[發明專利]一種EMI濾波器共模/差模濾波特性及其耦合度特性測試方法

有效

• 申請號: 200910264400.2
• 申請日: 2009-12-18
• 公開（公告）號: CN101713804A
• 公開（公告）日: 2010-05-26
• 發明（設計）人: 趙陽;王恩榮;陸婋泉;褚家美;顏偉;董穎華;李世錦;聞楓
• 申請（專利權）人: 南京師范大學
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 南京知識律師事務所 32207
• 代理人: 程化銘

技術領域

本發明涉及的是一種EMI濾波器共模/差模濾波特性及其耦合度特性測試方 法，屬于傳導電磁兼容噪聲濾波器特性分析與測量的技術領域。

背景技術

EMI濾波器是抑制電磁干擾的有效措施，由于電磁干擾噪聲分為共模噪聲和差 模噪聲兩種，因此EMI濾波器也分為共模濾波器和差模濾波器，共模濾波器和差 模濾波器在電路連接方式上有著明顯不同，共模濾波器并接在火線-地線和中線- 地線之間，差模濾波器并接在火線-中線之間，而通常所說的EMI濾波器是同時包 含共模濾波器和差模濾波器的整體結構。傳統的EMI濾波器特性測量存在以下三 點不足：第一，傳統的EMI濾波器特性測量是利用頻譜儀的插入損耗測量功能， 只能分別針對單獨設計好的共模濾波器或差模濾波器進行濾波特性測量，一旦將 共模濾波器和差模濾波器合成為一個整體結構后，則無法進行模態噪聲的濾波效 果測量，即傳統的濾波器特性測量法只對濾波器的設計者具有可操作性，而對于 用戶來說很難通過測試得到EMI濾波器的濾波特性。第二，傳統方法不能測量共 (差)模濾波器輸出受到差(共)模輸入的影響情況，即無法衡量共模與差模濾 波器之間的相互關系。第三，使用頻譜儀法只能得到濾波器參數的幅頻特性，而 無法得到相頻特性，而在實際情況下，濾波器特性參數的相頻特性對濾波效果影 響很大。傳統的EMI濾波器特性測量的上述缺點將給用戶選擇合適的濾波器帶來 很大困難，因此，準確進行整體EMI濾波器特性測量，并找到衡量共模與差模濾 波器之間相互關系的分析與測試方法，同時獲取濾波器特性參數的相位信息對于 電磁干擾的有效抑制有著重要意義。

發明內容

本發明提出一種針對EMI濾波器共模/差模濾波特性及其耦合度特性的測試方 法，通過耦合度特性衡量共(差)模濾波器輸出受到差(共)模輸入的影響情況， 并實現了整體EMI濾波器的特性測量和相位提取。

共模和差模信號在單相EMI濾波器輸入輸出端的定義如圖1所示，其中和分別為濾波器輸入端火線、輸入端中線、輸出端火線、輸出端 中線和地線電位，和分別為濾波器輸入端共模、輸入端差模、 輸出端共模和輸出端差模電壓。共模、差模電壓和濾波器端口電壓的關系可以表 示為：

V·CM=(V·L-G+V·N-G)/2---(1)]]>

V·CM=V·L-G-V·N-G---(2)]]>

為定量分析EMI濾波器對共模噪聲和差模噪聲的抑制效果，定義濾波器的共 模濾波特性和差模濾波特性其定義式為：