[發明專利]一種數控裝置技術指標的檢測分析裝置無效
| 申請號: | 200910273170.6 | 申請日: | 2009-12-10 |
| 公開(公告)號: | CN101758422A | 公開(公告)日: | 2010-06-30 |
| 發明(設計)人: | 周會成;任清榮;唐小琦;奚長浩;陳吉紅;向華;周向東;王平江;葉伯生;鄒捷 | 申請(專利權)人: | 華中科技大學;武漢華中數控股份有限公司 |
| 主分類號: | B23Q17/00 | 分類號: | B23Q17/00 |
| 代理公司: | 華中科技大學專利中心 42201 | 代理人: | 方放 |
| 地址: | 430074 湖北*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 數控 裝置 技術指標 檢測 分析 | ||
技術領域
本發明屬于數控裝置的測試裝置,具體涉及一種數控裝置技術指標的檢測分析裝置。?
背景技術
目前對數控裝置的技術指標以及其各個模塊功能的綜合評價,一般采用在數控機床上直接加工包含各種幾何特征的綜合試件,用最終加工的試件的幾何尺寸來評判數控裝置的性能。然而影響最終試件幾何尺寸精度的因素很多,除數控裝置本身的技術指標外還有:位置伺服系統誤差、機床機械精度、測試用量具量儀的誤差等。因此,通過在機床上加工試件不能準確地評定數控裝置自身的技術指標。進一步說,因為采取的是工件最終的綜合測量,又無直接檢測數控裝置的測試裝置,當試件加工的精度達不到要求時,往往要經過多次反復調試相關的設備和軟件,這種試切測試的方法將花費很多的工時和費用。當最終確認試件超差時,很難辨別究竟是數控裝置的問題還是其它因素影響。?
目前一些數控裝置的制造廠商按照自身產品的特點,開發的測試儀器具有很強的專用性,如中國兵器科學研究院研制的數控裝置測試平臺,主要是針對綿陽圣維數控有限責任公司開發的圣維數控裝置。該數控裝置測試平臺在進行測試過程中,要求在被測數控裝置的硬件平臺上安裝和運行指定的數控軟件。由于不同廠家生產的不同型號數控裝置的硬件平臺都不相同,其對應的系統軟件平臺也是不一樣的,因此不能保證各款數控裝置都能運行指定的數控軟件。并且,該測試平臺僅能接受被測數控裝置發送的脈沖量信號,不支持模擬量和總線的數字量信號的采集。?該數控裝置測試平臺也沒有對伺服進給傳動機構和機床進行模擬,所以不能調整數控裝置測試平臺的跟隨誤差來完成某些數控裝置重要技術指標的檢測。由上可知,該數控裝置測試平臺僅能對圣維數控系統的部分技術指標進行檢測,不具有通用性和檢測的全面性。?
發明內容
本發明提供一種數控裝置技術指標的檢測分析裝置,解決現有數控裝置技術指標檢測裝置對于各個廠商生產的數控裝置不能通用,以及所檢測分析的數控裝置技術指標不夠全面的問題。?
本發明的一種數控裝置技術指標的檢測分析裝置,包括數據接口、參數設置模塊、數據處理模塊、模擬反饋模塊、分析評價模塊、顯示模塊和測試代碼庫,其特征在于:?
所述數據接口接收數控裝置和模擬反饋模塊輸出的指令數據,將其輸出到數據處理模塊,所述指令數據包括位控指令數據和邏輯指令數據,位控指令數據包括機床各軸的位置信息,邏輯指令數據包括可編程邏輯控制器PLC的控制信息、報警信息;?
所述參數設置模塊,設置數控裝置待測項目,根據待測項目類別,設置相關模塊的參數:對模擬反饋模塊的數學仿真模型設置伺服驅動的控制參數、電機和機床傳動機構的性能配置參數;對測試代碼庫設置待測項目的標準測試用G代碼中加工試件相關參數;對顯示模塊設置檢測和評價結果的輸出方式;?
所述數據處理模塊將接收的指令數據中的位控指令數據分別輸出到模擬反饋模塊和顯示模塊;并對接收的指令數據進行處理,將得到的檢測結果分別輸出到分析評價模塊和顯示模塊;?
所述模擬反饋模塊,根據數據處理模塊輸出的位控指令數據,建立?數學仿真模型,模擬數控系統中伺服驅動、電機和機床的加工特性,所得到的仿真指令數據反饋給數據接口,用于待測項目的檢測;?
所述分析評價模塊,將數據處理模塊輸出的檢測結果與測試代碼庫中標準的加工數據進行對比,并和各個待測項目的行業標準進行對比,得到評價結果輸出到顯示模塊,同時,實時記錄并保存檢測結果和評價結果;?
所述顯示模塊,通過圖或表的形式顯示數據處理模塊輸出的檢測結果和分析評價模塊輸出的評價結果;根據數據處理模塊輸出的位控指令數據顯示加工輪廓曲線、跟蹤誤差曲線和機床加工的三維仿真圖形;?
所述測試代碼庫,向分析評價模塊提供各個待測項目的標準測試用G代碼以及標準測試用G代碼中加工試件相關參數,同時向數控裝置提供各個待測項目的標準測試用G代碼。?
所述的數控裝置技術指標的檢測分析裝置,其特征在于,所述參數設置模塊中:?
設置數控裝置待測項目,包括:?
A.可靠性指標:平均無故障時間MTBF、平均故障修復時間MTTR;?
B.數控裝置的控制通道數,每通道最大聯動軸數;?
C.插補周期,程序段處理速度,前瞻段數,程序容量;?
D.計算分辨率:最大編程尺寸與最小輸出脈沖單位之比;?
E.插補功能:直線、圓弧、非均勻有理B樣條(NURBS)曲線插補和空間任意曲面插補,A軸、B軸和C軸線性插補;?
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