[發明專利]零件形位公差檢測系統及方法

無效

• 申請號: 200910301833.0
• 申請日: 2009-04-25
• 公開（公告）號: CN101871767A
• 公開（公告）日: 2010-10-27
• 發明（設計）人: 張旨光;吳新元;王敏
• 申請（專利權）人: 鴻富錦精密工業（深圳）有限公司;鴻海精密工業股份有限公司
• 主分類號: G01B11/00
• 分類號: G01B11/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種零件形位公差檢測方法，其特征在于，該方法包括如下步驟：

(a)獲取待測零件的圖檔及用戶從該待測零件圖檔中選擇的待測特征元素；

(b)對待測零件圖檔進行三角網格化，獲取該待測零件圖檔的點云數據；

(c)從標準零件圖檔中獲取相對該待測特征元素的標準特征元素；

(d)從待測零件圖檔的點云數據中提取擬合成特征元素的點云；

(e)將所提取的點云擬合成特征元素；

(f)計算擬合的特征元素與標準特征元素之間的形位公差；及

(g)輸出形位公差分析表，顯示在顯示屏上。

2.如權利要求1所述的零件形位公差檢測方法，其特征在于，所述步驟(d)包括：

(d1)繪制多義線，該多義線將待測特征元素包圍；

(d2)從待測零件圖檔的點云數據中提取位于該多義線內的點云；

(d3)從該多義線內的點云中提取位于屏幕最上層的點云；及

(d4)從屏幕最上層的點云中提取出待測零件圖檔的邊界點作為擬合成特征元素的點云

3.如權利要求1所述的零件形位公差檢測方法，其特征在于，所述步驟(e)包括：

(e0)根據待測特征元素的類型獲取該待測特征元素的擬合類型；

(e1)判斷所述擬合類型是否為線或圓，如果該擬合類型為線或圓，則執行步驟(e2)和步驟e(3)后再執行步驟e(4)，如果該擬合類型不是線或圓，則直接執行步驟e(4)；

(e2)將步驟(d)中提取的點云擬合成面；

(e3)將步驟(d)中提取的點云投影到該擬合面上獲得所述提取點云在該擬合面上的投影點：

(e4)根據擬合類型獲取相應的迭代方程式進行迭代計算，如果擬合類型為線或圓，則使用步驟(e3)中獲取的投影點進行迭代計算，如果擬合類型不是線或圓，則直接使用步驟(d)中提取的點云進行迭代計算；

(e5)判斷是否到達預先設定的迭代總次數，如果到達迭代總次數，則執行步驟(e8)，如果沒有到達迭代總次數，執行步驟e(6)；

(e6)根據迭代次數和待測特征元素的點云總數得到該次迭代中的點云數目；

(e7)根據本次迭代的點云數目和相應的迭代方程式擬合特征元素，然后流程轉到步驟(e5)，第一次迭代時，運用最小二乘法進行擬合，不是第一次迭代時，運用擬牛頓算法進行擬合；及

(e8)輸出最后一次迭代擬合成的特征元素。

4.如權利要求3所述的零件形位公差檢測方法，其特征在于，所述步驟(e7)運用擬牛頓算法擬合特征元素包括：

(g0)計算步驟(e4)中獲取的迭代方程式的值f(x)；

(g1)判斷上述計算得到的f(x)是否小于預先設定的擬合精度，如果f(x)小于擬合精度，則結束擬合過程，執行步驟(g6)，如果f(x)大于等于擬合精度，則執行步驟(g2)；

(g2)計算f(x)的下降方向，所述下降方向指使f(x)的值變小的方向；

(g3)判斷是否存在所述下降方向，如果不存在所述下降方向，則結束擬合過程，執行步驟(g6)，如果存在所述下降方向，則執行步驟(g4)；

(g4)計算待測特征元素的點云沿下降方向移動擬合步長D后到標準特征元素的點云的距離f(x-1)；

(g5)判斷步驟(g4)中計算得到的f(x-1)是否小于f(x)，若f(x-1)小于f(x)，則返回步驟(g2)，若f(x-1)不小于f(x)，則返回步驟(g4)，并以f(x-1)的值作為新的f(x)值；及

(g6)輸出擬合成的特征元素。

5.如權利要求4所述的零件形位公差檢測方法，其特征在于，所述擬合精度指擬合標準特征元素和待測特征元素要達到的程度，所述擬合步長指以標準特征元素的點云為基準，為擬合待測特征元素的點云和標準特征元素的點云，每次移動該待測特征元素的點云的距離。