，該探針抓取裝置50用于抓取時(shí)域反射儀3的探針。所述印刷電路板6放置于測試機(jī)臺(tái)7上，在其它實(shí)施例中，所述印刷電路板6也可以用其它電子設(shè)備替代。

當(dāng)測試開始后，特性阻抗測試系統(tǒng)20向控制電腦1發(fā)出探針定位指令，所述控制電腦1根據(jù)該探針定位指令控制機(jī)械手臂5的探針抓取裝置50將時(shí)域反射儀3的探針定位到印刷電路板6上的待測零件。然后，時(shí)域反射儀3將測試到的數(shù)據(jù)通過交換機(jī)4返回至測試電腦2。測試電腦2中的特性阻抗測試系統(tǒng)20對該測試數(shù)據(jù)進(jìn)行分析處理。