[發明專利]主板測試系統及方法

無效

• 申請號: 200910301601.5
• 申請日: 2009-04-16
• 公開（公告）號: CN101865975A
• 公開（公告）日: 2010-10-20
• 發明（設計）人: 李昇軍;許壽國
• 申請（專利權）人: 鴻富錦精密工業（深圳）有限公司;鴻海精密工業股份有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01B21/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種主板測試系統，包括測試電腦和示波器，其特征在于，該測試電腦通過交換機與控制電腦和示波器相連，該測試電腦包括：

參數設置模塊，用于設置主板的測試參數，所述測試參數包括：待測零件在主板中的坐標位置、待測零件的測試信號序列、每個測試信號需要測試的項目、每個測試項目的標準值及測試結果存儲路徑；

參數獲取模塊，用于當測試開始時，獲取待測零件的測試信號序列及每個測試信號需要測試的項目；

探針定位模塊，用于根據待測零件在主板中的坐標位置向控制電腦發出探針定位指令；

所述控制電腦用于根據該探針定位指令控制機械手臂的探針抓取裝置將示波器的探針定位到主板上的待測零件；

所述測試電腦還包括：

信號測試模塊，用于依次對待測零件的每個測試信號進行測試，獲取示波器采集到的每個測試項目的測試數據；

所述信號測試模塊，還用于根據設定的每個測試項目的標準值對測試數據進行分析，以判斷每個測試項目的測試數據是否在設定的標準值范圍內；及

所述信號測試模塊，還用于當所有測試信號測試完畢時，匯整所有測試數據及分析結果，并將其存儲在設定的測試結果存儲路徑中。

2.如權利要求1所述的主板測試系統，其特征在于，待測零件的測試信號序列包括電壓信號、周期頻率信號及電壓維持高電平的時間。

3.如權利要求1所述的主板測試系統，其特征在于，所述探針定位模塊根據待測零件在主板中的坐標位置向控制電腦發出探針定位指令包括：

根據待測零件在主板中的坐標位置，計算出該待測零件到原點的偏移量，所述的坐標位置是以主板的中心為原點建立坐標系來確定，探針抓取裝置的初始位置定位在坐標系原點位置；及

向控制電腦發出探針定位指令，該探針定位指令包括待測零件到原點的偏移量。

4.如權利要求1所述的主板測試系統，其特征在于，所述探針定位模塊還用于：

當主板中包含兩個以上的待測零件時，如果測試完第一個待測零件后，根據下一個待測零件在主板中的坐標位置，計算出下一個待測零件到當前坐標位置的偏移量；及

向控制電腦發出探針定位指令，該探針定位指令包括待測零件到當前坐標位置的偏移量。

5.一種主板測試方法，其特征在于，該方法包括如下步驟：

于測試電腦中設置主板測試參數，所述測試參數包括：待測零件在主板中的坐標位置、待測零件的測試信號序列、每個測試信號需要測試的項目、每個測試項目的標準值及測試結果存儲路徑；

當測試開始時，測試電腦獲取待測零件的測試信號序列及每個測試信號需要測試的項目；

測試電腦根據待測零件在主板中的坐標位置，通過交換機向控制電腦發出探針定位指令；

控制電腦根據該探針定位指令控制機械手臂的探針抓取裝置將示波器的探針定位到主板上的待測零件；

示波器通過交換機將采集到的每個測試項目的測試數據返回至測試電腦；

測試電腦依次對待測零件的每個測試信號進行測試，根據設定的每個測試項目的標準值對測試數據進行分析，以判斷每個測試項目的測試數據是否在設定的標準值范圍內；及

當所有測試信號測試完畢時，測試電腦匯整所有測試數據及分析結果，并將其存儲在設定的測試結果存儲路徑中。

6.如權利要求5所述的主板測試方法，其特征在于，待測零件的測試信號序列包括電壓信號、周期頻率信號及電壓維持高電平的時間。

7.如權利要求5所述的主板測試方法，其特征在于，所述步驟測試電腦根據待測零件在主板中的坐標位置，通過交換機向控制電腦發出探針定位指令包括：

根據待測零件在主板中的坐標位置，計算出該待測零件到原點的偏移量，所述的坐標位置是以主板的中心為原點建立坐標系來確定，探針抓取裝置的初始位置定位在坐標系原點位置；及

向控制電腦發出探針定位指令，該探針定位指令包括待測零件到原點的偏移量。

8.如權利要求5所述的主板測試方法，其特征在于，還包括步驟：

當主板中包含兩個以上的待測零件時，如果測試完第一個待測零件后，測試電腦根據下一個待測零件在主板中的坐標位置，計算出下一個待測零件到當前坐標位置的偏移量；及

向控制電腦發出探針定位指令，該探針定位指令包括待測零件到當前坐標位置的偏移量。