[發明專利]出入境檢驗檢疫符合性條件的篩選方法

無效

• 申請號: 200910301336.0
• 申請日: 2009-04-03
• 公開（公告）號: CN101527016A
• 公開（公告）日: 2009-09-09
• 發明（設計）人: 戴云徽;韓之俊
• 申請（專利權）人: 江蘇檢驗檢疫質量研究中心
• 主分類號: G06Q10/00
• 分類號: G06Q10/00;G06Q50/00
• 代理公司: 常州市江海陽光知識產權代理有限公司
• 代理人: 蔣全強

1、一種出入境檢驗檢疫符合性條件的篩選方法，其包括：

運用故障模式與影響分析FMEA及排列圖構建出入境檢驗檢疫符合性條件篩選整體模型，即：首先，依據FMEA理論建立出入境檢驗檢疫符合性條件的風險評價模型；然后，根據風險優先系數RPN的大小分析符合性條件的重要性；最后，用Pareto圖依據管理中的二八原理對符合性條件進行篩選，選取目標符合性條件。

2、根據權利要求1所述的出入境檢驗檢疫符合性條件的篩選方法，其特征在于：所述風險優先系數RPN＝S×O×D；

其中，S是嚴重度，是指潛在故障模式發生時，對下道工序、子系統或顧客影響后果的嚴重程度的評價指標，僅使用于故障的后果，要減少故障后果的嚴重度級別，取值在1-10之間；O是發生度，是指某一特定故障起因或機理出現的可能性，取值在1-10之間；D是難檢度，是指發現故障原因的難易性，或指在故障發生后在流入顧客前被發現的難易性，是探測故障模式/原因/機理的能力的指標，取值在1-10之間。

3、根據權利要求2所述的出入境檢驗檢疫符合性條件的篩選方法，其特征在于：基于D-S理論、MSA理論和FMEA理論對所述出入境檢驗檢疫符合性條件篩選整體模型中的發生度、嚴重度與檢出度進行測評，即：首先，對背景符合性條件進行風險因子解析，建立背景符合條件發生度、嚴重度評價指標體系，基于D-S證據理論測評所述發生度和嚴重度，基于測量系統分析理論MSA和FMEA測評所述檢出度。

4、根據權利要求3所述的出入境檢驗檢疫符合性條件的篩選方法，其特征在于：出入境檢驗檢疫符合性條件篩選整體模型包括三層遞級評價結構：

第一層為檢驗檢疫背景符合性條件的風險優先度RPN?Ci，其中：i＝1，2，...，n，表示有n個檢驗檢疫背景符合性條件；

第二層為風險優先度的組成因子Yiq，其中：i＝1，2，...，n；q＝1，2，...，s，表示有s個分目標，Yi1代表風險發生度P3的綜合評價值，Yi2代表風險嚴重度P2的綜合評價值，Yi3代表風險檢出度P3的綜合評價值；

第三層為指標層Xij，代表各風險因子對背景符合性條件發生度(嚴重度)的影響程度；其中：i＝1，2，...，n；j＝1，2，...，m1(m2)；

i＝1，2，...，n，代表該檢驗檢疫對象有n個背景符合性條件；j＝1，2，...，m1(m2)代表該檢驗檢疫對象有m1個發生度影響因子，m2個嚴重度影響因子；l個檢驗檢疫專家所構成的群體對某背景符合性條件發生度給出的模糊評語p1，p2，...，pi，并假設某個專家給出的評判意見不受別的專家意見的影響。