[發(fā)明專利]軸承多級(jí)熱熔斷傳感器及其所構(gòu)成的檢測(cè)電路和檢測(cè)方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 200910266713.1
• 申請(qǐng)日: 2009-12-30
• 公開（公告）號(hào): CN101762337A
• 公開（公告）日: 2010-06-30
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 何鴻云;王玉松;袁萊;段云波
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 成都運(yùn)達(dá)創(chuàng)新科技有限公司
• 主分類號(hào): G01K7/00
• 分類號(hào): G01K7/00;G01R19/00
• 代理公司: 暫無(wú)信息
• 代理人: 暫無(wú)信息

1.軸承多級(jí)熱熔斷傳感器所構(gòu)成的檢測(cè)電路，其特征在于：主要由單片 機(jī)MCU、以及與該單片機(jī)MCU相連接的一個(gè)以上的檢測(cè)支路構(gòu)成，每個(gè)檢 測(cè)支路與一個(gè)熱熔斷器相連接；每個(gè)檢測(cè)支路均包括光電耦合器U1和光電耦 合器U2，光電耦合器U1的一個(gè)輸入端與電阻R1的一端相連，其另一個(gè)輸入 端則外接直流電源VCC1，光電耦合器U1的一個(gè)輸出端經(jīng)電阻R2后與晶體 管Q1的基極相連接，其另一個(gè)輸出端則接地；光電耦合器U2的一個(gè)輸出端 分成兩路，一路與電阻R3的一端相連接，另一路則經(jīng)電阻R4后外接直流電 源VCC1，其另一個(gè)輸出端接地，光電耦合器U2的輸入端則直接并聯(lián)在電容 C2的兩端，且該電容C2的一端接地，另一端依次連接電阻R5、電容C1和 晶體管Q1的集電極，晶體管Q1的發(fā)射極則直接外接直流電源VCC2，所述 熱熔斷器的兩端則分別介于電容C1的兩端；所述每個(gè)檢測(cè)支路中的電阻R1 的另一端及電阻R3的另一端分別與單片機(jī)MCU的CT_n端和FB_n端相連接形 成第n級(jí)溫度檢測(cè)電路，其中，n的取值≥1。

2.基于權(quán)利要求1所述的軸承多級(jí)熱熔斷傳感器所構(gòu)成的檢測(cè)電路的檢 測(cè)方法，其特征在于，主要包括以下步驟：

(a)單片機(jī)MCU上電后，分別將其CT₁、CT₂、……、CT_n端分別初始 化為輸出端并輸出低電平，其FB₁、FB₂……、FB_n分別端初始化為輸入端；

(b)判斷輸入端FB_n是否為高電平，是，則發(fā)出與該n值相對(duì)應(yīng)的軸溫 危險(xiǎn)告警級(jí)別，并重復(fù)執(zhí)行該步驟；否，則執(zhí)行步驟(c)；

(c)判斷輸入端FB_n-1是否為高電平，是，則發(fā)出與該n-1值相對(duì)應(yīng)的軸 溫危險(xiǎn)告警級(jí)別，并返回步驟(b)；否，則繼續(xù)判斷FB_n-2是否為高電平， 是，則發(fā)出與該n-2值相對(duì)應(yīng)的軸溫危險(xiǎn)告警級(jí)別，并返回步驟(b)；否， 則繼續(xù)判斷FB_n-3是否為高電平，如此循環(huán)直至判斷FB₁是否為高電平，是， 則發(fā)出與該1值相對(duì)應(yīng)的軸溫危險(xiǎn)告警級(jí)別，并返回步驟(b)，否，則表示 軸溫正常。